Burn-in : Teradyne intègre les tests de fiabilité à Titan HP
Les accélérateurs d’IA destinés aux centres de données doivent désormais atteindre des niveaux de fiabilité longtemps réservés à l’automobile, alors que la défaillance d’une seule puce dans un rack en exploitation coûte cher. Annoncée le 12 octobre 2026 depuis North Reading (Massachusetts), la nouvelle solution de Teradyne intègre des capacités avancées de burn-in à la plateforme Titan HP. Les fabricants de semi-conducteurs peuvent ainsi combiner test au niveau système et tests de contrainte de fiabilité sur un même équipement, avec à la clé une réduction des coûts de test, de l’espace occupé en usine et des délais de mise sur le marché.
Du four de burn-in au contrôle thermique par dispositif
Dans un flux classique, le burn-in consiste à placer les composants plusieurs heures dans des batteries de fours dédiés, à température d’air contrôlée, avant les tests fonctionnels. Titan HP change d’approche : chaque dispositif est maintenu à sa température de jonction cible pendant l’exécution de charges de travail réalistes, ce qui permet d’ajuster finement les contraintes appliquées et de piloter la température individuellement.
Le même système sert au test au niveau système (SLT), qui évalue les puces dans leurs conditions de fonctionnement, et aux tests de fiabilité, ce qui mutualise l’investissement. En mode fiabilité, chaque dispositif dispose d’un enregistrement unique qui retrace l’historique complet des tests et des contraintes subies.
Une architecture asynchrone pour les composants à forte puissance
Le contrôle thermique est indépendant pour chaque site de test et s’adapte aux caractéristiques thermiques et aux zones d’alimentation du dispositif. Associé à une capacité élevée de fourniture de puissance par composant, il permet de maintenir les conditions de stress requises, y compris pour des puces dont la consommation et la dissipation mettent en difficulté les procédés à base de fours.
L’architecture asynchrone à emplacements permet de charger et de tester chaque slot indépendamment. Un cycle de contrainte prolongé sur un dispositif ne pénalise pas le reste du système, et la maintenance d’un site de test peut intervenir sans arrêt global de l’équipement.
Logiciel Atlas et feuille de route en puissance
Les programmes de test s’exécutent sous Atlas, la plateforme logicielle de Teradyne. Les ingénieurs peuvent y importer des programmes existants ou en développer de nouveaux, puis les porter vers d’autres systèmes SLT du fabricant. La feuille de route en puissance disponible par dispositif est conçue pour suivre les besoins attendus des futurs accélérateurs d’IA, afin de conserver la même plateforme à mesure que les consommations augmentent.
Jason Zee, vice-président et directeur général de la division Integrated Systems Test, souligne que le transfert des tests de contrainte vers une plateforme SLT doit à la fois réduire les coûts, accélérer la mise sur le marché et fournir des données plus complètes sur chaque composant livré.
Une réponse aux contraintes de production des OSAT
Méthode standard dans l’automobile et pour les dispositifs à haute fiabilité, le burn-in s’étend désormais aux accélérateurs d’IA et aux composants d’infrastructure cloud. Cette demande intervient alors que l’investissement, la surface en usine et la manutention exigés par les batteries de fours sont sous pression, tant dans la production en grand volume que sur les sites OSAT (Outsourced Semiconductor Assembly and Test).
Ces capacités complètent le portefeuille de test de Teradyne, qui couvre la chaîne des dispositifs d’IA du wafer au centre de données : wafer probe, test des boîtiers, SLT et désormais tests de fiabilité. La plateforme Titan HP avec burn-in est disponible et déjà déployée en production.
Pour les équipes de test qui qualifient des accélérateurs d’IA ou des composants automobiles, cette intégration ouvre la voie à un flux de fiabilité sans batteries de fours dédiées. Si vos dispositifs dépassent les limites thermiques des procédés conventionnels, l’approche par site de test mérite une évaluation.
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