NI améliore les capacités de TestStand pour le test de semi-conducteurs
Avec le module TestStand Semiconductor, les ingénieurs peuvent à présent programmer des systèmes de caractérisation calqués sur le modèle de programmation déployé en usine sur le Semiconductor Test System (STS), ce qui permet de réduire le temps nécessaire à la corrélation des mesures.
Reposant sur TestStand, le logiciel de gestion de tests standard de l’industrie utilisé par plus de 10 000 développeurs à travers le monde, le module TestStand Semiconductor donne également la possibilité aux utilisateurs de développer leurs propres systèmes empilables en baie pour le test en production de semi-conducteurs, en détournant la technologie PXI et TestStand de l’architecture « tête d’essai » conventionnelle du STS.
« NI continue à réduire les coûts de test de semi-conducteurs avec des logiciels ouverts et du matériel modulaire », déclare Ron Wolfe, Vice-Président Test de semi-conducteurs chez NI. « En 2014, nous avons introduit le STS sur le marché, qui a enrichi la plate-forme PXI ouverte avec des fonctionnalités spécifiques aux semi-conducteurs. Aujourd’hui, il est possible d’optimiser l’élaboration de tests en s’appuyant sur le module TestStand, spécialement conçu pour répondre aux besoins de tests de semi-conducteurs, de la caractérisation à la production. »
Le module TestStand Semiconductor offre des fonctionnalités spécifiques au test de semi-conducteurs qui engendrent une réduction significative des coûts de développement et une augmentation de la capacité de production. Ces fonctionnalités incluent :
– Une programmation dynamique multisite pour réutiliser du code sur plusieurs sites de test, selon le besoin ;
– Un éditeur de mappage de broches incluant la technologie PXI et des instruments tiers ;
– Un processeur de résultats au format STDF pour l’enregistrement de résultats de tests paramétriques standard.
Le module TestStand Semiconductor Module enrichit encore la gamme NI dédiée au test de semi-conducteurs, qui comprend déjà le STS, des centaines d’instruments hautes performances au format PXI et un logiciel performant intégrant TestStand et LabVIEW. Les fabricants de semi-conducteurs s’appuient sur l’approche basée plate-forme de NI pour réduire les coûts et accroître les débits de tests RF et à signaux mixtes.
www.ni.com/teststand/semiconductor
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