Rohde & Schwarz organise le RF Testing Innovations Forum 2026 pour accompagner les ingénieurs face aux défis RF
Dans un contexte de forte croissance des communications satellitaires et des systèmes de défense, les exigences en matière de tests RF continuent de s’intensifier. Pour répondre à ces enjeux, Rohde & Schwarz organise la seconde édition de son RF Testing Innovations Forum, un événement virtuel qui se tiendra le 20 mai 2026.
Ce forum réunira des experts de l’industrie afin de partager des solutions concrètes et des méthodologies avancées pour les applications RF les plus exigeantes, couvrant notamment les domaines du sub‑THz, de la caractérisation de composants et de la validation des performances.
Accompagner la montée en complexité des systèmes RF
L’évolution des technologies RF, notamment dans les secteurs aéronautique et défense, impose de nouvelles contraintes aux ingénieurs. L’augmentation des fréquences, la complexité des architectures et les exigences de performance nécessitent des méthodes de test plus précises et plus avancées.
Le forum abordera ces problématiques à travers des présentations d’experts issus de sociétés comme Dassault Systèmes, FormFactor et Focus Microwaves, aux côtés de Rohde & Schwarz.
Accélérer la mise sur le marché des composants RF
L’une des sessions clés portera sur les moyens d’optimiser la commercialisation des composants RF, en lien avec la croissance des applications satellitaires et de défense. L’analyse des architectures RF permettra de définir les exigences de test adaptées et de réduire les délais de validation.
Cette approche vise à aider les ingénieurs à concilier performance technique et rapidité de développement.
Mesures de phase et calibration : des paramètres critiques
Le forum mettra également en lumière l’importance des mesures de phase absolue sur une large bande de fréquences, souvent sous‑estimées. Les participants pourront découvrir différentes stratégies de calibration de phase, ainsi que des études de cas liées à l’utilisation de générateurs de peignes et à la validation de convertisseurs de fréquence.
Ces aspects sont essentiels pour garantir la cohérence des mesures dans des environnements RF complexes.
Mesures sur wafer et montée en fréquence vers le sub‑THz
Une démonstration en direct présentera les bonnes pratiques pour les mesures S sur wafer en bande D, jusqu’à 170 GHz, à l’aide d’un analyseur de réseau vectoriel R&S ZNA. Cette session illustrera les défis liés à la précision, à la stabilité et à la reproductibilité des mesures à très haute fréquence.
Ces capacités sont cruciales pour la caractérisation des dispositifs de nouvelle génération.
Validation du bruit et performance des systèmes RF
La conférence abordera également la mesure des paramètres de bruit jusqu’à 67 GHz, un enjeu déterminant pour les amplificateurs à faible bruit (LNA). Ces composants jouent un rôle clé dans la sensibilité globale des systèmes RF, notamment dans les applications satellitaires et quantiques.
Les méthodes d’analyse présentées permettront d’améliorer la précision des mesures et la compréhension des performances système.
Pour les ingénieurs RF et les spécialistes du test et de la mesure, ce forum constitue une opportunité de renforcer leurs compétences face aux défis technologiques actuels. Il offre un accès direct à des méthodes avancées et des outils de pointe, essentiels pour concevoir et valider les systèmes RF de nouvelle génération.
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