VNA quatre ports : Emerson lance le NI PXIe-5633
À mesure que les systèmes sans fil deviennent distribués, définis par logiciel et fortement axés sur les antennes, le test RF ne peut plus se limiter à la validation de composants isolés : il faut caractériser les interactions entre multiples chemins RF et radios synchronisées. Emerson annonce de nouvelles capacités pour sa plateforme NI PXI : l’analyseur de réseau vectoriel quatre ports NI PXIe-5633 et des améliorations logicielles axées sur la synchronisation pour le transcepteur de signaux vectoriels (VST) NI PXIe-5860. L’ensemble cible les applications MIMO et la mesure de paramètres S multiports.
Un VNA PXI à quatre ports
Le NI PXIe-5633 étend à quatre ports les capacités d’analyse de réseau vectoriel de NI. Il répond à des architectures de dispositifs plus complexes et aux nouvelles exigences de mesure multiport, alors que les systèmes reposent de plus en plus sur des chemins RF multiples et des architectures distribuées.
Les ingénieurs peuvent ainsi caractériser le comportement de systèmes entiers plutôt que de composants pris isolément. Ce besoin découle directement de l’évolution des systèmes sans fil, qui reposent sur des radios synchronisées et des architectures à antennes multiples, dont les performances dépendent des interactions entre voies.
Synchronisation et MIMO pour le PXIe-5860
Côté VST, les améliorations logicielles du NI PXIe-5860 prennent en charge des flux de travail MIMO, multivoies et sensibles à la synchronisation temporelle, pour répondre aux défis des tests sans fil de nouvelle génération.
Pour Kevin Schultz, directeur de la technologie de NI au sein de l’activité test et mesure d’Emerson, les ingénieurs ont besoin d’architectures de test qui évoluent aussi vite que les technologies qu’ils valident. Ces nouveautés traduisent, selon lui, la volonté d’Emerson d’aider à construire des infrastructures de test adaptables, capables de prendre en charge la validation au niveau système et les futures innovations du sans-fil.
Paramètres S et mesures modulées sur une seule connexion
La caractérisation des paramètres S peut être menée parallèlement aux mesures RF modulées via une seule connexion RF. Réunir analyse de réseau et mesures modulées dans un même système PXI piloté par logiciel réduit le nombre d’instruments et de configurations distincts, tout en conservant une approche cohérente de l’automatisation.
La plateforme vise ainsi à étendre les flux de mesure automatisés, de la validation de conception jusqu’à la production, avec un système évolutif et connecté par logiciel. Un même investissement matériel peut alors accompagner un produit sur plusieurs phases de son cycle de développement.
Une démonstration MIMO 4×4 à l’European Microwave Week
Emerson a présenté ces capacités sur son stand A40B lors de l’European Microwave Week, avec une démonstration MIMO 4×4 associant le NI PXIe-5860 et le VNA quatre ports.
Les applications visées couvrent la validation de semi-conducteurs, la recherche en communications sans fil, l’aérospatial et la défense, ainsi que les autres technologies RF reposant sur des architectures multi-antennes, multivoies et définies par logiciel.
Pour vous qui validez des front-ends multi-antennes ou des systèmes MIMO, le PXIe-5633 permet de réunir paramètres S quatre ports et mesures modulées dans un même châssis PXI. La consolidation des instruments sera à évaluer au regard de vos bancs actuels.
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