Test mémoire : Teradyne lance la plateforme Magnum E2
Sous l’effet de l’IA, les mémoires DRAM et flash montent en vitesse et adoptent des interfaces à plus de canaux et la signalisation PAM3, afin de raccourcir l’entraînement et de réduire la latence d’inférence. Les systèmes de test doivent suivre avec davantage de broches, un parallélisme accru et la prise en charge des signaux NRZ et PAM3, sans dégrader l’intégrité du signal. Teradyne annonce Magnum E2, un système de test mémoire haute vitesse destiné aux technologies LPDDR6, DDR6, GDDR7 et flash NAND.
L’architecture Near-DUT au service de l’intégrité du signal
Magnum E2 repose sur l’architecture Near-DUT Test (NDT) de Teradyne, déjà au cœur de la plateforme Magnum EPIC largement déployée. Les instruments numériques sont placés à proximité du dispositif sous test afin de préserver l’intégrité du signal et la marge des signaux dynamiques, qui tend à se réduire dans les architectures conventionnelles.
Le système couvre aussi bien les essais de développement de nouveaux composants que le test de production, de la qualification jusqu’aux grands volumes, sur une plateforme matérielle et logicielle commune. Les mêmes équipements et environnements logiciels peuvent ainsi servir de la caractérisation des premiers échantillons jusqu’au test en série.
NRZ, PAM3 et PAM4 sur une plateforme commune
Magnum E2 prend en charge les signaux haute vitesse NRZ, PAM3 et PAM4, avec un générateur de motifs flexible et programmable. Les standards DRAM et NAND actuels et émergents peuvent ainsi être traités sans remplacer le système de test.
Une capacité de test logique intégrée accompagne par ailleurs la convergence entre test mémoire et test logique, ce qui permet de regrouper des étapes et de simplifier les programmes de test.
La mémoire, composant critique des accélérateurs IA
Pour Ben Han, président de la division Memory Test de Teradyne, la mémoire intégrée à un accélérateur d’IA est aussi essentielle aux performances du système que la puce de calcul, et les exigences de test n’ont jamais été aussi complexes. Avec l’arrivée de DRAM avancées et de flash NAND rapide pour les SSD d’entreprise, les fabricants ne peuvent se permettre de choisir entre intégrité du signal et débit.
Magnum E2 vise précisément à supprimer ce compromis, avec une plateforme qualifiable dès aujourd’hui et évolutive selon les besoins futurs.
Des centres de données jusqu’à l’edge
Teradyne positionne Magnum E2 sur l’ensemble des mémoires de nouvelle génération, des centres de données dédiés à l’IA jusqu’à l’edge computing. Les fabricants doivent tester à des vitesses toujours plus élevées, avec des signaux d’interface flexibles, davantage de parallélisme et une prise en charge plus large des protocoles.
L’objectif est de leur fournir une base matérielle capable d’accompagner plusieurs générations de technologies mémoire, en préservant les investissements dans les cellules de test existantes. La filiation avec Magnum EPIC doit aussi faciliter la reprise des programmes et des savoir-faire déjà acquis par les équipes de test.
Pour vous qui qualifiez ou produisez des DRAM LPDDR6, DDR6, GDDR7 ou de la NAND rapide, Magnum E2 réunit signalisation PAM3/PAM4 et architecture Near-DUT sur une base commune avec Magnum EPIC. La convergence avec le test logique peut aussi simplifier vos flux de test.
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