Réflectomètre haute résolution pour des analyses rapides et précises
Yokogawa Test & Measurement Corporation a dévoilé son réflectomètre haute résolution AQ7420, basé sur la technologie OLCR (optical low-coherence reflectometry). Parfait pour analyser la structure interne des modules optiques et visualiser les microfissures dans les connecteurs optiques, il offre une résolution spatiale de 40 µm et une sensibilité exceptionnelle de réflexion arrière atteignant -100 dB ou moins, sans bruit parasite. Avec l’unité de tête de capteur optionnelle, il permet également de mesurer simultanément la perte d’insertion et la rétrodiffusion optique, ce qui le rend très efficace et économique pour diverses applications optiques.
Une caractéristique importante est un temps de mesure plus rapide. Par rapport au produit de génération précédente (AQ7410), le temps de mesure du nouvel AQ7420 est environ 50% plus rapide, soit environ 6 secondes contre 12 secondes auparavant.
Le développement de l’AQ7420 a été motivé par les besoins des clients et les tendances du marché, en particulier dans le domaine de la photonique en silicium et la production de connecteurs optiques. Yokogawa a identifié des lacunes dans les solutions existantes, telles que la réduction du bruit parasite et la mesure simultanée de la réflexion arrière et de la perte d’insertion. Ainsi, le réflectomètre AQ7420 a été conçu pour répondre à ces exigences, offrant une meilleure stabilité des formes d’onde et un temps de mesure plus rapide.
Disponible en deux modèles (longueur d’onde unique 1310 nm et double longueur d’onde 1310/1550 nm), l’AQ7420 est également compatible avec divers accessoires, tels qu’un logiciel de contrôle pour Windows 11, un capteur de mesure de perte et des codes maîtres pour différents types de connecteurs.
Données techniques :
-
Résolution spatiale : 40 µm
-
Sensibilité de réflexion arrière : Jusqu’à -100 dB
-
Incertitude de mesure de réflexion arrière :
-
Plage normale (-14,7 à -85 dB) : ±3 dB
-
Plage haute sensibilité (-50 à -90 dB) : ±3 dB
-
Plage haute sensibilité (-90 à -100 dB) : ±5 dB
-
Plage de mesure des pertes d’insertion : 0 à 10 dB (avec tête capteur en option)
-
Incertitude de mesure des pertes d’insertion : ±0,02 dB
-
Options de longueur d’onde :
-
1310 nm
-
1310 nm et 1550 nm
-
-
Mécanisme de contrôle de polarisation : Élimine la dépendance à la polarisation
-
Dimensions : 430 mm (L) x 132 mm (H) x 350 mm (P) (hors protecteur et poignée)
-
Poids : Environ 8 kg
Principaux marchés cibles :
-
Entreprises et organisations menant des recherches en photonique sur silicium
-
Fabricants exploitant des lignes de production pour connecteurs et composants optiques
-
Toute entreprise impliquée dans l’analyse de composants optiques défectueux
Applications :
-
Détection de la quantité et de la localisation des réflexions à l’intérieur des connecteurs optiques et des modules optiques avec une grande précision
-
Visualisation des microfissures à l’intérieur des connecteurs optiques qui ne peuvent pas être observées avec les techniques de mesure de perte
Si vous avez apprécié cet article, vous aimerez les suivants : ne les manquez pas en vous abonnant à :
