Modules déportés pour solutions de test BER PAM4 32 GBaud
Afin de répondre aux besoins pour les débits de communication toujours plus élevés entre les serveurs et les appareils de réseau, le nouveau standard Ethernet 200 GbE/400 GbE utilisera de la modulation d’amplitude d’impulsion PAM (Pulse Amplitude Modulation) afin d’augmenter le débit de transmission tout en gardant la vitesse d’horloge. Ainsi la génération de signaux tests PAM4 pour des débits très élevés avec des amplitudes importantes, plus la capacité de test du taux d’erreurs binaires (BER) seront requis pour s’assurer des performances des tout derniers composants ou modules qui seront utilisés dans ces prochains moyens de communication haut-débits.
L’analyseur de qualité du signal MP1800A est un testeur de taux d’erreur (BERT), de type modulaire, permettant la mesure de composants ou modules haut-débits et multicanaux jusqu’à 64 Gbit/s et 64 GBauds en PAM4. Récemment mis au point, les équipements G0375A pour le générateur et G0376A pour la détection sont des modules déportés qui viennent s’ajouter à cet analyseur pour offrir une solution optimale pour les tests définies dans les standards 200 GbE/400 GbE et CEI-56G.
En associant le module déporté G0375A avec le générateur de séquences (PPG) MU183020A 28 G/32 Gbit/s, il est possible de convertir des signaux NRZ 32 Gbit/s en un signal PAM4 en disposant d’une amplitude réglable sur les trois niveaux jusqu’à 4,4 Vp-p (diff., max.). Ce niveau élevé permet d’éviter l’utilisation d’un driver externe.
Pour compléter le système afin de réaliser des tests BER complets, le module déporté G0376A qui intègre les fonctions de démodulation du PAM4 ainsi que d’accentuation CLTE (continuous-time linear equalizer), se connecte au module de détection d’erreur MU183040B de haute sensibilité 28 G/32 Gbit/s.
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