Extension de logiciel pour le test de semi-conducteurs forte puissance
Supportant les probers semi-automatiques et automatiques, le logiciel ACS contrôle plusieurs instruments dans un seul environnement de test, optimisé pour garantir flexibilité, rapidité et productivité dans le test et l’analyse. Une interface graphique intuitive simplifie la configuration des instruments, la définition des paramètres de mesure, l’exécution de mesures I-V et l’affichage des résultats.
La version 5.0 intègre, en plus, des bibliothèques de composants forte puissance à utiliser avec les SourceMeters 2651A jusqu’à 50 A ,ou 100 A avec la mise en parallèle de deux modèles, et 2657A jusqu’à 3 000 V qui, pour caractériser des composants de puissance multi-pins, peuvent être utiliser avec les SourceMeters de la série 2600B ou l’analyseur de paramètres 4200-SCS pour accélérer et simplifier la création de modules et de séquences de tests de composants semi-conducteurs de puissance tels que les MOSFET de puissance, les IGBT, les BJT, les diodes, etc. Le support et la configuration de ces modèles fortes puissances permettent aux utilisateurs de connecter rapidement ces instruments à un PC, de confirmer la connectivité et de démarrer les tests. Les instruments de la série 2600 équipés du bus de communication TSP-Link, s’appuyant sur la technologie de processeur de script de test embarqué (TSP) pour un environnement multiprocesseurs sont également supportés pour garantir un meilleur débit en utilisation parallèle, tout en accélérant et en simplifiant le développement de projets de test. Des exemples de projets de tests de fiabilité au niveau Wafer en forte tension (WLR) fournissent aux utilisateurs un très bon point de départ pour créer ou modifier rapidement de nouveaux tests.
Enfin, cette version supporte les mesures C-V avec polarisation ±200 V en utilisant le package C-V du modèle 4200-CVU-PWR de l’analyseur de paramètres modèle 4200-SCS pour offrir une large gamme de fonctionnalités de mesure I-V et C-V pour une caractérisation complète des composants de puissance des semi-conducteurs.
www.keithley.com/products/semiconductor/characterizationsoftware
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