Contrôleur embarqué PXI associé à un châssis à bande passante plus large
Les utilisateurs peuvent tirer parti de la souplesse de la plate-forme PXI afin de remplacer les contrôleurs de génération précédente par le matériel NI PXIe-8880 et ainsi booster les performances de leurs applications de test et de mesure.
« Ces 20 dernières années, nous avons constaté un passage progressif de l’instrumentation traditionnelle à la plate-forme PXI pour le test automatique, » souligne Jessy Cavazos, responsable industriel du segment Instrumentation et Mesure chez Frost & Sullivan. « Avec l’intégration de la technologie des processeurs Intel Xeon, nous sommes convaincus que l’adoption du PXI ne peut qu’augmenter pour les applications hautes performances. »
La collaboration entre NI et Intel a abouti à la mise sur le marché des processeurs Intel Xeon, dont les performances rivalisent avec celles des processeurs serveurs. Le contrôleur embarqué intègre huit cœurs, jusqu’à 24 Go de mémoire DDR4 et 24 lignes de connectivité Gen3 PCI Express vers le fond de panier. Pour les ingénieurs et scientifiques, cela représente une puissance de traitement et une bande passante deux fois plus élevées, comparées aux contrôleurs de génération précédente. Par ailleurs, le nouveau châssis 18 emplacements intègre la technologie Gen 3 PCI Express avec huit lignes par emplacement pour une bande passante système totale de 24 Go/s, ce qui permet aux systèmes de test et de mesure de s’adapter à toutes les évolutions futures.
« L’utilisation des tous derniers processeurs Intel Xeon marque un tournant dans notre collaboration avec NI, » déclare Shahram Mehraban, directeur du développement de l’Internet des Objets Industriels chez Intel. « En effet, l’Internet des Objets nécessite la plus grande puissance de traitement possible pour réduire le temps de mise sur le marché et diminuer le coût des tests. La réussite de ce projet repose essentiellement sur l’approche PXI de NI. »
Alliée au logiciel de conception de systèmes LabVIEW, la combinaison de ce châssis et du contrôleur PXI de nouvelle génération permet aux ingénieurs et scientifiques de convertir 24 Go/s de données de test et de mesure en informations directement exploitables.
www.ni.com/white-paper/52566/fr/
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