Analyseurs dédiés à la caractérisation de semi-conducteurs de faible puissance
La caractérisation de composants semi-conducteurs avancés et l’évaluation de dispositifs faible puissance sont des tâches complexes nécessitant que les ingénieurs mesurent des courants dynamiques à haut débit (plus de 1 MHz) et de faible niveau (moins de 1 μA). Toutefois, la méthodologie existante pour cette mesure souffre de nombreux désagréments, à savoir un bruit important, des chutes de tension, une dynamique limitée, des problèmes de bande passante. De ce fait, il est fréquent que le courant dynamique de faible niveau ne soit pas détecté et donc pas mesuré.
Surmontant ces contraintes, cet analyseur rend possible la mesure simultanée de signaux de courant à la fois large bande et de faible niveau sans avoir à recourir à plusieurs appareils. Il est composé d’un châssis équipé d’un écran WXGA de 14,1 pouces et de capteurs de courant spécifiquement dédiés aux mesures précises des formes d’onde de courant. Il est doté d’une dynamique de 14 ou 16 bits, avec une bande passante maximale de 200 MHz et une fréquence d’échantillonnage élevée de 1 Géch/s. Les capteurs de courant à faible bruit et large bande prennent en charge des mesures de courant dynamique comprises entre 10 A et 100 pA.
Avec son interface utilisateur graphique, son écran tactile multipoint et son logiciel de mesure et d’analyse avancées, il peut mesurer et analyser bien plus facilement et efficacement les courants de faible niveau, auparavant si difficiles à détecter.
« Le nouvel analyseur CX3300 de Keysight est le fruit d’années de recherche et constitue la réponse directe aux besoins de nos clients cherchant à mesurer des courants dynamiques de faible niveau sans pour autant modifier la largeur de la bande passante, » indique Masaki Yamamoto, directeur général de la Division Wafer Test Solutions de Keysight. « Grâce au CX3300, qui permet de mesurer des courants dynamiques à large bande et de faible niveau, nous faisons un grand bond en avant dans notre capacité à répondre aux besoins de nos clients. En plus de compléter le portefeuille d’instruments Keysight, ce nouvel analyseur offre à nos clients une solution plus complète pour l’analyse de composants semi-conducteurs de faible puissance. »
Avec cet analyseur, les chercheurs et ingénieurs peuvent désormais mesurer des courants transitoires, même lorsque la largeur d’impulsion est très réduite (moins de 100 ns). Les formes d’onde du courant absorbé peuvent également être clairement capturées à tout moment, que le dispositif soit en mode veille / pause ou actif. En étant en mesure de voir clairement la manière dont un dispositif absorbe la puissance, les ingénieurs sont plus à même d’évaluer quantitativement et de réduire la puissance / le courant absorbés par un dispositif.
Outre la mesure de courants dynamiques, cet instrument peut également être utilisé comme outil de débogage, autorisant une évaluation approfondie et précise au cours de la phase de R&D. Ainsi utilisé, il accroît l’efficacité de la R&D et accélère le processus de développement grâce à des délais d’exécution plus courts. Enfin, grâce à lui, les ingénieurs peuvent rédiger des spécifications plus agressives pour l’absorption de puissance et ainsi, réduire cette dernière en toute confiance.
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