Analyseurs de réseaux vectoriels à fonctions avancées d’extraction de réseaux
Les techniques de calibrage pour obtenir une solution de test entièrement corrigée demandent de disposer des étalons pour chacun des ports (interfaces) du montage de test. Dans les environnements où l’accès ou la disponibilité des étalons pour le calibrage n’est pas possible, la méthode traditionnelle consiste à ignorer les problématiques ou supposer qu’une partie du dispositif de test est symétrique avec une adaptation parfaite. Mais ce scénario étant improbable, l’utilisation des techniques précédentes conduit à des erreurs d’extraction et de mesure.
Offrant des outils avancés pour réaliser la fonction d’extraction, cette option permet aux ingénieurs d’ajouter, de manière incrémentielle, des étalons et des données caractéristiques au fur et à mesure qu’elles sont disponibles afin de donner une meilleure précision lors de l’extraction des paramètres d’un réseau.
Pour faciliter l’analyse des défauts isolés dans le montage de test, l’option inclut une fonction de Sequential Peeling. Etant basée sur la correspondance des fonctions de phase, les ingénieurs peuvent ainsi générer un fichier .sNp pour une partie d’un montage de test. Fournissant davantage d’informations détaillées sur le montage, cette fonction offre l’opportunité d’améliorer facilement la conception du montage de test.
Cette option étend les excellentes possibilités de cette gamme d’analyseurs de réseaux vectoriels afin d’optimiser la mesure sur wafer et d’effectuer des mesures pour les systèmes de transmission de données hauts débits. Ces analyseurs utilisent la technologie brevetée NLTL (Non-Linear Transmission Line) pour offrir une plus large couverture, allant de 70 kHz à 145 GHz avec un seul balayage. Les ingénieurs en recherche et développement disposent ainsi des performances nécessaires pour concevoir de manière fiable et précise des composants de dernières technologies.
Si vous avez apprécié cet article, vous aimerez les suivants : ne les manquez pas en vous abonnant à :
