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Une nouvelle génération d’analyseurs de spectres optiques

Nouveaux produits |
Par Alain Dieul


Yokogawa a lancé deux nouveaux analyseurs de spectre optique (OSA) capables de mesurer une large gamme de longueurs d’onde afin de répondre aux nouveaux besoins de développement et de fabrication de produits optiques. L’AQ6375E et l’AQ6376E sont les seuls analyseurs de spectres optiques basés sur un réseau de diffraction qui couvrent le SWIR (Short-Wavelength InfraRed) au-delà de 2 μm et le MWIR (Mid-Wavelength InfraRed) au-delà de 3 μm avec des performances optiques de classe mondiale. Ces nouveaux OSA sont proposés en quatre versions.

L’AQ6375E Standard propose une gamme de longueurs d’onde allant de 1200 à 2400nm ; la version AQ6375E Bande Étendue offre une plus large gamme de longueurs d’onde de 1000 à 2500nm et enfin la version AQ6375E Limitée à une gamme de longueurs d’onde de 1200-2400nm (avec une résolution optique inférieure). L’AQ6376E Standard offre lui une couverture spectrale allant de 1500 à 3400nm. Le choix entre les différentes couvertures spectrales disponibles offre aux développeurs une flexibilité accrue pour utiliser l’OSA adéquate en fonction du type d’application. Les applications comprennent la mesure environnementale et la détection de gaz, où l’AQ637xE peut être utilisé pour la mesure des spectres d’absorption de gaz et la caractérisation de sources lumineuses utilisées dans la spectroscopie d’absorption laser. Les autres utilisations majeures des nouveaux OSA sont le médical et la biotechnologie ainsi que les applications laser industrielles. Les applications typiques comprendront le développement et la mesure des lasers, la caractérisation des sources de lumière de large bande telles que les sources Supercontinuum, ainsi que les dispositifs optiques passifs et les fibres optiques.

« Le nouvel AQ637xE a été lancé pour donner aux développeurs et aux fabricants une plus grande flexibilité dans la gamme de longueurs d’onde qu’ils peuvent mesurer, le tout dans une famille d’OSA de grande précision et très facile d’utilisation », déclare Terry Marrinan, Yokogawa Test&Measurement’s Vice President & Chief Marketing Officer. « L’AQ637xE va élargir le nombre de produits optiques pouvant être analysés, tant dans les applications de développement que pour la production, en apportant des mesures riches en fonctionnalités et de haute précision à toutes les étapes du processus. »

L’AQ637xE intègre de nombreuses caractéristiques qui contribuent à atteindre une précision maximale. L’entrée optique en espace libre permet à la fois l’utilisation de fibres optiques monomodes et multimodes (jusqu’à 400 µm) sur le même OSA pour les régions SWIR et MWIR. La faible variation de la perte d’insertion au niveau du connecteur d’entrée augmente la répétabilité des mesures, tandis que l’absence de contact physique avec les férules des connecteurs optiques des fibres connectées permet d’éviter leur endommagement. Une source optique interne est également incluse permettant à la fois de réaliser automatiquement l’alignement optique et la calibration en longueur d’onde. Cela permet de maintenir des performances optiques élevées en compensant les déviations de l’axe optique causées par les vibrations et la déviation de la longueur d’onde causée par les changements de température ambiante.
L’AQ637xE utilise également une fonction de purge d’air pour compenser une autre cause d’erreur possible. Dans les régions SWIR et MWIR, il existe des longueurs d’onde où la lumière présente de fortes absorptions dues à la présence de vapeur d’eau et de dioxyde de carbone, qui peuvent toutes deux perturber la mesure spectrale.
En injectant continuellement un gaz pur de purge, tel que l’azote, dans le monochromateur (via des connecteurs dédiés sur le panneau arrière), l’AQ637xE peut réduire l’influence des absorptions de lumière sur la mesure.

La lumière diffractée d’ordre élevé est également compensée par un filtre de coupure intégré dans toutes les versions, à l’exception du modèle limité AQ6375E-01. Cela est nécessaire car le monochromateur génère une lumière diffractée d’ordre élevé, dont les longueurs d’onde sont égales aux multiples entiers de la longueur d’onde d’entrée. Les filtres intégrés réduisent cette lumière diffractée d’ordre supérieur, minimisant ainsi son influence sur la précision de la mesure.
Pour analyser les résultats, l’AQ637xE dispose de fonctions d’analyse intégrées pour caractériser les spectres optiques d’une grande variété de systèmes et de dispositifs optiques, tels que les systèmes WDM, DFB-LD, EDFA et les filtres optiques. Les fonctions d’analyse comprennent : DFB-LD ; FP-LD ; LED ; mesure de la largeur spectrale (peak/notch) ; SMSR ; puissance optique ; WDM (OSNR) ; EDFA (Gain et NF) ; filtre (peak/bottom) et filtre WDM (peak/bottom).

Pour améliorer l’efficacité et la productivité des mesures, l’AQ637xE dispose d’un mode application (APP), qui transforme l’OSA en un instrument polyvalent dédiée au dispositif sous test (DUT). Le mode APP fournit une interface utilisateur spécifique pour le DUT qui permet à l’utilisateur de passer des paramètres de configuration aux résultats de test sans avoir besoin de connaître la grande variété des réglages de paramètres de l’OSA. L’AQ637xE est préinstallé avec plusieurs applications de base telles que le test WDM, le test DFB-LD et le test FP-LD. Un assistant guide l’utilisateur à travers un processus de configuration facile pour des mesures et des analyses spécifiques.

www.yokogawa.com

 


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