Test MicroLED : Teradyne lance la plateforme Iris 100
La technologie MicroLED alimente deux marchés en forte croissance : les micro-écrans de réalité augmentée et les interconnexions optiques des centres de données dédiés à l’intelligence artificielle. Dans les deux cas, chaque dispositif compte de centaines de milliers à plusieurs millions d’émetteurs, qu’il faut caractériser individuellement à un débit compatible avec la production. Or les instruments optiques de laboratoire ne permettent pas d’atteindre le débit ni le coût unitaire requis en grande série. Teradyne présente Iris 100, une plateforme de test optique qui introduit le test de niveau semi-conducteur dans la fabrication des MicroLED.
Une mesure émetteur par émetteur
Iris 100 mesure chaque émetteur individuel d’un réseau. Le système combine un spectromètre et une caméra haute résolution pour relever la réponse spectrale du réseau ainsi que la luminance et l’uniformité de chaque pixel. La parallélisation des tests et des algorithmes de traitement d’image permettent de caractériser à haut débit un réseau complet de plusieurs millions de MicroLED. L’objectif est d’obtenir une caractérisation complète de chaque dispositif sans ralentir la cadence de la ligne.
Grâce au logiciel IG-XL, largement répandu dans le test automatique de semi-conducteurs, l’équipement détecte dès les premières étapes de fabrication les pixels éteints ou bloqués ainsi que les défauts en cluster. L’étalonnage, traçable selon les normes du NIST, autorise des mesures absolues et la corrélation entre lots, wafers et sites de production.
Une intégration à l’UltraFLEXplus
Iris 100 s’intègre directement à la plateforme UltraFLEXplus de Teradyne pour réaliser des tests optiques et électriques combinés. Il prend en charge le test sur wafer comme le test final, ce qui permet aux fabricants d’ajouter le test des MicroLED à leur parc de testeurs existant plutôt que de déployer une infrastructure dédiée.
La feuille de route prévoit en outre la prise en charge du test des photodétecteurs au sein de la même insertion de test, dans le flux de production.
Les interconnexions optiques comme moteur
Pour Shannon Poulin, président de la division Semiconductor Test de Teradyne, la MicroLED passe du laboratoire à la production à grande échelle, pour les micro-écrans AR mais aussi, de plus en plus, pour les interconnexions optiques, devenues essentielles pour permettre aux centres de données IA de dépasser les limites des liaisons cuivre.
Dans les deux cas, chaque émetteur doit être testé à un débit industriel, et Teradyne entend y répondre en s’appuyant sur des infrastructures de test que ses clients exploitent déjà à grande échelle. L’approche consiste à transposer aux MicroLED les méthodes et le débit du test de semi-conducteurs, plutôt qu’à industrialiser des instruments de laboratoire.
Une offre de test photonique qui s’étoffe
Iris 100 fait suite au lancement, plus tôt dans l’année, de Photon 100, destiné au test de la photonique sur silicium et des optiques co-packagées, et à l’acquisition en 2025 de Quantifi Photonics, spécialiste du test photonique.
Avec ces trois briques, Teradyne couvre désormais un éventail plus large des nouvelles exigences en matière de test optique, de la photonique intégrée jusqu’aux réseaux d’émetteurs MicroLED. Le fabricant, coté au Nasdaq, conçoit également des robots collaboratifs et mobiles au sein de sa branche robotique.
Pour vous qui industrialisez des MicroLED, Iris 100 permet d’intégrer le test optique à vos cellules UltraFLEXplus existantes, sur wafer comme en test final. L’arrivée annoncée du test de photodétecteurs dans la même insertion sera un point à suivre pour les liens optiques.
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