Logiciel de test de communications 4,5G écourtant la durée des mesures
En effet, le VST 2e génération offre aux ingénieurs la possibilité de générer et de mesurer simultanément jusqu’à 32 porteuses LTE, chacune dotée d’une bande passante de 20 MHz, et utiliser le logiciel pour spécifier des plans d’espacement entre porteuses.
Dans cette dernière version logicielle, des améliorations ont été apportées aux algorithmes pour écourter la durée des mesures. En l’installant, les ingénieurs chargés d’effectuer des mesures spectrales et de qualité de modulation dans le cadre d’applications sans fil de type UMTS/HSPA+ ou LTE/LTE-Advanced Pro pourront constater un gain de temps pouvant atteindre jusqu’à 33 % lors des mesures d’EVM, selon une étude comparative menée en R&D. Ainsi, ces améliorations en termes de vitesse d’acquisition aideront les ingénieurs à diminuer le coût des tests en écourtant la phase de mesure.
« En adoptant la technologie PXI et LabVIEW en parallèle du logiciel de mesure NI-RFmx, de nombreux clients dans l’industrie du semi-conducteur ont dit avoir gagné un temps considérable sur les mesures RF, ce qui a contribué à réduire le coût des tests et à accélérer la mise sur le marché de leurs produits, » explique Charles Schroeder, Vice-président de l’activité RF chez NI. « La qualité de la documentation, les nombreux exemples de code et l’intégration parfaite avec les produits PXI tels que le VST 2e génération ont grandement facilité l’adoption de NI-RFmx dans les systèmes de test de nos clients. »
En plus de l’amélioration des algorithmes, ce logiciel peut également servir dans le cadre de mesures de distorsion d’intermodulation, d’interception du troisième ordre, de facteur Y et de facteur de bruit de source froide. L’analyseur de signaux RF PXIe-5668R propriétaire prend en charge ces mesures, de sorte que les ingénieurs peuvent facilement configurer des cas de tests de facteur de bruit et de distorsion d’intermodulation en profitant des performances de la technologie PXI.