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Keysight répondra aux défis des tests pour l’IOT, le numérique et la RF à « embedded world 2017 »

Keysight répondra aux défis des tests pour l’IOT, le numérique et la RF à « embedded world 2017 »

Par Alain Dieul



Ces solutions sont axées sur l’électronique générale, l’automobile, les communications, l’éducation et les industries de l’énergie et ont été conçues pour aider les ingénieurs de systèmes embarqués à répondre aux plus difficiles défis actuels. Ainsi, sont ciblés les domaines comme les systèmes IoT, les communications numériques et RF aussi bien que les exigences en termes de (faible) puissance. Les démonstrations sur le stand porteront sur l’ensemble complet des solutions matérielles et logicielles.

La gamme complète des oscilloscopes, de l’entrée de gamme au haut de gamme, mettra en évidence les dernières solutions pour le débogage des bus série à faible et à grande vitesse et le test des signaux de communication. Cela inclut le support d’applications telles que l’USB-C, NFC et les chargeurs sans fil.

Des solutions de communication RF et sans fil seront présentées, y compris les aspects EMI/EMC des protocoles IEEE 802.11 (WiFi), Bluetooth et ZigBee. Simuler et tester ces liaisons sans fil, qui sont utilisés dans un large éventail d’applications embarquées, est devenu une étape déterminante et essentielle dans le processus de conception embarquée.

Seront également à l’honneur les solutions de mesure pour la faible et l’ultra-faible puissance qui sont pertinentes pour les concepteurs de systèmes embarqués travaillant sur des applications pour l’IoT, les semi-conducteurs, l’automobile et le sans fil. Cela comprend le CX3300A, actuellement le premier analyseur de courant de l’industrie doté d’une dynamique de 100 pA avec une résolution de 14/16 bits et une bande passante allant jusqu’à 200 MHz, ainsi qu’une fréquence d’échantillonnage atteignant 1 Géch./s.


Les outils matériels et logiciels incluront, notamment, les derniers outils de simulation propriétaires SIPro et PIPro apportant aux développeurs la capacité d’étudier l’intégrité du signal et l’intégrité de la puissance dès l’étape de conception. Une solution de test innovante pour l’évaluation des conditions thermiques sur la carte ainsi que la mesure du TDR sera également présentée de même que le logiciel BenchVue qui connecte de façon transparente un ou plusieurs instruments de test sans aucune programmation ­, y compris un contrôle facile et une automatisation des tests

Les outils de mesure pour l’IoT se distingueront par un kit d’apprentissage avec des didacticiels pour aider les universités à transmettre les compétences adaptées aux besoins de l’industrie en matière de conception, de validation, de test et de fabrication des produits.

Les instruments à usage général offriront un portefeuille complet d’instruments de banc de test et d’instruments PXI pour satisfaire les exigences en termes de mesure précise et fiable.

 
www.keysight.com
www.embedded-world.de/en 

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