Un nouvel analyseur de paramètres réduit la complexité de la caractérisation et accélère l’apprentissage
Fort du succès de l’analyseur de paramètres Keithley 4200-SCS, le nouvel instrument 4200A-SCS présente un design industriel moderne, une nouvelle interface utilisateur et une gamme d’outils extrêmement utiles tels que des vidéos pédagogiques d’experts intégrées dans l’instrument. Le résultat immédiat est la réduction des temps de configuration de l’instrument de l’ordre de 50% et un fonctionnement nettement plus facile et plus intuitif. La facilité d’utilisation est particulièrement importante pour les applications telles que la recherche dans le domaine du semiconducteur, l’analyse de défaillance des composants ou les tests de fiabilité lorsque les instruments sont une ressource partagée entre plusieurs utilisateurs.
« L’analyse des paramètres est essentielle pour caractériser les nouveaux composants semiconducteurs et les matériaux, ou encore pour tester la fiabilité des dispositifs avant leur utilisation commerciale. Toutefois, les chercheurs peuvent n’avoir besoin d’effectuer ces tests que de manière non régulière, ce qui fait qu’ils peuvent avoir des difficultés à maîtriser l’utilisation des instruments de tests paramétriques, » a déclaré Mike Flaherty, directeur général de la gamme de produits Keithley chez Tektronix. « Voilà pourquoi nous nous sommes donné tant de mal pour rendre le 4200A-SCS exceptionnellement facile à paramétrer et à prendre en mains, même pour des utilisateurs sans expérience. »
Un nouveau module de commutation
Sachant que la diversité des mesures ajoute un niveau de complexité supplémentaire à la recherche sur les semiconducteurs, Tektronix présente également un module Keithley de commutation à quatre voies IV/CV 4200A-CVIV. Ce module, conçu pour être utilisé avec le châssis 4200A-SCS, permet de passer automatiquement des mesures I-V (effectuées avec des cartes SMUs) aux mesures C-V (réalisées avec une carte CVU) par commutation sans déconnexion de câbles. Les utilisateurs peuvent ainsi déplacer les mesures C-V vers n’importe quel terminal de dispositif sans soulever les pointes ni connecter /déconnecter les câbles.
Avec un nouvel écran haute définition, le 4200A-SCS offre plus d’espace pour les tests interactifs et l’expérimentation. Cet écran est couplé avec une toute nouvelle interface utilisateur qui offre un fonctionnement intuitif dont ont besoin les utilisateurs occasionnels, tout en proposant en même temps les fonctionnalités avancées exigées par les utilisateurs experts. La nouvelle interface utilisateur comprend des vidéos d’experts qui transmettent la connaissance et l’expérience des ingénieurs d’application Keithley du monde entier. Ces vidéos réduisent la courbe d’apprentissage de l’utilisateur et l’aident à résoudre les problèmes lorsque surviennent des résultats inattendus, tout en renforçant sa confiance dans les résultats qu’il observe.
Comme l’instrument qu’il remplace, le 4200A-SCS est un analyseur de paramètres modulaire et entièrement intégré qui effectue la caractérisation électrique de matériaux, de composants semi-conducteurs et des process. Composé d’unités de source et mesure (SMU) pour la caractérisation I-V, d’un module de capacité-tension pour les mesures d’impédance AC et d’une unité de mesure d’impulsion ultra-rapide pour les mesures I-V en mode pulsé, la capture de signaux et les mesures d’I-V en mode transitoire, le 4200A-SCS mesure les paramètres critiques dont les chercheurs ou les ingénieurs ont besoin pour l’études des matériaux, la conception, le développement et la production de dispositifs à semiconducteurs.
www.tek.com/parameter-analyzer.
Si vous avez apprécié cet article, vous aimerez les suivants : ne les manquez pas en vous abonnant à :
