NXP ajoute le SIE à la gestion des batteries des VE
NXP Semiconductors a mis sur le marché un jeu de puces de gestion de batterie qui intègre la spectroscopie d’impédance électrochimique (EIS) directement dans son matériel. Cette technologie permet un diagnostic synchronisé des cellules dans l’ensemble de la batterie, ce qui pourrait améliorer la sécurité, le contrôle de la charge et les performances à long terme des véhicules électriques et des systèmes de stockage stationnaires.
Pour les lecteurs d’ECInews, cela est important car la surveillance basée sur le SIE devient un domaine de développement actif parmi les constructeurs automobiles européens et les fournisseurs de niveau 1 à la recherche d’analyses prédictives de l’état des batteries et d’une certification plus rapide des systèmes à haute tension.
Intégration de l’analyse d’impédance dans le BMS
Le jeu de puces combine trois composants – le capteur de cellule BMA7418, la passerelle BMA6402 et le contrôleur de boîte de jonction de batterie BMA8420 – tous conçus pour une synchronisation à l’échelle de la nanoseconde. Ensemble, ils effectuent des mesures d’impédance en temps réel sans instrumentation externe.
Un générateur de signaux intégré à la puce précharge le circuit haute tension et applique un signal d’excitation qui permet aux condensateurs de liaison CC d’agir comme un réservoir d’énergie secondaire. Selon NXP, cet arrangement peut capturer les réponses dans le domaine des fréquences liées à la température, au vieillissement et aux microcircuits, réduisant potentiellement le besoin de capteurs supplémentaires tout en simplifiant la conception de l’emballage.
Disponibilité
NXP prévoit que le chipset compatible EIS sera disponible début 2026, avec un logiciel d’activation fonctionnant sur son microcontrôleur automobile S32K358. Ce lancement élargit le portefeuille d’électrification de l’entreprise, qui comprend déjà des contrôleurs de cellule, des passerelles et des contrôleurs de boîte de jonction de batterie pour les architectures de VE à haute tension.
« La solution EIS apporte un puissant outil de diagnostic de qualité laboratoire dans le véhicule. Elle simplifie la conception du système en réduisant le besoin de capteurs de température supplémentaires et soutient la transition vers une charge plus rapide, plus sûre et plus fiable sans compromettre la santé de la batterie. Le chipset offre également un chemin de mise à niveau à faible barrière, avec des boîtiers compatibles broche à broche qui peuvent être directement mis à niveau vers des modules sur cellule et des unités de contrôle de boîte de jonction de batterie « , a déclaré Naomi Smit, VP et GM, Drivers and Energy System, NXP Semiconductors.
Impact sur le diagnostic des véhicules électriques
En intégrant la fonctionnalité EIS dans le silicium BMS de qualité industrielle, NXP vise à rendre pratique l’évaluation de l’état des cellules basée sur l’impédance pour les véhicules de série. Si elle est validée dans le cadre de programmes européens, cette approche pourrait offrir aux constructeurs automobiles une méthode plus cohérente pour prédire la dégradation des batteries, faciliter l’analyse des garanties et améliorer la surveillance de la sécurité pendant les cycles de charge rapide.
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