NI dote le PXI de capacités numériques propres aux équipements de test automatiques
La plupart des systèmes ATE traditionnels ne permet plus d’assurer la couverture des tests nécessaires à la validation des semi-conducteurs actuels. En appliquant à la plate-forme PXI ouverte du Semiconductor Test System (STS) les modèles théoriques propres au test numérique mis en pratique dans l’industrie du semi-conducteur – et en fournissant aux utilisateurs un utilitaire d’édition et de mise au point de patterns facile à prendre en main –, NI parvient à fournir des instruments PXI sophistiqués capables d’augmenter le volume de production de circuits intégrés analogiques et sans fil, tout en réduisant le coût des tests.
« L’instrument de patterns numériques au format PXI apporte une réelle valeur ajoutée au STS car il présente des capacités numériques équivalentes à celles de plates-formes de test numérique haut de gamme », explique Ron Wolfe, Vice-président du test de semi-conducteurs chez NI. « En production, ces nouvelles capacités PXI permettent de respecter les contraintes de prix et les exigences de test de dispositifs de pointe, mais aussi de s’adapter rapidement aux autres produits en fabrication. »
L’instrument de patterns numériques PXIe-6570 fournit les capacités nécessaires au test de circuits intégrés que l’on retrouve généralement dans les appareils sans fil et les équipements de l’Internet des objets, à un prix par pin abordable. Il exécute des patterns numériques jusqu’à 100 MVecteur/s avec des moteurs de génération et d’acquisition indépendants et des fonctions paramétriques de tension/courant pouvant atteindre 256 pins numériques synchronisées au sein d’un seul et même sous-système. Les utilisateurs peuvent profiter de l’ouverture du PXI et du STS pour ajouter ou supprimer des ressources à leur système selon leurs besoins spécifiques en termes de nombre de pins et de sites de test.
Le nouveau logiciel Digital Pattern Editor intègre des environnements dédiés au mappage de broches, à la spécification des instruments et à la génération de patterns pour développer plus rapidement les protocoles de test. Il intègre également des outils natifs comme la génération en burst de patterns multi-sites et multi-instruments pour passer aisément du développement à la production, ainsi que des outils comme le diagramme de Shmoo et un aperçu interactif des pins pour mettre au point et optimiser les tests plus efficacement.
Le fait de recourir au matériel PXI, aux logiciels TestStand, LabVIEW et Digital Pattern Editor pour effectuer les tests en phase de caractérisation et de production réduit les efforts de corrélation des données, et donc les délais de mise sur le marché des produits. Intégré ou non au STS, le matériel PXI, est peu encombrant sur les sites de production et peut être installé sur une paillasse de laboratoire de caractérisation en étant connecté à une prise murale standard.
« Le PXI est l’une des seules technologies matérielles et logicielles pouvant être exploitée aussi bien sur site de production qu’en laboratoire de caractérisation », poursuit Ron Wolfe. « L’instrument de patterns numériques de NI et le Digital Pattern Editor constituent une innovation majeure pour aider les fabricants de dispositifs à semi-conducteurs et les laboratoires d’essai à diminuer le coût des tests et à améliorer le développement des programmes de test. »
Les sociétés de semi-conducteurs ont adopté la plate-forme et l’écosystème NI pour concevoir des systèmes de test plus intelligents compatibles avec plus de 600 produits PXI allant du continu aux ondes millimétriques (dont la gamme STS prête à l’emploi, des transcepteurs de signaux vectoriels à bande passante1 GHz, des unités de source et mesure dotées d’une sensibilité de l’ordre des fA et le module TestStand Semiconductor). Tous ces produits garantissent des débits de données élevés par le biais d’interfaces de bus Gen 3 PCI Express et de capacités de synchronisation inférieure à la nanoseconde avec cadencement et déclenchement intégrés. Les utilisateurs peuvent tirer parti de la productivité des environnements logiciels LabVIEW et TestStand, ainsi que d’un écosystème dynamique de partenaires, d’ingénieurs et d’IP complémentaires, pour diminuer le coût des tests, réduire les délais de mise sur le marché et assurer la pérennité des testeurs pour satisfaire aux exigences de demain, aussi complexes soient-elles.
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