Génération optimisée des programmes de test et d’assemblage
Ce logiciel assure la définition de la ligne de fabrication incluant une combinaison d’équipements d’assemblage, d’inspection ou de test tels que Acculogic, Aeroflex 4200, Agilent i3070, Assembléon, Asset, Checksum, Corelis, Goepel, JTAG Technologies, Mirtec, MyData, Spea 3030/4030/4040, Temento, Takaya APT8400/94xx/9600, Teradyne GR228x/TS12x, Spectrum Z1800 et TRI 518/5001/8001. Il place les points de test judicieusement pour maximiser la couverture et minimiser le coût des interfaces de test. Estimant la couverture de test de chaque étape, il optimise le résultat combiné. Il génère ensuite les données d’entrée pour chaque équipement de test en reflétant la stratégie retenue. Enfin, il mesure la couverture réelle d’un programme de test post-debug, la compare avec l’estimation initiale et identifie les manques ou les redondances dans la stratégie globale.
L’opportunité de générer des programmes de test "Lean" représente des avantages significatifs pour les testeurs à sondes mobiles Takaya. Disposant des capacités réelles de différents modèles de testeur, d’un algorithme automatique de création de tests (ATPG) et capable de sélectionner la position et l’angle optimal de la sonde du testeur, ce système permet de réduire les temps de debug et l’effort d’ingénierie, augmentant ainsi la disponibilité du testeur pour la production. Les temps de test sont également minimisés grâce à l’analyseur de couverture puissant, optimisant la répartition des tests sur plusieurs moyens et des connexions et identifiant la technique de mesure la plus efficace pour détecter les défauts sans tests superflus. C’est la clef d’une réelle stratégie "Lean" visant à identifier et à éliminer les gaspillages jalonnant la chaîne de la valeur ajoutée.
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