Encore plus de précision et de fiabilité dans le domaine des ondes millimétriques à large bande
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Cette nouvelle solution améliore la caractérisation et la modélisation des dispositifs en fournissant une stabilité et une précision exceptionnelles pour les mesures sur wafer ou via des connecteurs. La stabilité en amplitude est assurée à moins de 0,015 dB et la précision sur la phase est garantie à moins de 0,15 degrés sur une période de 24 heures.
Tirant parti de l’expertise largement prouvée de Keysight en métrologie, les capacités de cette solution en matière de calibrage sont basées sur une base de données à la précision améliorée qui supporte un kit de calibrage 1.0 mm (85059B) et un kit de vérification 1.0 mm (85059V). Grâce à cette base, la nouvelle solution pour ondes millimétriques à large bande fournit des résultats de mesure qui relèvent des instituts nationaux de métrologie.
Les éléments principaux composant ce système sont un analyseur de réseau Keysight PNA ou PNA-X, des modules compacts N5293A Series pour l’extension de la plage de fréquence ainsi que le contrôleur de test N5292A. Pour simplifier les mesures sur banc de test, les ingénieurs peuvent monter les modules d’extension de la plage de fréquence sur un positioneur optionel.
Les ports de test 1.0 mm durcis assurent la répétabilité des connexions qui influent sur le calibrage et donc améliorent la précision de la mesure au niveau système. Les utilisateurs peuvent faire appel à un « de-embedding » automatique pour des mesures avec connecteurs ou effectuer un étalonnage sous pointes pour des mesures sur wafer.
En option, la fréquence de début de balayage de 900 Hz, permet aux ingénieurs de caractériser les performances de leurs dispositifs aux très basses fréquences. Ceci est particulièrement utile lors de la mesure sur des lignes de transmission à faible perte qui sont couramment utilisées dans les applications numériques à grande vitesse.
Keysight a collaboré avec son partenaire Cascade Microtech pour fournir une solution complète de mesure sur wafer (Wafer Measurement Solution, WMS) basée sur le N5290/91A et le Keysight W8580BP WaferPro Express Core Measurement Bundle (logiciel, pilotes et base de données). Le programme WMS fournit une configuration, une installation et un support garantis pour réduire les risques et accélérer la mise en place avant la première mesure.
La solution pour ondes millimétriques à large bande prend également en charge une variété d’applications. Les exemples incluent la caractérisation complète des amplificateurs et des convertisseurs de fréquence (option logicielle de compression à gain), des mesures de mélangeurs et des convertisseurs de fréquence (option logicielle de mélangeur scalaire) et des mesures de spectre multicanal calibrées (option logicielle d’analyseur à spectre étendu).
www.keysight.com/find/millimeter-wave.
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