Analyseurs pour caractérisation de dispositifs semi-conducteurs de faible puissance
La caractérisation de composants semi-conducteurs avancés et l’évaluation de dispositifs faible puissance sont des tâches complexes nécessitant la mesure des courants dynamiques à haut débit (plus de 1 MHz) et de faible niveau (moins de 1 μA). Toutefois, la méthodologie existante pour cette mesure souffre de nombreuses difficultés: un bruit important, des chutes de tension, une dynamique limitée et des problèmes de bande passante. De ce fait, il est fréquent que le courant dynamique de faible niveau ne soit pas détecté et donc pas mesuré.
Le nouvel analyseur CX3300 de Keysight permet de surmonter ces contraintes en rendant possible la mesure simultanée de signaux de courant à la fois large bande et de faible niveau. En offrant une dynamique de 14 ou 16 bits, il est possible de répondre à de multiples exigences de mesure à l’aide d’un seul et même instrument, sans recourir à plusieurs appareils. Avec l’interface utilisateur graphique, l’écran tactile multipoint WXGA de 14,1 pouces et le logiciel de mesure et d’analyse avancées, cet analyseur permet de mesurer et d’analyser facilement et efficacement les courants de faible niveau, auparavant difficiles à détecter.
Pour Masaki Yamamoto, directeur général de la Division Wafer Test Solutions de Keysight: « Le nouvel analyseur CX3300 de Keysight est le fruit d’années de recherche et constitue la réponse directe aux besoins de nos clients cherchant à mesurer des courants dynamiques de faible niveau sans pour autant modifier la largeur de la bande passante ». « Grâce au CX3300, qui permet de mesurer des courants dynamiques à large bande et de faible niveau, nous faisons un grand bond en avant dans notre capacité à répondre aux besoins de nos clients. En plus de compléter le portefeuille d’instruments Keysight, ce nouvel analyseur offre à nos clients une solution plus complète pour l’analyse de composants semi-conducteurs de faible puissance. ».
Pour Masaki Yamamoto, directeur général de la Division Wafer Test Solutions de Keysight: « Le nouvel analyseur CX3300 de Keysight est le fruit d’années de recherche et constitue la réponse directe aux besoins de nos clients cherchant à mesurer des courants dynamiques de faible niveau sans pour autant modifier la largeur de la bande passante ». « Grâce au CX3300, qui permet de mesurer des courants dynamiques à large bande et de faible niveau, nous faisons un grand bond en avant dans notre capacité à répondre aux besoins de nos clients. En plus de compléter le portefeuille d’instruments Keysight, ce nouvel analyseur offre à nos clients une solution plus complète pour l’analyse de composants semi-conducteurs de faible puissance. »
Pour Masaki Yamamoto, directeur général de la Division Wafer Test Solutions de Keysight: « Le nouvel analyseur CX3300 de Keysight est le fruit d’années de recherche et constitue la réponse directe aux besoins de nos clients cherchant à mesurer des courants dynamiques de faible niveau sans pour autant modifier la largeur de la bande passante ». « Grâce au CX3300, qui permet de mesurer des courants dynamiques à large bande et de faible niveau, nous faisons un grand bond en avant dans notre capacité à répondre aux besoins de nos clients. En plus de compléter le portefeuille d’instruments Keysight, ce nouvel analyseur offre à nos clients une solution plus complète pour l’analyse de composants semi-conducteurs de faible puissance. »
Points forts de l’analyseur CX3300 de Keysight :
- Visualisation de courants avec une bande passante maximale de 200 MHz et une dynamique de 14 ou 16 bits
- Possibilité de mesurer des courants dynamiques de 100 pA
- Possibilité pour les ingénieurs d’évaluer de façon quantitative la manière dont la puissance est absorbée par les dispositifs faible puissance
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