Lorsque les syst\u00e8mes \u00e9lectroniques ne fonctionnent pas correctement ou cessent carr\u00e9ment de fonctionner, peu importe que le composant concern\u00e9 soit un processeur r\u00e9put\u00e9 ou une puissante source d\u2019alimentation : dans tous les cas le produit final est endommag\u00e9 et la r\u00e9putation du fabricant en p\u00e2tit. Et il n’y a pas qu’une panne \u00e9vidente qui peut causer un probl\u00e8me, une mauvaise conception ou des composants marginaux peuvent \u00e9galement entra\u00eener des probl\u00e8mes de performances qui sont difficiles \u00e0 traquer et \u00e0 diagnostiquer.<\/p>\n
Les OEM et leurs clients finaux recherchent la fiabilit\u00e9, mais celle-ci poss\u00e8de de nombreuses facettes qui doivent \u00eatre parfaitement comprises. De m\u00eame, les mesures utilis\u00e9es pour d\u00e9terminer cette fiabilit\u00e9 doivent \u00eatre parfaitement ma\u00eetris\u00e9es. Une telle mesure est le \u00ab Mean Time Between Failure \u00bb, g\u00e9n\u00e9ralement abr\u00e9g\u00e9 MTBF, et qu’on peut traduire par \u00abtemps moyen entre pannes\u00bb. Ici, dans le contexte des sources d’alimentation, notre objectif est d\u2019amener \u00e0 comprendre ce qu\u2019est le MTBF, \u00e0 reconna\u00eetre comment il peut aider \u00e0 concevoir des produits fiables et, surtout, \u00e0 r\u00e9aliser qu’il ne devrait absolument pas \u00eatre utilis\u00e9 pour pr\u00e9dire la dur\u00e9e de vie r\u00e9elle d’un produit.<\/p>\n","protected":false},"featured_media":22921,"template":"","tags":[],"company":[],"wp_category":[],"ppma_author":[],"class_list":["post-22919","white_papers","type-white_papers","status-publish","has-post-thumbnail","hentry"],"acf":[],"yoast_head":"