{"id":21616,"date":"2017-05-08T19:35:35","date_gmt":"2017-05-08T19:35:35","guid":{"rendered":"https:\/\/\/white_papers\/la-mesure-des-proprietes-critiques-des-materiaux-dans-les-systemes-electroniques-avances\/"},"modified":"2022-01-26T15:11:25","modified_gmt":"2022-01-26T15:11:25","slug":"la-mesure-des-proprietes-critiques-des-materiaux-dans-les-systemes-electroniques-avances","status":"publish","type":"white_papers","link":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/white_papers\/la-mesure-des-proprietes-critiques-des-materiaux-dans-les-systemes-electroniques-avances\/","title":{"rendered":"La mesure des propri\u00e9t\u00e9s critiques des mat\u00e9riaux dans les syst\u00e8mes \u00e9lectroniques avanc\u00e9s"},"content":{"rendered":"","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Nous sommes habitu\u00e9s \u00e0 penser au progr\u00e8s technologique en termes de g\u00e9n\u00e9rations de mod\u00e8les de t\u00e9l\u00e9phones portables ou des versions de proc\u00e9d\u00e9 de fabrication des semi-conducteurs. Cela fournit un raccourci utile, mais \u00e9clipse toute une s\u00e9rie d&rsquo;autres formes d&rsquo;innovation, comme celles dans la science des mat\u00e9riaux. Quiconque a retir\u00e9 le panneau arri\u00e8re d&rsquo;un t\u00e9l\u00e9viseur CRT ou ouvert une ancienne alimentation aura fait le constat suivant: vous ne pouvez pas construire l&rsquo;\u00e9lectronique du XXI\u00e8me si\u00e8cle en utilisant des composants du XX\u00e8me si\u00e8cle.<\/p>\n<p>Par exemple, les progr\u00e8s rapides de la science des mat\u00e9riaux et de la nanotechnologie ont cr\u00e9\u00e9 de nouveaux mat\u00e9riaux dot\u00e9s des caract\u00e9ristiques n\u00e9cessaires pour construire des inducteurs et condensateurs denses et performants. Les dispositifs de d\u00e9veloppement qui utilisent ces mat\u00e9riaux exigent une mesure pr\u00e9cise des caract\u00e9ristiques \u00e9lectriques et magn\u00e9tiques, telles que la permittivit\u00e9 et la perm\u00e9abilit\u00e9, dans une gamme de fr\u00e9quences et de temp\u00e9ratures de fonctionnement. Cet article traite des approches pour caract\u00e9riser les mat\u00e9riaux di\u00e9lectriques et magn\u00e9tiques en utilisant des analyseurs d&rsquo;imp\u00e9dance et des dispositifs de test sp\u00e9cialis\u00e9s.<\/p>\n","protected":false},"featured_media":21618,"template":"","tags":[],"company":[517],"wp_category":[],"ppma_author":[],"class_list":["post-21616","white_papers","type-white_papers","status-publish","has-post-thumbnail","hentry","company-keysight-technologies"],"acf":[],"yoast_head":"<title>La mesure des propri\u00e9t\u00e9s critiques des mat\u00e9riaux dans les sy...<\/title>\n<meta name=\"description\" content=\"Nous sommes habitu\u00e9s \u00e0 penser au progr\u00e8s technologique en termes de g\u00e9n\u00e9rations de mod\u00e8les de t\u00e9l\u00e9phones portables ou des versions de proc\u00e9d\u00e9 de...\" \/>\n<meta name=\"robots\" content=\"index, follow, max-snippet:-1, max-image-preview:large, max-video-preview:-1\" \/>\n<link rel=\"canonical\" href=\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/white_papers\/21616\/\" \/>\n<meta property=\"og:locale\" content=\"fr_FR\" \/>\n<meta property=\"og:type\" content=\"article\" \/>\n<meta property=\"og:title\" content=\"La mesure des propri\u00e9t\u00e9s critiques des mat\u00e9riaux dans les syst\u00e8mes \u00e9lectroniques avanc\u00e9s\" \/>\n<meta property=\"og:description\" content=\"Nous sommes habitu\u00e9s \u00e0 penser au progr\u00e8s technologique en termes de g\u00e9n\u00e9rations de mod\u00e8les de t\u00e9l\u00e9phones portables ou des versions de proc\u00e9d\u00e9 de fabrication des semi-conducteurs. 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