Les progr\u00e8s enregistr\u00e9s dans les semiconducteurs en termes de technologies et de fonctionnalit\u00e9s ouvrent de nouvelles opportunit\u00e9s de d\u00e9tection, de mesure, d\u2019interpr\u00e9tation et d\u2019analyse des donn\u00e9es dans les applications industrielles, notamment dans le domaine de la maintenance pr\u00e9dictive (condition-based monitoring). Associ\u00e9s \u00e0 des algorithmes sophistiqu\u00e9s pour applications de diagnostic et de pr\u00e9visions, les capteurs de nouvelle g\u00e9n\u00e9ration utilisant des microsyst\u00e8mes \u00e9lectrom\u00e9caniques (MEMS) permettent de mesurer les performances d\u2019un large \u00e9ventail de machines afin de surveiller les \u00e9quipements avec une efficacit\u00e9 accrue en augmentant leur disponibilit\u00e9 op\u00e9rationnelle, le niveau de qualit\u00e9 des processus et leur cadence.
\nPour mettre en \u0153uvre ces nouvelles possibilit\u00e9s et tirer pleinement parti des avantages de la maintenance pr\u00e9dictive, les solutions utilis\u00e9es doivent conjuguer exactitude, fiabilit\u00e9 et robustesse, si bien que la surveillance en temps r\u00e9el d\u00e9passe le cadre de la d\u00e9tection \u00e9l\u00e9mentaire des \u00e9ventuels d\u00e9fauts et fournisse des informations pertinentes et exploitables. Combin\u00e9es \u00e0 des connaissances approfondies du syst\u00e8me, les performances \u00e9lev\u00e9es des technologies de nouvelle g\u00e9n\u00e9ration permettent de mieux comprendre le fonctionnement de l\u2019application et de relever les d\u00e9fis de fa\u00e7on optimale.<\/p>\n","protected":false},"featured_media":19737,"template":"","tags":[],"company":[613],"wp_category":[],"ppma_author":[],"class_list":["post-19735","white_papers","type-white_papers","status-publish","has-post-thumbnail","hentry","company-analog-devices"],"acf":[],"yoast_head":"