{"id":73524,"date":"2019-10-16T06:31:44","date_gmt":"2019-10-16T06:31:44","guid":{"rendered":"https:\/\/\/tektronix-simplifie-les-tests-defficacite-energetique\/"},"modified":"2019-10-16T06:31:44","modified_gmt":"2019-10-16T06:31:44","slug":"tektronix-simplifie-les-tests-defficacite-energetique","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/tektronix-simplifie-les-tests-defficacite-energetique\/","title":{"rendered":"Tektronix simplifie les tests d&rsquo;efficacit\u00e9 \u00e9nerg\u00e9tique"},"content":{"rendered":"<p>\u00ab&nbsp;Le nouveau plug-in de tests \u00e0 double impulsion n&rsquo;est qu&rsquo;une illustration suppl\u00e9mentaire de la mani\u00e8re dont notre nouvel AFG31000 facilite la configuration de syst\u00e8mes de test, la modification rapide des param\u00e8tres et la gestion de nombreux sc\u00e9narios de test offrant une efficacit\u00e9 et une stabilit\u00e9 \u00e9lev\u00e9es,&nbsp;\u00bb a d\u00e9clar\u00e9 Chris Bohn, vice-pr\u00e9sident et directeur g\u00e9n\u00e9ral charg\u00e9 de la ligne de produits Keithley chez Tektronix. \u00ab&nbsp;Cela repr\u00e9sente une augmentation consid\u00e9rable de la productivit\u00e9 des ing\u00e9nieurs \u00e9lectriciens, ce qui se traduit par des \u00e9conomies de co\u00fbts consid\u00e9rables et un d\u00e9lai de commercialisation plus court.&nbsp;\u00bb<br \/>\nLes chercheurs et les ing\u00e9nieurs de conception et de test des industries de l\u2019\u00e9nergie et des semi-conducteurs ont recours aux tests \u00e0 double impulsion pour mesurer et \u00e9valuer les param\u00e8tres de commutation et le comportement dynamique des dispositifs \u00e9lectriques, y compris ceux fabriqu\u00e9s \u00e0 partir de mat\u00e9riaux \u00e0 large bande tels que le \u00ab&nbsp;Silicon Carbide (SiC) ou le Gallium Nitride (GaN) \u00bb.<br \/>\nPour effectuer un test \u00e0 double impulsion, un ing\u00e9nieur doit g\u00e9n\u00e9rer pr\u00e9cis\u00e9ment au moins deux impulsions de tension ayant des largeurs d&rsquo;impulsion et une synchronisation variables pour d\u00e9clencher un dispositif d&rsquo;alimentation MOSFET ou IGBT. Les mesures sont prises avec un oscilloscope tel que le&nbsp;<a href=\"https:\/\/fr.tek.com\/oscilloscope\/5-series-mso-mixed-signal-oscilloscope%20\/t%20_blank\">MSO Tektronix de S\u00e9rie 5<\/a>. Cependant, la g\u00e9n\u00e9ration de ces impulsions est difficile avec les \u00e9quipements de test actuels, ce qui contraint les chercheurs et les ing\u00e9nieurs \u00e0 cr\u00e9er manuellement des formes d&rsquo;onde \u00e0 l&rsquo;aide de PC ou de micro-contr\u00f4leurs, une approche longue et propice aux erreurs.<\/p>\n<p><u>L&rsquo;AFG31000 red\u00e9finit le g\u00e9n\u00e9rateur de fonction arbitraire<\/u><\/p>\n<p>Introduit l&rsquo;an dernier, l&rsquo;AFG31000 red\u00e9finit le g\u00e9n\u00e9rateur de fonction arbitraire avec un certain nombre d&rsquo;innovations, y compris le plus grand \u00e9cran tactile jamais propos\u00e9, une nouvelle interface utilisateur, la fonction technologique brevet\u00e9e InstaView\u2122 qui d\u00e9tecte et compense automatiquement les asym\u00e9tries d&rsquo;imp\u00e9dance, le s\u00e9quen\u00e7age programmable et un nouvel outil ArbBuilder qui permet de facilement cr\u00e9er et \u00e9diter des formes d&rsquo;onde arbitraires.&nbsp;Dot\u00e9s d&rsquo;un \u00e9cran tactile 9 pouces, les instruments de la s\u00e9rie AFG31000 sont disponibles dans les configurations \u00e0 1 ou 2 canaux avec une r\u00e9solution verticale de 14 bits et une performance de taux d&rsquo;\u00e9chantillonnage de 250 MSa\/s, 1 GSa\/s ou 2 GSa\/s.<\/p>\n<p><a href=\"https:\/\/fr.tek.com\/%20\/t%20_blank\">fr.tek.com.<\/a><\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Tektronix, Inc. a annonc\u00e9 la disponibilit\u00e9 d&rsquo;un nouveau plug-in logiciel pour son g\u00e9n\u00e9rateur de fonction arbitraire AFG31000, qui permet d&rsquo;effectuer des tests cruciaux \u00e0 double impulsion en moins d&rsquo;une minute, ce qui permet un gain de temps significatif par rapport aux autres m\u00e9thodes. Avec le nouveau logiciel de test \u00e0 double impulsion, les ing\u00e9nieurs peuvent rapidement d\u00e9finir les param\u00e8tres d&rsquo;impulsion \u00e0 partir d&rsquo;une seule fen\u00eatre sur le grand \u00e9cran tactile de l&rsquo;AFG31000, puis g\u00e9n\u00e9rer les impulsions n\u00e9cessaires \u00e0 l&rsquo;ex\u00e9cution des tests, le tout en moins d&rsquo;une minute. L&rsquo;application offre un ajustement d&rsquo;imp\u00e9dance de la largeur d&rsquo;impulsion et de l&rsquo;intervalle de temps entre chaque impulsion, jusqu&rsquo;\u00e0 30 impulsions. La largeur des impulsions peut aller de 20 ns \u00e0 150 \u00b5s.<\/p>\n","protected":false},"author":9,"featured_media":73525,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[881],"tags":[],"domains":[47],"ppma_author":[1141],"class_list":["post-73524","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-nouveaux-produits","domains-electronique-eci"],"acf":[],"yoast_head":"<title>Tektronix simplifie les tests d&#039;efficacit\u00e9 \u00e9nerg\u00e9tique ...<\/title>\n<meta name=\"description\" content=\"Tektronix, Inc. a annonc\u00e9 la disponibilit\u00e9 d&#039;un nouveau plug-in logiciel pour son g\u00e9n\u00e9rateur de fonction arbitraire AFG31000, qui permet d&#039;effectuer des...\" \/>\n<meta name=\"robots\" content=\"index, follow, max-snippet:-1, max-image-preview:large, max-video-preview:-1\" \/>\n<link rel=\"canonical\" href=\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/73524\/\" \/>\n<meta property=\"og:locale\" content=\"fr_FR\" \/>\n<meta property=\"og:type\" content=\"article\" \/>\n<meta property=\"og:title\" content=\"Tektronix simplifie les tests d&#039;efficacit\u00e9 \u00e9nerg\u00e9tique\" \/>\n<meta property=\"og:description\" content=\"Tektronix, Inc. a annonc\u00e9 la disponibilit\u00e9 d&#039;un nouveau plug-in logiciel pour son g\u00e9n\u00e9rateur de fonction arbitraire AFG31000, qui permet d&#039;effectuer des tests cruciaux \u00e0 double impulsion en moins d&#039;une minute, ce qui permet un gain de temps significatif par rapport aux autres m\u00e9thodes. 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