Ayant d\u00e9velopp\u00e9 depuis des ann\u00e9es, via ses centres de recherches, une culture partenariale et collaborative en R&D, l’\u00c9cole des Mines de Saint-\u00c9tienne apporte dans ce projet l’expertise des chercheurs de l’Institut Fayol, \u00e0 la confluence entre g\u00e9nie industriel et techniques de machine learning. Leurs connaissances pointues en big data, en math\u00e9matiques appliqu\u00e9es, analyse des donn\u00e9es, m\u00e9thodes statistiques et algorithmes d’apprentissage, contribueront \u00e0 d\u00e9velopper une nouvelle g\u00e9n\u00e9ration d’outils et de proc\u00e9dures de diagnostics et \u00e0 cr\u00e9er des algorithmes intelligents pour l’identification et la cat\u00e9gorisation des d\u00e9fauts. L’enjeu est de r\u00e9duire les d\u00e9faillances en production gr\u00e2ce \u00e0 des approches pr\u00e9dictives et d’anticipation, avec des impacts \u00e9conomiques importants pour l’industrie de la micro-\u00e9lectronique.<\/p>\n
D’un budget total de 11,2 Millions d’euros dont 382 000 euros pour Mines Saint-\u00c9tienne, \u00ab Failure Analysis \u00bb est financ\u00e9 par le programme EUREKA \/ PENTA EURIPIDES et coordonn\u00e9 par Xavier Boucher, directeur de recherche \u00e0 l’Institut Fayol (\u00e9quipe LIMOS – CNRS).<\/p>\n
Il regroupe, autour d’Infineon Technologies, coordinateur du projet, des partenaires venus d’Allemagne, France, R\u00e9publique Tch\u00e8que, dont ST Microelectronics, Bosch, des PME, Fraunhofer IMWS, l’universit\u00e9 de Stuttgart, l’universit\u00e9 Jean-Monnet de Saint-\u00c9tienne et l’\u00c9cole des Mines, partenaire de long terme de ST Microelectronics.<\/p>\n
L’objectif de ce consortium est de d\u00e9velopper des solutions de diagnostic et de r\u00e9duire les risques de d\u00e9fauts tout au long de la cha\u00eene de conception et de production dans les syst\u00e8mes manufacturiers de wafers, en faisant collaborer chercheurs, acteurs interm\u00e9diaires et industriels, dans une d\u00e9marche d’impl\u00e9mentation et d’am\u00e9lioration continue.<\/p>\n
Pleinement positionn\u00e9e depuis plusieurs ann\u00e9es sur les enjeux et d\u00e9fis de l’industrie du futur, l’\u00c9cole des Mines de Saint-\u00c9tienne trouve dans ce projet un aboutissement strat\u00e9gique et m\u00e9thodologique au niveau international. La nouvelle expertise d\u00e9velopp\u00e9e par l’Institut Fayol dans ce projet pourra ult\u00e9rieurement \u00eatre transf\u00e9r\u00e9e vers d’autres domaines d’application, permettant d’\u00e9largir la valeur ajout\u00e9e de ces d\u00e9veloppements pour l’industrie fran\u00e7aise et europ\u00e9enne.<\/p>\n
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L’\u00c9cole des Mines de Saint-\u00c9tienne s’engage dans le projet collaboratif europ\u00e9en \u00ab Failure Analysis 4.0 \u00bb, consacr\u00e9 \u00e0 l’un des grands d\u00e9fis li\u00e9s \u00e0 la digitalisation et \u00e0 l’automatisation : la pr\u00e9dictabilit\u00e9 des d\u00e9faillances lors de la production des puces et syst\u00e8mes \u00e9lectroniques. Port\u00e9 par ST Microelectronics et Infineon Technologies, autour d’un consortium de 14 partenaires industriels et acad\u00e9miques europ\u00e9ens, ce projet d\u00e9butera en avril 2020 et durera trois ans. Son objectif : d\u00e9velopper un processus automatis\u00e9 op\u00e9rationnel pour diagnostiquer et pr\u00e9venir les d\u00e9faillances et d\u00e9fauts de composants \u00e9lectroniques de plus en plus complexes, notamment en micro\u00e9lectronique et en Internet des objets (loT).<\/p>\n","protected":false},"author":9,"featured_media":69227,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[],"tags":[],"domains":[47],"ppma_author":[1141],"class_list":["post-69226","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","domains-electronique-eci"],"acf":[],"yoast_head":"