Sous l\u2019effet de l\u2019IA, les m\u00e9moires DRAM et flash montent en vitesse et adoptent des interfaces \u00e0 plus de canaux et la signalisation PAM3, afin de raccourcir l\u2019entra\u00eenement et de r\u00e9duire la latence d\u2019inf\u00e9rence. Les syst\u00e8mes de test doivent suivre avec davantage de broches, un parall\u00e9lisme accru et la prise en charge des signaux NRZ et PAM3, sans d\u00e9grader l\u2019int\u00e9grit\u00e9 du signal. Teradyne annonce Magnum E2, un syst\u00e8me de test m\u00e9moire haute vitesse destin\u00e9 aux technologies LPDDR6, DDR6, GDDR7 et flash NAND.<\/p>\n
Magnum E2 repose sur l\u2019architecture Near-DUT Test (NDT) de Teradyne, d\u00e9j\u00e0 au c\u0153ur de la plateforme Magnum EPIC largement d\u00e9ploy\u00e9e. Les instruments num\u00e9riques sont plac\u00e9s \u00e0 proximit\u00e9 du dispositif sous test afin de pr\u00e9server l\u2019int\u00e9grit\u00e9 du signal et la marge des signaux dynamiques, qui tend \u00e0 se r\u00e9duire dans les architectures conventionnelles.<\/p>\n
Le syst\u00e8me couvre aussi bien les essais de d\u00e9veloppement de nouveaux composants que le test de production, de la qualification jusqu\u2019aux grands volumes, sur une plateforme mat\u00e9rielle et logicielle commune. Les m\u00eames \u00e9quipements et environnements logiciels peuvent ainsi servir de la caract\u00e9risation des premiers \u00e9chantillons jusqu\u2019au test en s\u00e9rie.<\/p>\n
Magnum E2 prend en charge les signaux haute vitesse NRZ, PAM3 et PAM4, avec un g\u00e9n\u00e9rateur de motifs flexible et programmable. Les standards DRAM et NAND actuels et \u00e9mergents peuvent ainsi \u00eatre trait\u00e9s sans remplacer le syst\u00e8me de test.<\/p>\n
Une capacit\u00e9 de test logique int\u00e9gr\u00e9e accompagne par ailleurs la convergence entre test m\u00e9moire et test logique, ce qui permet de regrouper des \u00e9tapes et de simplifier les programmes de test.<\/p>\n
Pour Ben Han, pr\u00e9sident de la division Memory Test de Teradyne, la m\u00e9moire int\u00e9gr\u00e9e \u00e0 un acc\u00e9l\u00e9rateur d\u2019IA est aussi essentielle aux performances du syst\u00e8me que la puce de calcul, et les exigences de test n\u2019ont jamais \u00e9t\u00e9 aussi complexes. Avec l\u2019arriv\u00e9e de DRAM avanc\u00e9es et de flash NAND rapide pour les SSD d\u2019entreprise, les fabricants ne peuvent se permettre de choisir entre int\u00e9grit\u00e9 du signal et d\u00e9bit.<\/p>\n
Magnum E2 vise pr\u00e9cis\u00e9ment \u00e0 supprimer ce compromis, avec une plateforme qualifiable d\u00e8s aujourd\u2019hui et \u00e9volutive selon les besoins futurs.<\/p>\n
Teradyne positionne Magnum E2 sur l\u2019ensemble des m\u00e9moires de nouvelle g\u00e9n\u00e9ration, des centres de donn\u00e9es d\u00e9di\u00e9s \u00e0 l\u2019IA jusqu\u2019\u00e0 l\u2019edge computing. Les fabricants doivent tester \u00e0 des vitesses toujours plus \u00e9lev\u00e9es, avec des signaux d\u2019interface flexibles, davantage de parall\u00e9lisme et une prise en charge plus large des protocoles.<\/p>\n
L\u2019objectif est de leur fournir une base mat\u00e9rielle capable d\u2019accompagner plusieurs g\u00e9n\u00e9rations de technologies m\u00e9moire, en pr\u00e9servant les investissements dans les cellules de test existantes. La filiation avec Magnum EPIC doit aussi faciliter la reprise des programmes et des savoir-faire d\u00e9j\u00e0 acquis par les \u00e9quipes de test.<\/p>\n