\u00c0 mesure que les syst\u00e8mes sans fil deviennent distribu\u00e9s, d\u00e9finis par logiciel et fortement ax\u00e9s sur les antennes, le test RF ne peut plus se limiter \u00e0 la validation de composants isol\u00e9s : il faut caract\u00e9riser les interactions entre multiples chemins RF et radios synchronis\u00e9es. Emerson annonce de nouvelles capacit\u00e9s pour sa plateforme NI PXI : l\u2019analyseur de r\u00e9seau vectoriel quatre ports NI PXIe-5633 et des am\u00e9liorations logicielles ax\u00e9es sur la synchronisation pour le transcepteur de signaux vectoriels (VST) NI PXIe-5860. L\u2019ensemble cible les applications MIMO et la mesure de param\u00e8tres S multiports.<\/p>\n
Le NI PXIe-5633 \u00e9tend \u00e0 quatre ports les capacit\u00e9s d\u2019analyse de r\u00e9seau vectoriel de NI. Il r\u00e9pond \u00e0 des architectures de dispositifs plus complexes et aux nouvelles exigences de mesure multiport, alors que les syst\u00e8mes reposent de plus en plus sur des chemins RF multiples et des architectures distribu\u00e9es.<\/p>\n
Les ing\u00e9nieurs peuvent ainsi caract\u00e9riser le comportement de syst\u00e8mes entiers plut\u00f4t que de composants pris isol\u00e9ment. Ce besoin d\u00e9coule directement de l\u2019\u00e9volution des syst\u00e8mes sans fil, qui reposent sur des radios synchronis\u00e9es et des architectures \u00e0 antennes multiples, dont les performances d\u00e9pendent des interactions entre voies.<\/p>\n
C\u00f4t\u00e9 VST, les am\u00e9liorations logicielles du NI PXIe-5860 prennent en charge des flux de travail MIMO, multivoies et sensibles \u00e0 la synchronisation temporelle, pour r\u00e9pondre aux d\u00e9fis des tests sans fil de nouvelle g\u00e9n\u00e9ration.<\/p>\n
Pour Kevin Schultz, directeur de la technologie de NI au sein de l\u2019activit\u00e9 test et mesure d\u2019Emerson, les ing\u00e9nieurs ont besoin d\u2019architectures de test qui \u00e9voluent aussi vite que les technologies qu\u2019ils valident. Ces nouveaut\u00e9s traduisent, selon lui, la volont\u00e9 d\u2019Emerson d\u2019aider \u00e0 construire des infrastructures de test adaptables, capables de prendre en charge la validation au niveau syst\u00e8me et les futures innovations du sans-fil.<\/p>\n
La caract\u00e9risation des param\u00e8tres S peut \u00eatre men\u00e9e parall\u00e8lement aux mesures RF modul\u00e9es via une seule connexion RF. R\u00e9unir analyse de r\u00e9seau et mesures modul\u00e9es dans un m\u00eame syst\u00e8me PXI pilot\u00e9 par logiciel r\u00e9duit le nombre d\u2019instruments et de configurations distincts, tout en conservant une approche coh\u00e9rente de l\u2019automatisation.<\/p>\n
La plateforme vise ainsi \u00e0 \u00e9tendre les flux de mesure automatis\u00e9s, de la validation de conception jusqu\u2019\u00e0 la production, avec un syst\u00e8me \u00e9volutif et connect\u00e9 par logiciel. Un m\u00eame investissement mat\u00e9riel peut alors accompagner un produit sur plusieurs phases de son cycle de d\u00e9veloppement.<\/p>\n
Emerson a pr\u00e9sent\u00e9 ces capacit\u00e9s sur son stand A40B lors de l\u2019European Microwave Week, avec une d\u00e9monstration MIMO 4×4 associant le NI PXIe-5860 et le VNA quatre ports.<\/p>\n
Les applications vis\u00e9es couvrent la validation de semi-conducteurs, la recherche en communications sans fil, l\u2019a\u00e9rospatial et la d\u00e9fense, ainsi que les autres technologies RF reposant sur des architectures multi-antennes, multivoies et d\u00e9finies par logiciel.<\/p>\n