Avec l\u2019essor des technologies de communication de nouvelle g\u00e9n\u00e9ration, l\u2019\u00e9valuation des composants s\u2019\u00e9tend vers les bandes millim\u00e9triques et sub-t\u00e9rahertz. L\u2019Electronics and Telecommunications Research Institute (ETRI), l\u2019un des principaux instituts de recherche cor\u00e9ens, a retenu l\u2019analyseur de r\u00e9seau vectoriel (VNA) large bande VectorStar ME7838G d\u2019Anritsu pour la caract\u00e9risation et la v\u00e9rification de conception de dispositifs haute fr\u00e9quence bas\u00e9s sur des MMIC GaN. Le d\u00e9ploiement a permis de mettre en place une plateforme d\u2019\u00e9valuation d\u00e9di\u00e9e aux applications millim\u00e9triques et sub-THz.<\/p>\n
Pour am\u00e9liorer la pr\u00e9cision de conception et la pr\u00e9diction des performances de ses dispositifs \u00e0 base de MMIC GaN, l\u2019ETRI pratique une caract\u00e9risation large bande qui couvre non seulement la bande de fonctionnement, mais aussi les fr\u00e9quences harmoniques. Ce choix m\u00e9thodologique suppose de disposer d\u2019une instrumentation capable de mesurer sur une plage tr\u00e8s \u00e9tendue avec un niveau de confiance homog\u00e8ne.<\/p>\n
Les mesures sous pointes, r\u00e9alis\u00e9es directement sur la tranche, sont largement utilis\u00e9es dans ce but, car elles excluent l\u2019influence du bo\u00eetier et du montage sur les caract\u00e9ristiques mesur\u00e9es.<\/p>\n
Aux fr\u00e9quences millim\u00e9triques et sub-THz, les mesures sur wafer restent sensibles aux conditions de contact des pointes et aux effets du syst\u00e8me de mesure lui-m\u00eame. Ces facteurs g\u00e9n\u00e8rent facilement des variations entre mesures successives, ce qui complique la mise en place d\u2019une plateforme permettant de comparer de fa\u00e7on fiable donn\u00e9es de conception et donn\u00e9es mesur\u00e9es.<\/p>\n
La difficult\u00e9 s\u2019accentue lorsque la caract\u00e9risation exige de passer d\u2019un syst\u00e8me de mesure \u00e0 un autre selon la bande de fr\u00e9quences, chaque changement introduisant ses propres conditions de test.<\/p>\n
Le ME7838G r\u00e9pond \u00e0 ce probl\u00e8me en autorisant des mesures en un seul balayage jusqu\u2019\u00e0 220 GHz, de la bande millim\u00e9trique au sub-THz, sur une seule plateforme. L\u2019ETRI a ainsi construit une plateforme d\u2019\u00e9valuation sous pointes qui op\u00e8re dans des conditions de test coh\u00e9rentes sur toute la plage, sans changer d\u2019instrument entre les bandes de fr\u00e9quences.<\/p>\n
Il en r\u00e9sulte un environnement dans lequel les donn\u00e9es acquises sur une large bande passante peuvent \u00eatre compar\u00e9es aux donn\u00e9es de conception et analys\u00e9es dans des conditions homog\u00e8nes, avec un haut niveau de pr\u00e9cision. La reproductibilit\u00e9 des mesures s\u2019en trouve am\u00e9lior\u00e9e, de m\u00eame que la fiabilit\u00e9 de la v\u00e9rification de conception.<\/p>\n
Pour Anritsu, les technologies de mesure associant caract\u00e9risation large bande et forte reproductibilit\u00e9 prendront une importance croissante dans le d\u00e9veloppement de composants haute fr\u00e9quence pour la 6G et les communications par satellite de nouvelle g\u00e9n\u00e9ration. L\u2019ETRI m\u00e8ne justement des travaux sur ces technologies, ainsi que sur les semi-conducteurs avanc\u00e9s, dans le cadre de ses activit\u00e9s de recherche en technologies de l\u2019information et de la communication, en \u00e9lectronique et en semi-conducteurs.<\/p>\n
Le constructeur publie une \u00e9tude de cas, intitul\u00e9e \u00ab Establishing a High-Frequency Evaluation Platform to Support Foundry-Grade Quality \u00bb, qui d\u00e9taille la contribution de cette plateforme \u00e0 la v\u00e9rification de conception et \u00e0 la pr\u00e9cision de pr\u00e9diction des performances des MMIC GaN.<\/p>\n
Pour les \u00e9quipes qui con\u00e7oivent des MMIC GaN destin\u00e9s aux bandes millim\u00e9triques et sub-THz, le retour d\u2019exp\u00e9rience de l\u2019ETRI montre l\u2019int\u00e9r\u00eat d\u2019une mesure sous pointes en balayage unique jusqu\u2019\u00e0 220 GHz. L\u2019\u00e9tude de cas publi\u00e9e par Anritsu fournit le d\u00e9tail de la d\u00e9marche.<\/em><\/p>\n Anritsu<\/a> | Electronics and Telecommunications Research Institute (ETRI)<\/a><\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":" Avec l\u2019essor des technologies de communication de nouvelle g\u00e9n\u00e9ration, l\u2019\u00e9valuation des composants s\u2019\u00e9tend vers les bandes millim\u00e9triques et sub-t\u00e9rahertz. L\u2019Electronics and Telecommunications Research Institute (ETRI), l\u2019un des principaux instituts de recherche cor\u00e9ens, a retenu l\u2019analyseur de r\u00e9seau vectoriel (VNA) large bande VectorStar ME7838G d\u2019Anritsu pour la caract\u00e9risation et la v\u00e9rification de conception de dispositifs haute […]<\/p>\n","protected":false},"author":39,"featured_media":500352,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":"","_ppma_block_editor_authors":""},"categories":[886],"tags":[11896,2123,11876,6726,11895,11894,11877,11897,4015,6157],"domains":[47],"ppma_author":[6113],"class_list":["post-500341","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-news-fr","tag-220-ghz","tag-6g-fr","tag-analyseur-de-reseau-vectoriel","tag-coree-du-sud","tag-mesure-sous-pointes","tag-mmic-gan","tag-ondes-millimetriques","tag-sub-thz-fr","tag-test-mesure","tag-test-mesures","domains-electronique-eci"],"acf":[],"yoast_head":"