Toshiba Electronics Europe enrichit son portefeuille de photorelais avec les nouvelles r\u00e9f\u00e9rences TLP3487 et TLP3491, d\u00e9velopp\u00e9es pour les syst\u00e8mes de test de semi-conducteurs n\u00e9cessitant une commutation rapide, pr\u00e9cise et fiable des voies d\u2019alimentation et de signal.<\/p>\n
Alors que l\u2019industrie des semi-conducteurs exige des niveaux de pr\u00e9cision toujours plus \u00e9lev\u00e9s lors des phases de validation et de caract\u00e9risation des composants, les \u00e9quipements de test automatis\u00e9s doivent s\u2019appuyer sur des dispositifs de commutation capables de combiner faible courant de fuite, courant \u00e9lev\u00e9 et encombrement r\u00e9duit. Les nouveaux photorelais de Toshiba r\u00e9pondent pr\u00e9cis\u00e9ment \u00e0 ces contraintes.<\/p>\n
Dans les \u00e9quipements de test de semi-conducteurs, chaque broche du composant test\u00e9 doit \u00eatre aliment\u00e9e et mesur\u00e9e avec une grande exactitude.<\/p>\n
Les syst\u00e8mes ATE (Automated Test Equipment), les testeurs de m\u00e9moires, de circuits logiques haute vitesse ou de SoC utilisent des dispositifs de commutation pour s\u00e9lectionner et distribuer les signaux n\u00e9cessaires aux diff\u00e9rentes phases de validation. Le moindre courant parasite peut influencer les r\u00e9sultats et compromettre la pr\u00e9cision des mesures.<\/p>\n
La r\u00e9duction du courant de fuite constitue donc un objectif majeur pour les concepteurs de ces syst\u00e8mes.<\/p>\n
Les nouveaux TLP3491 et TLP3487 reposent sur une architecture MOSFET optimis\u00e9e.<\/p>\n
Ils sont capables de supporter un courant \u00e0 l\u2019\u00e9tat passant pouvant atteindre 2 A, tout en maintenant un courant de fuite extr\u00eamement faible \u00e0 l\u2019\u00e9tat bloqu\u00e9. Le TLP3491 affiche un courant de fuite de seulement 1 nA sous 40 V, tandis que le TLP3487 atteint 10 nA sous 60 V.<\/p>\n
Cette combinaison de caract\u00e9ristiques permet d\u2019am\u00e9liorer la qualit\u00e9 des mesures tout en r\u00e9pondant aux applications n\u00e9cessitant davantage de puissance.<\/p>\n
Lorsque les besoins en courant augmentent, les concepteurs ont souvent recours \u00e0 plusieurs relais mont\u00e9s en parall\u00e8le.<\/p>\n
Cette approche augmente l\u2019encombrement, le nombre de composants et parfois les courants de fuite cumul\u00e9s. Gr\u00e2ce \u00e0 leur capacit\u00e9 de commutation \u00e9lev\u00e9e, les nouveaux photorelais Toshiba permettent dans de nombreux cas d\u2019utiliser un seul composant \u00e0 la place de plusieurs dispositifs.<\/p>\n
Cette simplification facilite la conception tout en optimisant l\u2019espace disponible sur les cartes \u00e9lectroniques.<\/p>\n
Les deux composants sont propos\u00e9s dans un bo\u00eetier compact P-SON4 mesurant seulement 3,4 mm \u00d7 2,1 mm \u00d7 1,3 mm.<\/p>\n
Selon Toshiba, cet encombrement est environ 74 % inf\u00e9rieur \u00e0 celui des photorelais 2,54SOP4 comparables et environ 84 % inf\u00e9rieur \u00e0 celui des solutions en bo\u00eetier 2,54SOP6.<\/p>\n
Cette miniaturisation r\u00e9pond aux besoins des \u00e9quipements de test modernes o\u00f9 la densit\u00e9 d\u2019int\u00e9gration devient un facteur de plus en plus important.<\/p>\n
Les photorelais TLP3491 et TLP3487 fonctionnent dans une plage de temp\u00e9rature allant de -40 \u00b0C \u00e0 +110 \u00b0C.<\/p>\n
Cette capacit\u00e9 leur permet d\u2019\u00eatre utilis\u00e9s dans des environnements de test vari\u00e9s, aussi bien en laboratoire qu\u2019au sein de plateformes industrielles de production et de validation de semi-conducteurs.<\/p>\n
La stabilit\u00e9 des performances contribue \u00e0 garantir la r\u00e9p\u00e9tabilit\u00e9 des mesures dans le temps.<\/p>\n
Les nouveaux photorelais ciblent de nombreuses applications de test.<\/p>\n
Ils conviennent notamment aux \u00e9quipements ATE, aux instruments de mesure \u00e9lectroniques, aux plateformes de validation de circuits logiques haute vitesse, de m\u00e9moires, de SoC ainsi qu\u2019aux syst\u00e8mes p\u00e9riph\u00e9riques utilis\u00e9s dans les environnements de caract\u00e9risation et de production.<\/p>\n
Cette polyvalence renforce leur int\u00e9r\u00eat pour les architectures de test actuelles et futures.<\/p>\n