Dans un contexte de forte croissance des communications satellitaires et des syst\u00e8mes de d\u00e9fense, les exigences en mati\u00e8re de tests RF continuent de s\u2019intensifier. Pour r\u00e9pondre \u00e0 ces enjeux, Rohde & Schwarz organise la seconde \u00e9dition de son RF Testing Innovations Forum, un \u00e9v\u00e9nement virtuel qui se tiendra le 20 mai 2026.<\/p>\n
Ce forum r\u00e9unira des experts de l\u2019industrie afin de partager des solutions concr\u00e8tes et des m\u00e9thodologies avanc\u00e9es pour les applications RF les plus exigeantes, couvrant notamment les domaines du sub\u2011THz, de la caract\u00e9risation de composants et de la validation des performances.<\/p>\n
L\u2019\u00e9volution des technologies RF, notamment dans les secteurs a\u00e9ronautique et d\u00e9fense, impose de nouvelles contraintes aux ing\u00e9nieurs. L\u2019augmentation des fr\u00e9quences, la complexit\u00e9 des architectures et les exigences de performance n\u00e9cessitent des m\u00e9thodes de test plus pr\u00e9cises et plus avanc\u00e9es.<\/p>\n
Le forum abordera ces probl\u00e9matiques \u00e0 travers des pr\u00e9sentations d\u2019experts issus de soci\u00e9t\u00e9s comme Dassault Syst\u00e8mes, FormFactor et Focus Microwaves, aux c\u00f4t\u00e9s de Rohde & Schwarz.<\/p>\n
L\u2019une des sessions cl\u00e9s portera sur les moyens d\u2019optimiser la commercialisation des composants RF, en lien avec la croissance des applications satellitaires et de d\u00e9fense. L\u2019analyse des architectures RF permettra de d\u00e9finir les exigences de test adapt\u00e9es et de r\u00e9duire les d\u00e9lais de validation.<\/p>\n
Cette approche vise \u00e0 aider les ing\u00e9nieurs \u00e0 concilier performance technique et rapidit\u00e9 de d\u00e9veloppement.<\/p>\n
Le forum mettra \u00e9galement en lumi\u00e8re l\u2019importance des mesures de phase absolue sur une large bande de fr\u00e9quences, souvent sous\u2011estim\u00e9es. Les participants pourront d\u00e9couvrir diff\u00e9rentes strat\u00e9gies de calibration de phase, ainsi que des \u00e9tudes de cas li\u00e9es \u00e0 l\u2019utilisation de g\u00e9n\u00e9rateurs de peignes et \u00e0 la validation de convertisseurs de fr\u00e9quence.<\/p>\n
Ces aspects sont essentiels pour garantir la coh\u00e9rence des mesures dans des environnements RF complexes.<\/p>\n
Une d\u00e9monstration en direct pr\u00e9sentera les bonnes pratiques pour les mesures S sur wafer en bande D, jusqu\u2019\u00e0 170\u202fGHz, \u00e0 l\u2019aide d\u2019un analyseur de r\u00e9seau vectoriel R&S ZNA. Cette session illustrera les d\u00e9fis li\u00e9s \u00e0 la pr\u00e9cision, \u00e0 la stabilit\u00e9 et \u00e0 la reproductibilit\u00e9 des mesures \u00e0 tr\u00e8s haute fr\u00e9quence.<\/p>\n
Ces capacit\u00e9s sont cruciales pour la caract\u00e9risation des dispositifs de nouvelle g\u00e9n\u00e9ration.<\/p>\n
La conf\u00e9rence abordera \u00e9galement la mesure des param\u00e8tres de bruit jusqu\u2019\u00e0 67\u202fGHz, un enjeu d\u00e9terminant pour les amplificateurs \u00e0 faible bruit (LNA). Ces composants jouent un r\u00f4le cl\u00e9 dans la sensibilit\u00e9 globale des syst\u00e8mes RF, notamment dans les applications satellitaires et quantiques.<\/p>\n
Les m\u00e9thodes d\u2019analyse pr\u00e9sent\u00e9es permettront d\u2019am\u00e9liorer la pr\u00e9cision des mesures et la compr\u00e9hension des performances syst\u00e8me.<\/p>\n