Face \u00e0 l\u2019augmentation massive de la complexit\u00e9, de la valeur et des exigences d\u2019int\u00e9grit\u00e9 des signaux, Omnyx introduit une architecture de test qui combine, au sein d\u2019un m\u00eame syst\u00e8me :<\/p>\n
L\u2019objectif<\/strong> : r\u00e9duire drastiquement les d\u00e9fauts non d\u00e9tect\u00e9s, am\u00e9liorer le rendement final et renforcer la fiabilit\u00e9 des assemblages destin\u00e9s aux environnements IA.<\/p>\n Les cartes de nouvelle g\u00e9n\u00e9ration utilis\u00e9es :<\/p>\n d\u00e9passent les limites des plateformes ICT classiques, historiquement con\u00e7ues pour d\u00e9tecter uniquement les d\u00e9fauts structurels et param\u00e9triques post\u2011assemblage.<\/p>\n Omnyx r\u00e9pond \u00e0 ces d\u00e9fis en incorporant des capacit\u00e9s :<\/p>\n R\u00e9sultat<\/strong> : une visibilit\u00e9 compl\u00e8te sur les d\u00e9fauts habituellement identifi\u00e9s beaucoup trop tard, en phase de test fonctionnel ou, pire, en d\u00e9ploiement.<\/p>\n Gr\u00e2ce \u00e0 ses tests \u00e0 vitesse r\u00e9elle, Omnyx permet de d\u00e9tecter :<\/p>\n Teradyne offre ainsi une plateforme unique capable :<\/p>\nPourquoi les testeurs ICT traditionnels ne suffisent plus<\/h4>\n
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Omnyx : une couverture de test unifi\u00e9e qui r\u00e9duit les retouches et am\u00e9liore la qualit\u00e9 en fin de ligne<\/h4>\n
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