{"id":490681,"date":"2026-01-27T03:47:37","date_gmt":"2026-01-27T02:47:37","guid":{"rendered":"https:\/\/www.ecinews.fr\/?p=490681"},"modified":"2026-01-27T03:47:49","modified_gmt":"2026-01-27T02:47:49","slug":"omron-optimise-les-equipements-de-test-avec-ses-nouveaux-relais-mosfet-ultra-compacts-et-rapides","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/omron-optimise-les-equipements-de-test-avec-ses-nouveaux-relais-mosfet-ultra-compacts-et-rapides\/","title":{"rendered":"OMRON optimise les \u00e9quipements de test avec ses nouveaux relais MOSFET ultra-compacts et rapides"},"content":{"rendered":"<h3>OMRON Electronic Components Europe pr\u00e9sente une nouvelle g\u00e9n\u00e9ration de relais MOSFET G3VM, sp\u00e9cialement con\u00e7us pour les \u00e9quipements de test et de mesure avanc\u00e9s.<\/h3>\n<h4>Des relais de signal con\u00e7us pour la pr\u00e9cision et la haute densit\u00e9<\/h4>\n<p>Ces relais se distinguent par leur r\u00e9ponse ultra-rapide, leur faible capacit\u00e9 parasite et un bo\u00eetier extr\u00eamement compact, id\u00e9al pour les architectures \u00e9lectroniques modernes.<\/p>\n<p>Log\u00e9s dans un bo\u00eetier S\u2011VSON(L) de seulement 2 \u00d7 1,45 mm, et pesant moins de 0,01 g, ils permettent une densit\u00e9 de montage \u00e9lev\u00e9e tout en s\u2019int\u00e9grant facilement dans les designs les plus contraints. Avec une capacit\u00e9 broche\u2011\u00e0\u2011broche de 0,6 pF et un temps de commutation de 0,08 ms (ON) \/ 0,12 ms (OFF), ces relais r\u00e9pondent parfaitement aux besoins des testeurs logiques ultra-rapides et des \u00e9quipements de test automatiques.<\/p>\n<p>Ils garantissent \u00e9galement une extr\u00eame pr\u00e9cision des mesures gr\u00e2ce \u00e0 un courant de fuite r\u00e9duit \u00e0 1 nA.<\/p>\n<h4>R\u00e9pondre aux exigences des technologies \u00e9mergentes<\/h4>\n<p>Les secteurs des semi\u2011conducteurs, de la 5G et de la robotique autonome imposent une \u00e9volution constante :<\/p>\n<ul>\n<li>davantage de canaux,<\/li>\n<li>des cycles de test plus rapides,<\/li>\n<li>une plage de fr\u00e9quence plus \u00e9lev\u00e9e,<\/li>\n<li>une pr\u00e9cision am\u00e9lior\u00e9e.<\/li>\n<\/ul>\n<p>Les nouveaux mod\u00e8les G3VM\u201121QR, G3VM\u201121QR1 (20 V) et G3VM\u201141QR4 (40 V) r\u00e9pondent pleinement \u00e0 ces besoins, en offrant aux ing\u00e9nieurs des relais fiables, rapides et con\u00e7us pour des mesures haute performance.<\/p>\n<h4>Miniaturisation maximale et performances ma\u00eetris\u00e9es<\/h4>\n<p>Les versions 1a (SPST-NO), normalement ouvertes, sont celles offrant la plus faible capacit\u00e9 et r\u00e9sistance de toute la s\u00e9rie G3VM. Cela se traduit par :<\/p>\n<ul>\n<li>une commutation plus r\u00e9active,<\/li>\n<li>un nombre de mesures accru par cycle,<\/li>\n<li>un niveau de pr\u00e9cision sup\u00e9rieur.<\/li>\n<\/ul>\n<p>Leur bo\u00eetier 4 broches ultra\u2011miniaturis\u00e9, 18 % plus petit que le VSON classique, permet d\u2019augmenter le nombre de canaux par carte tout en facilitant la transition des relais m\u00e9caniques vers des relais MOSFET plus fiables et plus durables.<\/p>\n<p><em>Cette annonce nous pr\u00e9sente de nouveaux relais permettant de concevoir des \u00e9quipements de test plus rapides, plus compacts et plus pr\u00e9cis \u2014 un enjeu strat\u00e9gique dans un contexte o\u00f9 les semi\u2011conducteurs et les technologies haut d\u00e9bit exigent des inspections plus fines et des cadences toujours plus \u00e9lev\u00e9es.<\/em><\/p>\n<p><a href=\"https:\/\/www.omron.com\/\">OMRON Corporation<\/a><\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>OMRON Electronic Components Europe pr\u00e9sente une nouvelle g\u00e9n\u00e9ration de relais MOSFET G3VM, sp\u00e9cialement con\u00e7us pour les \u00e9quipements de test et de mesure avanc\u00e9s. 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