{"id":469041,"date":"2024-12-31T22:04:59","date_gmt":"2024-12-31T21:04:59","guid":{"rendered":"https:\/\/www.ecinews.fr\/?p=469041"},"modified":"2024-12-31T22:04:59","modified_gmt":"2024-12-31T21:04:59","slug":"sourcemetre-modulaire-de-haute-precision-pour-accelerer-le-developpement-de-dispositifs-semi-conducteurs","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/sourcemetre-modulaire-de-haute-precision-pour-accelerer-le-developpement-de-dispositifs-semi-conducteurs\/","title":{"rendered":"Sourcem\u00e8tre modulaire de haute pr\u00e9cision pour acc\u00e9l\u00e9rer le d\u00e9veloppement de dispositifs semi-conducteurs"},"content":{"rendered":"<h3 class=\"western\" lang=\"fr-FR\"><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\">R\u00e9pondant aux diff\u00e9rents besoins de densit\u00e9 des dispositifs semi-conducteurs et de communication, la s\u00e9rie AQ2300 de Yokogawa Test &amp; Measurement , SMU (Source Measure Unit) haute performance et haute vitesse, offre une g\u00e9n\u00e9ration d\u2019impulsions de haute qualit\u00e9, ainsi qu\u2019une g\u00e9n\u00e9ration et des mesures pr\u00e9cises de tension et de courant. <\/span><\/span><\/span><\/h3>\n<p class=\"western\" lang=\"fr-FR\"><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\">Gr\u00e2ce \u00e0 ses caract\u00e9ristiques de productivit\u00e9 et d\u2019extensibilit\u00e9 intrins\u00e8ques, le module SMU \u00e0 2 canaux permet \u00e9galement de gagner du temps et de l\u2019espace lors des fonctions de mesure complexes, essentielles pour les dispositifs semi-conducteurs.<\/span><\/span><\/span><\/p>\n<p class=\"western\" lang=\"fr-FR\"><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\"><b>Contexte du d\u00e9veloppement<\/b><\/span><\/span><\/span><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\"><br \/>\nLa prolif\u00e9ration des smartphones et tablettes, la mont\u00e9e de l\u2019IA (Intelligence Artificielle) et l\u2019expansion des v\u00e9hicules autonomes augmentent le besoin d\u2019infrastructures de communication pour am\u00e9liorer les vitesses et r\u00e9pondre aux futures demandes \u00e9nerg\u00e9tiques. Pour les dispositifs laser en particulier, les ing\u00e9nieurs doivent r\u00e9aliser une alimentation pr\u00e9cise en signaux principalement de courant pour optimiser le contr\u00f4le laser, en ajustant les entr\u00e9es pour mesurer avec pr\u00e9cision la sortie de lumi\u00e8re laser. Yokogawa a donc d\u00e9velopp\u00e9 sa nouvelle s\u00e9rie AQ2300 avec des niveaux \u00e9lev\u00e9s de pr\u00e9cision, de fonctionnalit\u00e9 et de modularit\u00e9 pour suivre la miniaturisation des dispositifs de prochaine g\u00e9n\u00e9ration et la complexit\u00e9 croissante des mesures requises pour l\u2019\u00e9valuation en R&amp;D.<\/span><\/span><\/span><\/p>\n<p class=\"western\" lang=\"fr-FR\"><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\"><b>Caract\u00e9ristiques principales<\/b><\/span><\/span><\/span><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\"><br \/>\nLe SMU modulaire de la s\u00e9rie AQ2300 permet aux utilisateurs de s\u00e9lectionner le nombre de canaux requis (jusqu\u2019\u00e0 18) pour r\u00e9pondre aux besoins du syst\u00e8me dans un espace limit\u00e9, favorisant ainsi une exploitation efficace des installations.<\/span><\/span><\/span><\/p>\n<p class=\"western\" lang=\"fr-FR\"><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\">La g\u00e9n\u00e9ration d\u2019ondes d\u2019impulsion de haute qualit\u00e9 (largeur de 50 <\/span><\/span><\/span><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\">\u03bcs<\/span><\/span><\/span><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\">) est \u00e9galement une caract\u00e9ristique importante. Cette fonction permet de r\u00e9duire la chaleur g\u00e9n\u00e9r\u00e9e par le dispositif lors des tests, rendant les mesures plus pr\u00e9cises. Les temps de mont\u00e9e et de descente peuvent \u00eatre perturb\u00e9s par le dispositif ou le c\u00e2blage, mais en ajustant les param\u00e8tres, une forme d\u2019onde de sortie fluide peut \u00eatre obtenue.<\/span><\/span><\/span><\/p>\n<p class=\"western\" lang=\"fr-FR\"><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\">L\u2019interop\u00e9rabilit\u00e9 est une autre caract\u00e9ristique notable. Les SMU de la s\u00e9rie AQ2300 poss\u00e8dent des ports de d\u00e9clenchement non seulement sur le ch\u00e2ssis, mais aussi sur chaque canal SMU. De plus, la fonction de synchronisation sur le ch\u00e2ssis permet une s\u00e9lection flexible de la m\u00e9thode de connexion. En tout, trois fonctions de synchronisation de d\u00e9clenchement sont disponibles :<\/span><\/span><\/span><\/p>\n<ul>\n<li>\n<p class=\"western\" lang=\"fr-FR\"><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\">Synchronisation des ch\u00e2ssis avec des \u00e9quipements externes<\/span><\/span><\/span><\/p>\n<\/li>\n<li>\n<p class=\"western\" lang=\"fr-FR\"><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\">Synchronisation du canal SMU avec des \u00e9quipements externes<\/span><\/span><\/span><\/p>\n<\/li>\n<li>\n<p class=\"western\" lang=\"fr-FR\"><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\">Synchronisation entre les canaux du SMU. <\/span><\/span><\/span><\/p>\n<\/li>\n<\/ul>\n<p class=\"western\" lang=\"fr-FR\"><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\">Le ch\u00e2ssis peut \u00e9galement comporter une interface d\u2019E\/S num\u00e9rique permettant la coop\u00e9ration avec des dispositifs externes. Les ch\u00e2ssis sont disponibles en version \u00e0 3 ou 9 emplacements, s\u2019adaptant de mani\u00e8re flexible aux petits et moyens syst\u00e8mes de mesure. De plus, la s\u00e9rie AQ2300 offre un contr\u00f4le flexible du temps de mesure, am\u00e9liorant ainsi la performance globale du syst\u00e8me.<\/span><\/span><\/span><\/p>\n<p class=\"western\" lang=\"fr-FR\"><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\">En ce qui concerne la productivit\u00e9, la s\u00e9rie AQ2300 permet d\u2019effectuer des mesures simultan\u00e9es de tension et de courant. En acc\u00e9l\u00e9rant la communication \u00e0 l\u2019int\u00e9rieur du ch\u00e2ssis et entre le ch\u00e2ssis et un PC, le nouveau SMU am\u00e9liore l\u2019efficacit\u00e9 du travail, o\u00f9 le transfert rapide des donn\u00e9es r\u00e9duit le temps total de mesure et am\u00e9liore consid\u00e9rablement l\u2019efficacit\u00e9 op\u00e9rationnelle.<\/span><\/span><\/span><\/p>\n<p class=\"western\" lang=\"fr-FR\"><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\"><b>March\u00e9s cibles principaux<\/b><\/span><\/span><\/span><\/p>\n<ul>\n<li>\n<p class=\"western\" lang=\"fr-FR\"><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\">Instituts de R&amp;D d\u00e9veloppant des nouveaux dispositifs de communication optique<\/span><\/span><\/span><\/p>\n<\/li>\n<li>\n<p class=\"western\" lang=\"fr-FR\"><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\">Fabricants de composants optiques, tels que des diodes laser, des photodiodes, des LED et des modulateurs<\/span><\/span><\/span><\/p>\n<\/li>\n<li>\n<p class=\"western\" lang=\"fr-FR\"><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\">Fabricants de composants semi-conducteurs \u00e9lectriques, tels que des transistors et des FET (transistors \u00e0 effet de champ)<\/span><\/span><\/span><\/p>\n<\/li>\n<\/ul>\n<p class=\"western\" lang=\"fr-FR\"><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\"><b>Applications<\/b><\/span><\/span><\/span><\/p>\n<ul>\n<li>\n<p class=\"western\" lang=\"fr-FR\"><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\">Tests statiques de modules de diodes laser : La s\u00e9rie AQ2300 peut g\u00e9n\u00e9rer diff\u00e9rentes tensions ou courants \u00e0 partir de plusieurs canaux et utiliser la fonction de synchronisation de balayage pour mesurer les caract\u00e9ristiques I\/V ou I\/L des dispositifs de communication optique tels que les diodes laser. <\/span><\/span><\/span><\/p>\n<\/li>\n<\/ul>\n<p class=\"western\" lang=\"fr-FR\"><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\">Elle peut \u00e9galement effectuer des mesures de longueur d\u2019onde-I sur les photodiodes en synchronisation avec une source laser accordable.<\/span><\/span><\/span><\/p>\n<ul>\n<li>\n<p class=\"western\" lang=\"fr-FR\"><span style=\"color: #000000;\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\">Tests des caract\u00e9ristiques des filtres de modules photodiode WDM (multiplexage par r\u00e9partition en longueur d\u2019onde) : La s\u00e9rie AQ2300 peut g\u00e9n\u00e9rer diff\u00e9rentes tensions ou courants \u00e0 partir de plusieurs canaux WDM et utiliser la fonction de synchronisation de balayage pour mesurer les caract\u00e9ristiques de filtre de chaque canal individuel.<\/span><\/span><\/span><\/p>\n<\/li>\n<\/ul>\n<p class=\"western\" lang=\"fr-FR\"><span style=\"color: #0000ff;\"><u><a href=\"https:\/\/www.yokogawa.com\/\"><span style=\"font-family: Open Sans, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\">Yokogawa Test &amp; Measurement Corporation<\/span><\/span><\/a><\/u><\/span><\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>R\u00e9pondant aux diff\u00e9rents besoins de densit\u00e9 des dispositifs semi-conducteurs et de communication, la s\u00e9rie AQ2300 de Yokogawa Test &amp; Measurement , SMU (Source Measure Unit) haute performance et haute vitesse, offre une g\u00e9n\u00e9ration d\u2019impulsions de haute qualit\u00e9, ainsi qu\u2019une g\u00e9n\u00e9ration et des mesures pr\u00e9cises de tension et de courant. Gr\u00e2ce \u00e0 ses caract\u00e9ristiques de productivit\u00e9 [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":39,"featured_media":469042,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[881],"tags":[8590,8589,4015,6157],"domains":[47],"ppma_author":[6113],"class_list":["post-469041","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-nouveaux-produits","tag-smu","tag-sourcemetre","tag-test-mesure","tag-test-mesures","domains-electronique-eci"],"acf":[],"yoast_head":"<title>Sourcem\u00e8tre modulaire de haute pr\u00e9cision pour acc\u00e9l\u00e9rer le ...<\/title>\n<meta name=\"description\" content=\"R\u00e9pondant aux diff\u00e9rents besoins de densit\u00e9 des dispositifs semi-conducteurs et de communication, la s\u00e9rie AQ2300 de Yokogawa Test &amp; Measurement , SMU...\" \/>\n<meta name=\"robots\" content=\"index, follow, max-snippet:-1, max-image-preview:large, max-video-preview:-1\" \/>\n<link rel=\"canonical\" href=\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/469041\/\" \/>\n<meta property=\"og:locale\" content=\"fr_FR\" \/>\n<meta property=\"og:type\" content=\"article\" \/>\n<meta property=\"og:title\" content=\"Sourcem\u00e8tre modulaire de haute pr\u00e9cision pour acc\u00e9l\u00e9rer le d\u00e9veloppement de dispositifs semi-conducteurs\" \/>\n<meta property=\"og:description\" content=\"R\u00e9pondant aux diff\u00e9rents besoins de densit\u00e9 des dispositifs semi-conducteurs et de communication, la s\u00e9rie AQ2300 de Yokogawa Test &amp; Measurement , SMU (Source Measure Unit) haute performance et haute vitesse, offre une g\u00e9n\u00e9ration d\u2019impulsions de haute qualit\u00e9, ainsi qu\u2019une g\u00e9n\u00e9ration et des mesures pr\u00e9cises de tension et de courant.\" \/>\n<meta property=\"og:url\" content=\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/469041\/\" \/>\n<meta property=\"og:site_name\" content=\"EENewsEurope\" \/>\n<meta property=\"article:published_time\" content=\"2024-12-31T21:04:59+00:00\" \/>\n<meta property=\"og:image\" content=\"https:\/\/www.ecinews.fr\/wp-content\/uploads\/2024\/12\/ECI4706-PR004-2024-MATS-frame-controller-SMU_AQ2300_FR_FINAL-scaled.jpg\" \/>\n\t<meta property=\"og:image:width\" content=\"1080\" \/>\n\t<meta property=\"og:image:height\" content=\"720\" \/>\n\t<meta property=\"og:image:type\" content=\"image\/jpeg\" \/>\n<meta name=\"author\" content=\"NicolasFeste\" \/>\n<meta name=\"twitter:card\" content=\"summary_large_image\" \/>\n<meta name=\"twitter:label1\" content=\"Written by\" \/>\n\t<meta name=\"twitter:data1\" content=\"NicolasFeste\" \/>\n\t<meta name=\"twitter:label2\" content=\"Est. reading time\" \/>\n\t<meta name=\"twitter:data2\" content=\"3 minutes\" \/>\n<script type=\"application\/ld+json\" class=\"yoast-schema-graph\">{\"@context\":\"https:\/\/schema.org\",\"@graph\":[{\"@type\":\"Article\",\"@id\":\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/sourcemetre-modulaire-de-haute-precision-pour-accelerer-le-developpement-de-dispositifs-semi-conducteurs\/#article\",\"isPartOf\":{\"@id\":\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/sourcemetre-modulaire-de-haute-precision-pour-accelerer-le-developpement-de-dispositifs-semi-conducteurs\/\"},\"author\":{\"name\":\"NicolasFeste\",\"@id\":\"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/#\/schema\/person\/c7104a72b466a801f257e51481de0c43\"},\"headline\":\"Sourcem\u00e8tre modulaire de haute pr\u00e9cision pour acc\u00e9l\u00e9rer le d\u00e9veloppement de dispositifs semi-conducteurs\",\"datePublished\":\"2024-12-31T21:04:59+00:00\",\"dateModified\":\"2024-12-31T21:04:59+00:00\",\"mainEntityOfPage\":{\"@id\":\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/sourcemetre-modulaire-de-haute-precision-pour-accelerer-le-developpement-de-dispositifs-semi-conducteurs\/\"},\"wordCount\":783,\"publisher\":{\"@id\":\"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/#organization\"},\"keywords\":[\"SMU\",\"Sourcem\u00e8tre\",\"Test &amp; Mesure\",\"Test &amp; mesures\"],\"articleSection\":[\"Nouveaux produits\"],\"inLanguage\":\"fr-FR\"},{\"@type\":\"WebPage\",\"@id\":\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/sourcemetre-modulaire-de-haute-precision-pour-accelerer-le-developpement-de-dispositifs-semi-conducteurs\/\",\"url\":\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/sourcemetre-modulaire-de-haute-precision-pour-accelerer-le-developpement-de-dispositifs-semi-conducteurs\/\",\"name\":\"Sourcem\u00e8tre modulaire de haute pr\u00e9cision pour acc\u00e9l\u00e9rer le d\u00e9veloppement de dispositifs semi-conducteurs -\",\"isPartOf\":{\"@id\":\"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/#website\"},\"datePublished\":\"2024-12-31T21:04:59+00:00\",\"dateModified\":\"2024-12-31T21:04:59+00:00\",\"description\":\"R\u00e9pondant aux diff\u00e9rents besoins de densit\u00e9 des dispositifs semi-conducteurs et de communication, la s\u00e9rie AQ2300 de Yokogawa Test & Measurement , SMU (Source Measure Unit) haute performance et haute vitesse, offre une g\u00e9n\u00e9ration d\u2019impulsions de haute qualit\u00e9, ainsi qu\u2019une g\u00e9n\u00e9ration et des mesures pr\u00e9cises de tension et de courant.\",\"breadcrumb\":{\"@id\":\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/sourcemetre-modulaire-de-haute-precision-pour-accelerer-le-developpement-de-dispositifs-semi-conducteurs\/#breadcrumb\"},\"inLanguage\":\"fr-FR\",\"potentialAction\":[{\"@type\":\"ReadAction\",\"target\":[\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/sourcemetre-modulaire-de-haute-precision-pour-accelerer-le-developpement-de-dispositifs-semi-conducteurs\/\"]}]},{\"@type\":\"BreadcrumbList\",\"@id\":\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/sourcemetre-modulaire-de-haute-precision-pour-accelerer-le-developpement-de-dispositifs-semi-conducteurs\/#breadcrumb\",\"itemListElement\":[{\"@type\":\"ListItem\",\"position\":1,\"name\":\"Home\",\"item\":\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/\"},{\"@type\":\"ListItem\",\"position\":2,\"name\":\"Sourcem\u00e8tre modulaire de haute pr\u00e9cision pour acc\u00e9l\u00e9rer le d\u00e9veloppement de dispositifs semi-conducteurs\"}]},{\"@type\":\"WebSite\",\"@id\":\"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/#website\",\"url\":\"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/\",\"name\":\"EENewsEurope\",\"description\":\"Just another WordPress site\",\"publisher\":{\"@id\":\"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/#organization\"},\"potentialAction\":[{\"@type\":\"SearchAction\",\"target\":{\"@type\":\"EntryPoint\",\"urlTemplate\":\"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/?s={search_term_string}\"},\"query-input\":\"required name=search_term_string\"}],\"inLanguage\":\"fr-FR\"},{\"@type\":\"Organization\",\"@id\":\"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/#organization\",\"name\":\"EENewsEurope\",\"url\":\"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/\",\"logo\":{\"@type\":\"ImageObject\",\"inLanguage\":\"fr-FR\",\"@id\":\"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/#\/schema\/logo\/image\/\",\"url\":\"https:\/\/www.ecinews.fr\/wp-content\/uploads\/2022\/02\/logo-1.jpg\",\"contentUrl\":\"https:\/\/www.ecinews.fr\/wp-content\/uploads\/2022\/02\/logo-1.jpg\",\"width\":283,\"height\":113,\"caption\":\"EENewsEurope\"},\"image\":{\"@id\":\"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/#\/schema\/logo\/image\/\"}},{\"@type\":\"Person\",\"@id\":\"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/#\/schema\/person\/c7104a72b466a801f257e51481de0c43\",\"name\":\"NicolasFeste\",\"image\":{\"@type\":\"ImageObject\",\"inLanguage\":\"fr-FR\",\"@id\":\"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/#\/schema\/person\/image\/1ea421e7d03c1e96a9ea2bcf2705734a\",\"url\":\"https:\/\/secure.gravatar.com\/avatar\/2e187f4d96902933ba445ed6c760e11c?s=96&d=mm&r=g\",\"contentUrl\":\"https:\/\/secure.gravatar.com\/avatar\/2e187f4d96902933ba445ed6c760e11c?s=96&d=mm&r=g\",\"caption\":\"NicolasFeste\"}}]}<\/script>","yoast_head_json":{"title":"Sourcem\u00e8tre modulaire de haute pr\u00e9cision pour acc\u00e9l\u00e9rer le ...","description":"R\u00e9pondant aux diff\u00e9rents besoins de densit\u00e9 des dispositifs semi-conducteurs et de communication, la s\u00e9rie AQ2300 de Yokogawa Test & Measurement , SMU...","robots":{"index":"index","follow":"follow","max-snippet":"max-snippet:-1","max-image-preview":"max-image-preview:large","max-video-preview":"max-video-preview:-1"},"canonical":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/469041\/","og_locale":"fr_FR","og_type":"article","og_title":"Sourcem\u00e8tre modulaire de haute pr\u00e9cision pour acc\u00e9l\u00e9rer le d\u00e9veloppement de dispositifs semi-conducteurs","og_description":"R\u00e9pondant aux diff\u00e9rents besoins de densit\u00e9 des dispositifs semi-conducteurs et de communication, la s\u00e9rie AQ2300 de Yokogawa Test & Measurement , SMU (Source Measure Unit) haute performance et haute vitesse, offre une g\u00e9n\u00e9ration d\u2019impulsions de haute qualit\u00e9, ainsi qu\u2019une g\u00e9n\u00e9ration et des mesures pr\u00e9cises de tension et de courant.","og_url":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/469041\/","og_site_name":"EENewsEurope","article_published_time":"2024-12-31T21:04:59+00:00","og_image":[{"width":1080,"height":720,"url":"https:\/\/www.ecinews.fr\/wp-content\/uploads\/2024\/12\/ECI4706-PR004-2024-MATS-frame-controller-SMU_AQ2300_FR_FINAL-scaled.jpg","type":"image\/jpeg"}],"author":"NicolasFeste","twitter_card":"summary_large_image","twitter_misc":{"Written by":"NicolasFeste","Est. reading time":"3 minutes"},"schema":{"@context":"https:\/\/schema.org","@graph":[{"@type":"Article","@id":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/sourcemetre-modulaire-de-haute-precision-pour-accelerer-le-developpement-de-dispositifs-semi-conducteurs\/#article","isPartOf":{"@id":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/sourcemetre-modulaire-de-haute-precision-pour-accelerer-le-developpement-de-dispositifs-semi-conducteurs\/"},"author":{"name":"NicolasFeste","@id":"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/#\/schema\/person\/c7104a72b466a801f257e51481de0c43"},"headline":"Sourcem\u00e8tre modulaire de haute pr\u00e9cision pour acc\u00e9l\u00e9rer le d\u00e9veloppement de dispositifs semi-conducteurs","datePublished":"2024-12-31T21:04:59+00:00","dateModified":"2024-12-31T21:04:59+00:00","mainEntityOfPage":{"@id":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/sourcemetre-modulaire-de-haute-precision-pour-accelerer-le-developpement-de-dispositifs-semi-conducteurs\/"},"wordCount":783,"publisher":{"@id":"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/#organization"},"keywords":["SMU","Sourcem\u00e8tre","Test &amp; Mesure","Test &amp; mesures"],"articleSection":["Nouveaux produits"],"inLanguage":"fr-FR"},{"@type":"WebPage","@id":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/sourcemetre-modulaire-de-haute-precision-pour-accelerer-le-developpement-de-dispositifs-semi-conducteurs\/","url":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/sourcemetre-modulaire-de-haute-precision-pour-accelerer-le-developpement-de-dispositifs-semi-conducteurs\/","name":"Sourcem\u00e8tre modulaire de haute pr\u00e9cision pour acc\u00e9l\u00e9rer le d\u00e9veloppement de dispositifs semi-conducteurs -","isPartOf":{"@id":"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/#website"},"datePublished":"2024-12-31T21:04:59+00:00","dateModified":"2024-12-31T21:04:59+00:00","description":"R\u00e9pondant aux diff\u00e9rents besoins de densit\u00e9 des dispositifs semi-conducteurs et de communication, la s\u00e9rie AQ2300 de Yokogawa Test & Measurement , SMU (Source Measure Unit) haute performance et haute vitesse, offre une g\u00e9n\u00e9ration d\u2019impulsions de haute qualit\u00e9, ainsi qu\u2019une g\u00e9n\u00e9ration et des mesures pr\u00e9cises de tension et de courant.","breadcrumb":{"@id":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/sourcemetre-modulaire-de-haute-precision-pour-accelerer-le-developpement-de-dispositifs-semi-conducteurs\/#breadcrumb"},"inLanguage":"fr-FR","potentialAction":[{"@type":"ReadAction","target":["https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/sourcemetre-modulaire-de-haute-precision-pour-accelerer-le-developpement-de-dispositifs-semi-conducteurs\/"]}]},{"@type":"BreadcrumbList","@id":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/sourcemetre-modulaire-de-haute-precision-pour-accelerer-le-developpement-de-dispositifs-semi-conducteurs\/#breadcrumb","itemListElement":[{"@type":"ListItem","position":1,"name":"Home","item":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/"},{"@type":"ListItem","position":2,"name":"Sourcem\u00e8tre modulaire de haute pr\u00e9cision pour acc\u00e9l\u00e9rer le d\u00e9veloppement de dispositifs semi-conducteurs"}]},{"@type":"WebSite","@id":"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/#website","url":"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/","name":"EENewsEurope","description":"Just another WordPress site","publisher":{"@id":"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/#organization"},"potentialAction":[{"@type":"SearchAction","target":{"@type":"EntryPoint","urlTemplate":"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/?s={search_term_string}"},"query-input":"required name=search_term_string"}],"inLanguage":"fr-FR"},{"@type":"Organization","@id":"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/#organization","name":"EENewsEurope","url":"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/","logo":{"@type":"ImageObject","inLanguage":"fr-FR","@id":"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/#\/schema\/logo\/image\/","url":"https:\/\/www.ecinews.fr\/wp-content\/uploads\/2022\/02\/logo-1.jpg","contentUrl":"https:\/\/www.ecinews.fr\/wp-content\/uploads\/2022\/02\/logo-1.jpg","width":283,"height":113,"caption":"EENewsEurope"},"image":{"@id":"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/#\/schema\/logo\/image\/"}},{"@type":"Person","@id":"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/#\/schema\/person\/c7104a72b466a801f257e51481de0c43","name":"NicolasFeste","image":{"@type":"ImageObject","inLanguage":"fr-FR","@id":"https:\/\/www.eenewseurope.com\/en\/#\/schema\/person\/image\/1ea421e7d03c1e96a9ea2bcf2705734a","url":"https:\/\/secure.gravatar.com\/avatar\/2e187f4d96902933ba445ed6c760e11c?s=96&d=mm&r=g","contentUrl":"https:\/\/secure.gravatar.com\/avatar\/2e187f4d96902933ba445ed6c760e11c?s=96&d=mm&r=g","caption":"NicolasFeste"}}]}},"authors":[{"term_id":6113,"user_id":39,"is_guest":0,"slug":"nicolasfeste","display_name":"NicolasFeste","avatar_url":"https:\/\/secure.gravatar.com\/avatar\/2e187f4d96902933ba445ed6c760e11c?s=96&d=mm&r=g","0":null,"1":"","2":"","3":"","4":"","5":"","6":"","7":"","8":""}],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/469041"}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/users\/39"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=469041"}],"version-history":[{"count":0,"href":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/469041\/revisions"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/media\/469042"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=469041"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=469041"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=469041"},{"taxonomy":"domains","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/domains?post=469041"},{"taxonomy":"author","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/ppma_author?post=469041"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}