{"id":426912,"date":"2023-07-11T17:33:48","date_gmt":"2023-07-11T15:33:48","guid":{"rendered":"https:\/\/www.eenewseurope.com\/?p=426912"},"modified":"2023-07-11T17:33:48","modified_gmt":"2023-07-11T15:33:48","slug":"solution-automatisee-pour-accelerer-les-tests-de-conformite-des-cables-et-connecteurs-pcie-5-0-et-6-0","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/solution-automatisee-pour-accelerer-les-tests-de-conformite-des-cables-et-connecteurs-pcie-5-0-et-6-0\/","title":{"rendered":"Solution automatis\u00e9e pour acc\u00e9l\u00e9rer les tests de conformit\u00e9 des c\u00e2bles et connecteurs PCIe 5.0 et 6.0"},"content":{"rendered":"

Pour tester pr\u00e9cis\u00e9ment et rapidement la conformit\u00e9 des c\u00e2bles et des connecteurs PCIe 5.0 et 6.0 de derni\u00e8re g\u00e9n\u00e9ration, conform\u00e9ment aux sp\u00e9cifications \u00e9tablies par le PCI-SIG, Rohde & Schwarz a d\u00e9velopp\u00e9 une nouvelle option pour l\u2019application logicielle R&S ZNrun d\u00e9di\u00e9e \u00e0 l’automatisation des tests avec un analyseur de r\u00e9seau vectoriel.<\/span><\/h3>\n

Pour valider de fa\u00e7on compl\u00e8tement automatique un c\u00e2ble PCIe x8, par exemple, le logiciel pilote un analyseur de r\u00e9seau vectoriel de la gamme R&S ZNB ainsi qu\u2019une matrice de commutation \u00e9volutive de la gamme R&S OSP. Ce qui constitue une solution d\u2019analyse vectorielle multiport r\u00e9unissant 64 ports de test. Avec cette solution, quelques minutes suffisent pour tester compl\u00e8tement des c\u00e2bles PCIe x8 dans toutes les combinaisons de type Thru et Crosstalk ainsi que la comparaison aux gabarits correspondants destin\u00e9s aux \u00e9valuations Pass\/Fail. Pour comparaison, les proc\u00e9dures de test manuelle prennent plusieurs heures avec un risque important d’erreurs de connexion de la part des ing\u00e9nieurs de test.
\n\u00a0
\nRohde & Schwarz rel\u00e8ve avec succ\u00e8s les d\u00e9fis que posent le processus de v\u00e9rification de la conformit\u00e9 des c\u00e2bles et des connecteurs PCIe 5.0 et 6.0 gr\u00e2ce \u00e0 une nouvelle option de la suite logicielle R&S ZNrun permettant d\u2019automatiser les tests avec un analyseur de r\u00e9seau vectoriel. L\u2019option R&S ZNrun-K440 a \u00e9t\u00e9 d\u00e9velopp\u00e9e pour proc\u00e9der \u00e0 la v\u00e9rification automatique de la conformit\u00e9 des c\u00e2bles et des connecteurs internes et externes conform\u00e9ment aux sp\u00e9cifications PCIe 5.0 et 6.0 \u00e9tablies par le PCI-SIG. Ce qui permet aux utilisateurs de gagner beaucoup de temps. La solution de test repose sur l’analyseur de r\u00e9seau vectoriel de la gamme R&S ZNB26 ou R&S ZNB43 dot\u00e9 de quatre ports de test associ\u00e9 \u00e0 plusieurs matrices de commutation de la gamme R&S OSP320 \u2013 selon le nombre de voies de l’objet sous test \u00e0 v\u00e9rifier. Cette plateforme, qui r\u00e9unit plusieurs solutions de mesure \u00e0 quatre ports, n\u2019exige pas la reconnexion \u00e0 l’objet sous test et la r\u00e9p\u00e9tition du bouclage des autres voies. Un c\u00e2ble PCIe x8, par exemple, qui poss\u00e8de 16 voies, n\u00e9cessite 64 ports de test, qui sont fournis par trois matrices R&S OSP320, tandis qu’un c\u00e2ble PCIe x4, qui ne r\u00e9clame que 32 ports de test, n\u2019aura recours qu\u2019\u00e0 deux matrices R&S OSP320.<\/p>\n

La solution R&S Znrun-K440 r\u00e9alise compl\u00e8tement automatiquement toutes les mesures de conformit\u00e9 aux sp\u00e9cifications PCIe et assure le post-traitement des gabarits PCIe. Un puissant configurateur de test permet de s\u00e9lectionner et de d\u00e9s\u00e9lectionner les \u00e9l\u00e9ments de test par voie. Cette flexibilit\u00e9 permet de r\u00e9pondre aux besoins et aux pr\u00e9f\u00e9rences des clients tant en phase de R&D et que lors des proc\u00e9dures de tests de v\u00e9rification. Un rapport de test avec un verdict de r\u00e9ussite ou d’\u00e9chec est g\u00e9n\u00e9r\u00e9 \u00e0 l\u2019issue du processus de mesure automatis\u00e9. Cette solution de test automatis\u00e9 int\u00e8gre une nouvelle proc\u00e9dure d’\u00e9talonnage, qui r\u00e9duit consid\u00e9rablement le nombre d’\u00e9tapes et de connexions n\u00e9cessaires. Conform\u00e9ment aux sp\u00e9cifications de test PCIe, elle propose \u00e9galement une m\u00e9thode de compensation des pertes de transmission (de-embedding) du montage de test.<\/p>\n

Des exigences de test de plus en plus complexes avec l’\u00e9volution PCIe<\/strong>
\nPour r\u00e9pondre aux attentes toujours plus fortes en termes de vitesse, chaque g\u00e9n\u00e9ration de la norme PCIe a offert un taux de transfert deux fois plus important que celui de la norme de g\u00e9n\u00e9ration pr\u00e9c\u00e9dente. Les centres de donn\u00e9es d\u00e9ploy\u00e9s \u00e0 travers le monde commencent \u00e0 utiliser des c\u00e2bles de derni\u00e8res g\u00e9n\u00e9rations (PCIe 5.0 et 6.0) pour pouvoir transf\u00e9rer d\u2019importants volumes de donn\u00e9es \u00e0 haut d\u00e9bit. Les fabricants de c\u00e2bles acc\u00e9l\u00e8rent \u00e9galement leur processus de production afin de livrer \u00e0 leurs clients les premiers c\u00e2bles PCIe 5.0 et 6.0. Le processus de validation en R&D, les tests de conformit\u00e9 et les contr\u00f4les en production n\u00e9cessitent la mise en \u0153uvre de tests approfondis afin de garantir la conformit\u00e9 des c\u00e2bles aux exigences PCIe et le fonctionnement correct de l’ensemble du syst\u00e8me.<\/p>\n

\nhttps:\/\/www.rohde-schwarz.com\/_63493-109824.html<\/a><\/p>\n

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