Pour les d\u00e9veloppeurs de syst\u00e8mes destin\u00e9s aux v\u00e9hicules \u00e9lectriques (d\u00e9veloppeurs EV) qui doivent augmenter l’efficacit\u00e9 syst\u00e8me tout en maintenant une qualit\u00e9 \u00e9lev\u00e9e, les composants certifi\u00e9s AEC-Q101 de Microchip permettent de maximiser la fiabilit\u00e9 et la robustesse du syst\u00e8me et de garantir une dur\u00e9e de vie de l\u2019application stable et durable. Les multiples performances in\u00e9gal\u00e9es des composants permettent aux d\u00e9veloppeurs d\u2019avoir moins recours \u00e0 des circuits de protection externes, r\u00e9duisant ainsi les co\u00fbts syst\u00e8me et leur complexit\u00e9.<\/p>\n
\u00ab En tant que fournisseur de longue date de l\u2019industrie automobile, le d\u00e9veloppement permanent de nouvelles solutions d\u2019alimentation qualifi\u00e9es pour l\u2019automobile par Microchip montre la voie pour la transformation des syst\u00e8mes d\u2019alimentation sur les v\u00e9hicules \u00e9lectriques \u00bb, explique Leon Gross, vice-pr\u00e9sident du d\u00e9partement des produits discrets chez Microchip. \u00ab Notre objectif est de fournir des solutions automobiles qui aident nos clients \u00e0 op\u00e9rer facilement la transition vers les composants au carbure de silicium (SiC) tout en minimisant les risques pour la qualit\u00e9, tout comme les probl\u00e8mes d\u2019approvisionnement et de support technique. \u00bb<\/p>\n
Gr\u00e2ce aux tests effectu\u00e9s par Microchip et par des organismes tiers, des indicateurs de fiabilit\u00e9 critiques ont montr\u00e9 que les composants de Microchip affichent des performances sup\u00e9rieures par rapport \u00e0 d\u2019autres composants SiC. Contrairement aux autres composants SiC, qui se d\u00e9gradent quand ils sont utilis\u00e9s en conditions extr\u00eames, les composants Microchip ne montrent aucune alt\u00e9ration en termes de performances, augmentant ainsi la dur\u00e9e de vie de l\u2019application. Les solutions SiC de Microchip sont leaders du march\u00e9 sur le plan de la fiabilit\u00e9 et de la robustesse. <\/p>\n
Les tests de robustesse des diodes Schottky SiC de la soci\u00e9t\u00e9 montrent une r\u00e9sistance \u00e0 l\u2019\u00e9nergie 20 % sup\u00e9rieure dans les commutations inductives sans blocage (UIS, Unclamped Inductive Switching), et des courants de fuites parmi les plus faibles \u00e0 des temp\u00e9ratures \u00e9lev\u00e9es, ce qui augmente la dur\u00e9e de vie du syst\u00e8me en permettant un fonctionnement plus fiable. <\/p>\n