Les nouveaux mod\u00e8les multi-peak propos\u00e9s par Micro-Epsilon permettent d\u00e9sormais de d\u00e9tecter les couches transparentes avec une grande pr\u00e9cision. Selon le mod\u00e8le de contr\u00f4leur, des calculs sont effectu\u00e9s \u00e0 partir des valeurs de distance respectives tout en tenant compte des indices de r\u00e9fraction. Le syst\u00e8me de mesure de l’\u00e9paisseur n’effectue pas de mesures de distance, il mesure l’\u00e9paisseur des diff\u00e9rentes couches et de leurs combinaisons. Outre les versions multipoints, une autre optimisation a \u00e9t\u00e9 r\u00e9alis\u00e9e. Pour l’utilisation industrielle, les interf\u00e9rom\u00e8tres sont d\u00e9sormais \u00e9quip\u00e9s de nouveaux bo\u00eetiers de capteurs avec un indice de protection IP65 plus \u00e9lev\u00e9.<\/p>\n
L’interferoMETER IMS5400-DS permet d’effectuer des mesures de distance tr\u00e8s pr\u00e9cises dans les applications industrielles. Il permet \u00e9galement la mesure stable de profils de marches. Gr\u00e2ce \u00e0 la mesure absolue des distances, le balayage des d\u00e9nivel\u00e9es s’effectue avec une stabilit\u00e9 de signal et une pr\u00e9cision maximales. Lors de mesures sur des objets en mouvement, les diff\u00e9rences de niveau des talons, des d\u00e9nivel\u00e9s et des cavit\u00e9s peuvent ainsi \u00eatre d\u00e9tect\u00e9es de mani\u00e8re fiable sans r\u00e9f\u00e9rencement suppl\u00e9mentaire.<\/p>\n
L’interferoMETER IMS5400-TH convient \u00e0 la mesure pr\u00e9cise de l’\u00e9paisseur, \u00e9galement dans les applications industrielles. La grande plage de mesure d’\u00e9paisseur permet de mesurer des couches minces, le verre plat et les feuilles. L\u2019interf\u00e9rom\u00e8tre \u00e0 lumi\u00e8re blanche qui fonctionne dans le proche infrarouge, permet aussi de mesurer l\u2019\u00e9paisseur du verre \u00e0 rev\u00eatement antireflets.<\/p>\n
Enfin, l’interferoMETER IMS5600-DS est adapt\u00e9 aux mesures de distance, avec des r\u00e9solutions de l’ordre de quelques picom\u00e8tres. Gr\u00e2ce \u00e0 la mesure absolue, le balayage est effectu\u00e9 sans perte de signal. Lors de mesures sur des objets en mouvement, les diff\u00e9rences de niveau des talons, des d\u00e9nivel\u00e9s et des cavit\u00e9s peuvent ainsi \u00eatre d\u00e9tect\u00e9es de mani\u00e8re fiable. Le syst\u00e8me de mesure offre une r\u00e9solution subnanom\u00e9trique avec un grand \u00e9cartement de base par rapport \u00e0 la plage de mesure.<\/p>\n
En plus de leur lin\u00e9arit\u00e9 exceptionnelle, les interf\u00e9rom\u00e8tres \u00e0 lumi\u00e8re blanche de Micro-Epsilon offrent une r\u00e9solution allant jusqu’\u00e0 < 30 picom\u00e8tres. La configuration s’effectue de mani\u00e8re simple via une interface web.<\/p>\n