{"id":229202,"date":"2014-02-17T23:00:00","date_gmt":"2014-02-17T23:00:00","guid":{"rendered":"https:\/\/eenewseurope.artwhere.co\/rapport-detude-ni-2014-sur-le-test-automatique\/"},"modified":"2014-02-17T23:00:00","modified_gmt":"2014-02-17T23:00:00","slug":"rapport-detude-ni-2014-sur-le-test-automatique","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/rapport-detude-ni-2014-sur-le-test-automatique\/","title":{"rendered":"Rapport d’\u00e9tude NI 2014 sur le test automatique"},"content":{"rendered":"

Disponible à l’adresse www.ni.com\/ato<\/a>, ce rapport d’étude s’appuie sur des données issues de recherches universitaires et industrielles, de veille économique ainsi que de retours de clients (forum, enquêtes, etc.).<\/p>\n

Il détaille les tendances suivantes :<\/p>\n

– Stratégie d’entreprise : compétence organisationnelle<\/p>\n

En ce qui concerne les ingénieurs de test, la réserve de talents s’amenuise et les responsables doivent améliorer la compétence organisationnelle au travers d’un recrutement plus pertinent, d’un meilleur accueil des nouveaux collaborateurs et d’un plus grand investissement en termes de formation afin de garantir une organisation compétente et dotée d’un personnel suffisant. <\/p>\n

– Architecture : gestion des systèmes de test<\/p>\n

Les nouvelles technologies offrent de plus larges ensembles de caractéristiques en matière d’équipement de test, aidant les responsables de test à surveiller l’état de leurs systèmes, en diminuant les coûts et maximisant la durée de fonctionnement.<\/p>\n

– Traitement : "cloud computing" pour le test<\/p>\n

Incapables de fournir l’équilibre idéal entre performances et coûts ou de s’adapter à la demande réelle des produits, les plates-formes de test traditionnelles constituent un frein à la rentabilité. Comme dans les technologies de l’information, le cloud computing appliqué au test automatique peut dissiper ces inquiétudes croissantes.<\/p>\n

– Logiciels : architectures logicielles de test évolutives<\/p>\n

La nécessité de fournir des systèmes de test plus vite avec toujours moins de ressources éloignent les stratégies logicielles des solutions rigides en faveur de plates-formes basées sur logiciel pour maximiser la longévité et l’évolutivité tout au long du cycle de vie d’un produit et d’une nouvelle conception de produits à une autre.<\/p>\n

– Entrées\/sorties : redéfinir la notion de capteurs<\/p>\n

Le nombre de capteurs dans les produits a considérablement augmenté, mettant les responsables de test au défi de suivre le rythme des nouvelles technologies et de s’adapter à cette demande croissante. Ces responsables ont besoin de solutions de test non figées qu’ils peuvent modifier aussi rapidement que les produits intégrant les capteurs qu’ils testent.<\/p>\n

www.ni.com\/ato<\/a>\n<\/p>\n

 <\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

National Instruments annonce son rapport d’\u00e9tude 2014 sur le test automatique, qui pr\u00e9sente les r\u00e9sultats des recherches de l’entreprise en mati\u00e8re de technologies et de m\u00e9thodologies dans le domaine du test et de la mesure. Ing\u00e9nieurs et responsables peuvent profiter de ce rapport, qui d\u00e9taille les tendances concernant de nombreuses industries, afin de tirer parti des toutes derni\u00e8res strat\u00e9gies et bonnes pratiques permettant d’optimiser toute organisation de test.<\/p>\n","protected":false},"author":22,"featured_media":229203,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[],"tags":[],"domains":[47],"ppma_author":[1149],"class_list":["post-229202","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","domains-electronique-eci"],"acf":[],"yoast_head":"Rapport d'\u00e9tude NI 2014 sur le test automatique ...<\/title>\n<meta name=\"description\" content=\"National Instruments annonce son rapport d'\u00e9tude 2014 sur le test automatique, qui pr\u00e9sente les r\u00e9sultats des recherches de l'entreprise en mati\u00e8re de...\" \/>\n<meta name=\"robots\" content=\"index, follow, max-snippet:-1, max-image-preview:large, max-video-preview:-1\" \/>\n<link rel=\"canonical\" href=\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/229202\/\" \/>\n<meta property=\"og:locale\" content=\"fr_FR\" \/>\n<meta property=\"og:type\" content=\"article\" \/>\n<meta property=\"og:title\" content=\"Rapport d'\u00e9tude NI 2014 sur le test automatique\" \/>\n<meta property=\"og:description\" content=\"National Instruments annonce son rapport d'\u00e9tude 2014 sur le test automatique, qui pr\u00e9sente les r\u00e9sultats des recherches de l'entreprise en mati\u00e8re de technologies et de m\u00e9thodologies dans le domaine du test et de la mesure. 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