{"id":226802,"date":"2013-04-09T22:00:00","date_gmt":"2013-04-09T22:00:00","guid":{"rendered":"https:\/\/eenewseurope.artwhere.co\/extension-de-logiciel-pour-le-test-de-semi-conducteurs-forte-puissance\/"},"modified":"2013-04-09T22:00:00","modified_gmt":"2013-04-09T22:00:00","slug":"extension-de-logiciel-pour-le-test-de-semi-conducteurs-forte-puissance","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/extension-de-logiciel-pour-le-test-de-semi-conducteurs-forte-puissance\/","title":{"rendered":"Extension de logiciel pour le test de semi-conducteurs forte puissance"},"content":{"rendered":"<p>Supportant les probers semi-automatiques et automatiques, le logiciel ACS contr&ocirc;le plusieurs instruments dans un seul environnement de test, optimis&eacute; pour garantir flexibilit&eacute;, rapidit&eacute; et productivit&eacute; dans le test et l&rsquo;analyse. Une interface graphique intuitive simplifie la configuration des instruments, la d&eacute;finition des param&egrave;tres de mesure, l&rsquo;ex&eacute;cution de mesures I-V et l&rsquo;affichage des r&eacute;sultats.<br \/>\nLa version 5.0 int&egrave;gre, en plus, des biblioth&egrave;ques de composants forte puissance &agrave; utiliser avec les SourceMeters 2651A jusqu&rsquo;&agrave; 50 A ,ou 100 A avec la mise en parall&egrave;le de deux mod&egrave;les, et 2657A jusqu&rsquo;&agrave; 3 000 V qui, pour caract&eacute;riser des composants de puissance multi-pins, peuvent &ecirc;tre utiliser avec les SourceMeters de la s&eacute;rie 2600B ou l&rsquo;analyseur de param&egrave;tres 4200-SCS pour acc&eacute;l&eacute;rer et simplifier la cr&eacute;ation de modules et de s&eacute;quences de tests de composants semi-conducteurs de puissance tels que les MOSFET de puissance, les IGBT, les BJT, les diodes, etc. Le support et la configuration de ces mod&egrave;les fortes puissances permettent aux utilisateurs de connecter rapidement ces instruments &agrave; un PC, de confirmer la connectivit&eacute; et de d&eacute;marrer les tests. Les instruments de la s&eacute;rie 2600 &eacute;quip&eacute;s du bus de communication TSP-Link, s&rsquo;appuyant sur la technologie de processeur de script de test embarqu&eacute; (TSP) pour un environnement multiprocesseurs sont &eacute;galement support&eacute;s pour garantir un meilleur d&eacute;bit en utilisation parall&egrave;le, tout en acc&eacute;l&eacute;rant et en simplifiant le d&eacute;veloppement de projets de test. Des exemples de projets de tests de fiabilit&eacute; au niveau Wafer en forte tension (WLR) fournissent aux utilisateurs un tr&egrave;s bon point de d&eacute;part pour cr&eacute;er ou modifier rapidement de nouveaux tests.<br \/>\nEnfin, cette version supporte les mesures C-V avec polarisation &plusmn;200 V en utilisant le package C-V du mod&egrave;le 4200-CVU-PWR de l&rsquo;analyseur de param&egrave;tres mod&egrave;le 4200-SCS pour offrir une large gamme de fonctionnalit&eacute;s de mesure I-V et C-V pour une caract&eacute;risation compl&egrave;te des composants de puissance des semi-conducteurs.<\/p>\n<p><a href=\"http:\/\/www.keithley.com\/products\/semiconductor\/characterizationsoftware\" target=\"_blank\" title=\"www.keithley.com\/products\/semiconductor\/characterizationsoftware\" rel=\"noopener\">www.keithley.com\/products\/semiconductor\/characterizationsoftware<\/a><\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Principalement utilis\u00e9 pour des applications automatis\u00e9es de tests param\u00e9triques au niveau wafer, le logiciel ACS de Keithley inclut notamment l\u2019automatisation de la caract\u00e9risation, l&rsquo;analyse de fiabilit\u00e9 et les tests complets des chips avant mise en bo\u00eetier. Sa mise \u00e0 jour V5.0 s&rsquo;appuie en particulier sur les fonctionnalit\u00e9s forte puissance des SourceMeters mod\u00e8le 2651A pour fort courant et mod\u00e8le 2657A pour forte tension afin de r\u00e9aliser le test automatis\u00e9 au niveau wafer de composants forte puissance comme les MOSFET de puissance, les IGBT, les BJT, les diodes, etc. <\/p>\n","protected":false},"author":22,"featured_media":226803,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[881],"tags":[],"domains":[47],"ppma_author":[1149],"class_list":["post-226802","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-nouveaux-produits","domains-electronique-eci"],"acf":[],"yoast_head":"<title>Extension de logiciel pour le test de semi-conducteurs forte pu...<\/title>\n<meta name=\"description\" content=\"Principalement utilis\u00e9 pour des applications automatis\u00e9es de tests param\u00e9triques au niveau wafer, le logiciel ACS de Keithley inclut notamment...\" \/>\n<meta name=\"robots\" content=\"index, follow, max-snippet:-1, max-image-preview:large, max-video-preview:-1\" \/>\n<link rel=\"canonical\" href=\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/226802\/\" \/>\n<meta property=\"og:locale\" content=\"fr_FR\" \/>\n<meta property=\"og:type\" content=\"article\" \/>\n<meta property=\"og:title\" content=\"Extension de logiciel pour le test de semi-conducteurs forte puissance\" \/>\n<meta property=\"og:description\" content=\"Principalement utilis\u00e9 pour des applications automatis\u00e9es de tests param\u00e9triques au niveau wafer, le logiciel ACS de Keithley inclut notamment l\u2019automatisation de la caract\u00e9risation, l&#039;analyse de fiabilit\u00e9 et les tests complets des chips avant mise en bo\u00eetier. 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