{"id":223521,"date":"2012-02-01T23:00:00","date_gmt":"2012-02-01T23:00:00","guid":{"rendered":"https:\/\/eenewseurope.artwhere.co\/environnement-de-test-avec-nouvelles-fonctionnalites-en-fiabilite-et-en-test-de-composants-de-puissance\/"},"modified":"2012-02-01T23:00:00","modified_gmt":"2012-02-01T23:00:00","slug":"environnement-de-test-avec-nouvelles-fonctionnalites-en-fiabilite-et-en-test-de-composants-de-puissance","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/environnement-de-test-avec-nouvelles-fonctionnalites-en-fiabilite-et-en-test-de-composants-de-puissance\/","title":{"rendered":"Environnement de test avec nouvelles fonctionnalit\u00e9s en fiabilit\u00e9 et en test de composants  de puissance"},"content":{"rendered":"<p>Le logiciel ACS V4.4 int&egrave;gre une nouvelle mise &agrave; jour du module de fiabilit&eacute; optionnel ACS-2600-RTM qui simplifie la conception et l&rsquo;ex&eacute;cution de s&eacute;quences complexes de test stress-mesure-analyse, utilis&eacute;es lors des tests de fiabilit&eacute; de composants, comme les HCI, TDDB, NBTI, J-Ramp et autres. Cette nouvelle version du module permet aux ing&eacute;nieurs de test en semi-conducteur de faire des tests de fiabilit&eacute; sur les composants et des analyses dans un environnement R&amp;D ou en production, avec les outils dont ils ont besoin pour atteindre une meilleure productivit&eacute; tant pour la caract&eacute;risation de composants seuls que pour g&eacute;rer des applications multi composants. Le logiciel ACS aide les utilisateurs &agrave; g&eacute;rer des configurations complexes des instruments des syst&egrave;mes, &agrave; d&eacute;finir rapidement des param&egrave;tres de test communs aux groupes ou sous-groupes de composants, &agrave; ex&eacute;cuter des tests avec retour d&rsquo;informations sur les temps d&rsquo;ex&eacute;cution et &agrave; d&eacute;marrer l&rsquo;analyse de gros volumes de donn&eacute;es plus rapidement. <br \/>\nAfin de r&eacute;pondre aux ph&eacute;nom&egrave;nes ultra rapide associ&eacute;s aux m&eacute;canismes des pannes des composants semi-conducteurs et de produire les quantit&eacute;s de donn&eacute;es associ&eacute;es aux tests de fiabilit&eacute; de composants en parall&egrave;le, chaque unit&eacute; de source et mesure (SMU) dans la configuration de test ne doivent pas &ecirc;tre seulement rapide mais &eacute;galement, tous les SMU d&eacute;fini en groupes ou en sous-groupes doivent l&rsquo; &ecirc;tre aussi. Pour les applications de test en fiabilit&eacute; de ce type, le module ACS-2600-RTM utilise pleinement les performances du SourceMeter de la s&eacute;rie 2600A, qui combine &agrave; la fois la capacit&eacute; de stocker et d&rsquo;executer du script (Test Script Processor), et d&rsquo;&ecirc;tre connect&eacute; &agrave; d&rsquo;autres unit&eacute;s par l&rsquo;interm&eacute;diaire du bus de communication TSP-Link. Le logiciel ACS met &agrave; profit la rapidit&eacute; des instruments de la s&eacute;rie 2600A pour acc&eacute;l&eacute;rer le processus de reconfiguration du syst&egrave;me, pour t&eacute;l&eacute;charger les param&egrave;tres du test et les scripts vers les processeurs de chaque instrument et pour d&eacute;marrer rapidement l&rsquo;ex&eacute;cution. Les ing&eacute;nieurs de test ont la possibilit&eacute; de pouvoir utiliser le logiciel ACS et le mod&egrave;le optionnel ACS-2600-RTM avec les unit&eacute;s de source mesure de la s&eacute;rie 2600A soit sur table soit avec les syst&egrave;mes int&eacute;gr&eacute;s S500.<br \/>\nLa nouvelle version de ce module apporte aussi d&rsquo;autres avantages importants pour le test de fiabilit&eacute; des composants. Par exemple, les limites dynamiques en courant prot&egrave;gent les composants sous test contre les dommages graves en r&eacute;duisant au maximum le courant de casse au cours d&rsquo;une s&eacute;quence de test. De plus, l&rsquo;ex&eacute;cution de ces s&eacute;quences demande des heures, des jours, ou m&ecirc;me des semaines, produisant un &eacute;norme volume de donn&eacute;es de mesure. Ce module ACS-2600-RTM dispose aussi de techniques de compression permettant au syst&egrave;me de ne capturer que les r&eacute;sultats de mesure les plus importants tout en continuant de faire des mesures.<br \/>\nLes d&eacute;tenteurs d&rsquo;analyseur param&eacute;trique Keithley, Mod&egrave;le 4200-SCS, peuvent maintenant faire usage des six unit&eacute;s impulsions-mesure (Mod&egrave;le 4225-PMU) que le syst&egrave;me supporte pour les tests de l&rsquo;instabilit&eacute; polaris&eacute;e n&eacute;gative de la temp&eacute;rature (BTI). Auparavant, le logiciel ACS supportait l&rsquo;utilisation d&rsquo;un maximum de quatre unit&eacute;s simultan&eacute;es. La nouvelle version ACS V4.4 permet de tester plus de composants en parall&egrave;le d&rsquo;o&ugrave; une meilleure utilisation du syst&egrave;me et une acquisition des donn&eacute;es BTI plus rapide.<\/p>\n<p><strong>Nouvelles SMU support&eacute;es, pour le test forte puissance<\/strong><br \/>\nLe logiciel ACS V4.4 est d&eacute;sormais compatible avec le SourceMeter forte puissance, mod&egrave;le 2651A, le dernier mod&egrave;le de la s&eacute;rie 2600A. Les capacit&eacute;s fort courant de cet instrument (50 A sous 40V max.) sont essentielles pour les laboratoires et les sites de production impliqu&eacute;s dans le d&eacute;veloppement et la production de composants de puissance &agrave; structure verticale comme les transistors bipolaires &agrave; gate isol&eacute;e (IGBTs) et les semi-conducteurs &agrave; double diffusion m&eacute;tal-oxyde (DMOS).<\/p>\n<p><strong>Nouveaux projets pour les composants issus des technologies &eacute;mergentes<\/strong><br \/>\nLe logiciel ACS V4.4 comporte plusieurs projets de test cl&eacute; en main pr&eacute;vus pour la fiabilit&eacute; &agrave; forte tension, le pompage de charges, la fiabilit&eacute; de composants sur wafer (WLR) avec des contraintes pulse\/AC sp&eacute;cifiques et la fiabilit&eacute; de migration. De nombreux utilisateurs pourront utiliser ces projets tels qui leurs sont propos&eacute;s ; pour d&rsquo;autres, ils constitueront un point de d&eacute;part qui pourra les aider &agrave; d&eacute;velopper leurs propres projets plus rapidement. <\/p>\n<p><strong>Autour de l&rsquo;environnement du test ACS <\/strong><br \/>\nLe logiciel ACS utilise de nombreux instruments pour la caract&eacute;risation de composants semi conducteur et les mesures param&eacute;triques dans un seul environnement, ce qui offre plus de souplesse, de rapidit&eacute; et de productivit&eacute; en test et analyse. Son interface intuitive GUI aide les d&eacute;butants &agrave; tester efficacement les composants tr&egrave;s rapidement, ind&eacute;pendamment de leur niveau d&rsquo;exp&eacute;rience en programmation. Cette interface simplifie la configuration des instruments, la d&eacute;finition des param&egrave;tres de mesure, l&rsquo;ex&eacute;cution de mesures I-V et l&rsquo;affichage des r&eacute;sultats. M&ecirc;me les utilisateurs occasionnels peuvent facilement cr&eacute;er un nouveau jeu de param&eacute;trage pour un test ou une s&eacute;quence de caract&eacute;risation de nouveaux composants en une fraction de seconde. Tout aussi important, le logiciel ACS propose tous les outils n&eacute;cessaires au param&eacute;trage des tests, &agrave; l&rsquo;analyse des donn&eacute;es et l&rsquo;exportation des r&eacute;sultats, sans jamais quitter l&rsquo;environnement ACS. Il simplifie &eacute;galement l&rsquo;int&eacute;gration de stations sous pointes automatique ou semi automatique dans leur environnement de test. <\/p>\n<p><a title=\"www.keithley.com\" target=\"_blank\" href=\"http:\/\/www.keithley.com\/products\/semiconductor\/characterizationsoftware\/ACS2600RTM%20\" rel=\"noopener\">www.keithley.com\/products\/semiconductor\/characterizationsoftware\/ACS2600RTM <\/a><\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Keithley Instruments vient de rajouter de nouvelles fonctionnalit\u00e9s \u00e0 son environnement de test ACS. Cette version 4.4 a \u00e9t\u00e9 d\u00e9velopp\u00e9e pour \u00eatre utilis\u00e9e avec les instruments et les syst\u00e8mes Keithley Instruments principalement utilis\u00e9s pour la caract\u00e9risation automatique de composants et l&rsquo;analyse de fiabilit\u00e9. 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