{"id":222647,"date":"2011-10-10T22:00:00","date_gmt":"2011-10-10T22:00:00","guid":{"rendered":"https:\/\/eenewseurope.artwhere.co\/logiciel-de-test-de-semi-conducteurs\/"},"modified":"2011-10-10T22:00:00","modified_gmt":"2011-10-10T22:00:00","slug":"logiciel-de-test-de-semi-conducteurs","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/logiciel-de-test-de-semi-conducteurs\/","title":{"rendered":"Logiciel de test de semi-conducteurs"},"content":{"rendered":"

La version 5.3 de ce logiciel a été conçue pour fonctionner sur les systèmes paramétriques de la série S530, actuellement la solution la plus rapide et la plus économique de tous les systèmes Keithley pour la surveillance des contrôles de process.
\nLe logiciel KTE est une puissante plate forme de développement et d’exécution de test, qui a été utilisée par des centaines de fabricants dans le monde entier avec la précédente génération de systèmes de tests paramétriques. Désormais, les systèmes S530 sont prêts à prendre la relève en utilisant cette même plate forme éprouvée depuis longtemps dans l’industrie. Ce nouveau logiciel apporte une grande souplesse de développement, et une grande rapidité d’exécution, même dans les milieux de production et dans les environnements les plus exigeants. Les utilisateurs des systèmes de tests paramétriques existants, les séries S400 et S600 peuvent bénéficier aussi de cette nouvelle version 5.3 car les scripts de mesure existants peuvent être très facilement exportés vers les systèmes S530 et des plans de test identiques peuvent être partagés à la fois par les anciens et les nouveaux testeurs. Elargir l’utilisation du logiciel KTE aux systèmes S530 permet de profiter des avantages de plus de trente ans d’expérience dans la programmation du test paramétrique et d’utiliser des systèmes parmi les plus rapides et les plus avancés que l’on puisse trouver sur le marché actuellement. Le S530 offre à la fois une grande rapidité et un très large éventail de mesures pour répondre aux différentes applications du test paramétrique et aux exigences de la surveillance du contrôle de process. \n<\/p>\n

Keithley s’est engagé auprès des ses clients du test paramétrique à ce que ses systèmes nouvellement commercialisés soient pleinement compatibles avec les systèmes précédents. Cet engagement de maintenir la compatibilité du logiciel assure une migration en douceur et réduit les coûts des investissements de programmation quand de nouveaux systèmes viennent s’ajouter à leur parc de testeurs.<\/a> Pour les nouveaux clients de Keithley dans le domaine du test paramétrique, cet engagement de continuité du logiciel les assure de disposer de systèmes contrôlés par un logiciel largement éprouvé dans l’industrie. 
\nPour les clients qui possèdent des versions antérieures du KTE, la version 5.3 accélère  les performances des systèmes S530 de leurs parcs de testeurs :
\nLes mêmes plans de test peuvent être utilisés par tous les systèmes de tests paramétriques automatisés Keithley. Ceci diminue non seulement le temps d’apprentissage pour les ingénieurs et les techniciens travaillant sur d’autres systèmes, mais offre en plus une migration en douceur ce qui réduit les coûts d’investissements en programmation quand de nouveaux systèmes viennent s’ajouter à leur parc de testeurs ou en remplacer de vieux. Les utilisateurs peuvent alors continuer de travailler avec des bibliothèques utilisateur, qui leur sont familières et qu’ils ont eux-mêmes développé pour les précédents systèmes Keithley, après recompilation et reconstruction pour une utilisation avec les S350. En règle générale, seul un débogage minime est nécessaire.
\nLes outils fournis avec le KTE fournissent des fonctionnalités identiques pour toutes les plates formes de test paramétrique de Keithley. Le logiciel KTE pour le S350 est prévu pour fonctionner sous Linux sur un PC industriel standard afin d’assurer une stabilité de longue durée et faciliter la maintenance. Ce logiciel a été optimisé pour améliorer la rapidité et la fiabilité étendue lors des cadences élevées en production. Les systèmes S530 fonctionnant avec la version 5.3 du logiciel KTE peuvent effectuer toutes les mesures DC en I-V et en C-V. Ces mesures sont nécessaires pour la surveillance du contrôle de process et de leur fiabilité ainsi que lors de la caractérisation des composants. Ils sont optimisés pour une utilisation dans les environnements de test paramétrique en production. Ils doivent donc s’adapter à une large gamme de produits ou quelle que soit l’application lorsque la flexibilité et le développement de plan de test sont des points critiques. <\/p>\n

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