La caract\u00e9risation de composants semi-conducteurs avanc\u00e9s et l\u2019\u00e9valuation de dispositifs faible puissance sont des t\u00e2ches complexes n\u00e9cessitant que les ing\u00e9nieurs mesurent des courants dynamiques \u00e0 haut d\u00e9bit (plus de 1 MHz) et de faible niveau (moins de 1 \u03bcA). Toutefois, la m\u00e9thodologie existante pour cette mesure souffre de nombreux d\u00e9sagr\u00e9ments, \u00e0 savoir un bruit important, des chutes de tension, une dynamique limit\u00e9e, des probl\u00e8mes de bande passante. De ce fait, il est fr\u00e9quent que le courant dynamique de faible niveau ne soit pas d\u00e9tect\u00e9 et donc pas mesur\u00e9.
\nSurmontant ces contraintes, cet analyseur rend possible la mesure simultan\u00e9e de signaux de courant \u00e0 la fois large bande et de faible niveau sans avoir \u00e0 recourir \u00e0 plusieurs appareils. Il est compos\u00e9 d\u2019un ch\u00e2ssis \u00e9quip\u00e9 d\u2019un \u00e9cran WXGA de 14,1 pouces et de capteurs de courant sp\u00e9cifiquement d\u00e9di\u00e9s aux mesures pr\u00e9cises des formes d\u2019onde de courant. Il est dot\u00e9 d\u2019une dynamique de 14 ou 16 bits, avec une bande passante maximale de 200 MHz et une fr\u00e9quence d\u2019\u00e9chantillonnage \u00e9lev\u00e9e de 1 G\u00e9ch\/s. Les capteurs de courant \u00e0 faible bruit et large bande prennent en charge des mesures de courant dynamique comprises entre 10 A et 100 pA.
\nAvec son interface utilisateur graphique, son \u00e9cran tactile multipoint et son logiciel de mesure et d\u2019analyse avanc\u00e9es, il peut mesurer et analyser bien plus facilement et efficacement les courants de faible niveau, auparavant si difficiles \u00e0 d\u00e9tecter.<\/p>\n
\n\u00ab\u00a0Le nouvel analyseur CX3300 de Keysight est le fruit d\u2019ann\u00e9es de recherche et constitue la r\u00e9ponse directe aux besoins de nos clients cherchant \u00e0 mesurer des courants dynamiques de faible niveau sans pour autant modifier la largeur de la bande passante,\u00a0\u00bb indique Masaki Yamamoto, directeur g\u00e9n\u00e9ral de la Division Wafer Test Solutions de Keysight. \u00ab\u00a0Gr\u00e2ce au CX3300, qui permet de mesurer des courants dynamiques \u00e0 large bande et de faible niveau, nous faisons un grand bond en avant dans notre capacit\u00e9 \u00e0 r\u00e9pondre aux besoins de nos clients. En plus de compl\u00e9ter le portefeuille d\u2019instruments Keysight, ce nouvel analyseur offre \u00e0 nos clients une solution plus compl\u00e8te pour l\u2019analyse de composants semi-conducteurs de faible puissance.\u00a0\u00bb<\/p>\n
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Avec cet analyseur, les chercheurs et ing\u00e9nieurs peuvent d\u00e9sormais mesurer des courants transitoires, m\u00eame lorsque la largeur d\u2019impulsion est tr\u00e8s r\u00e9duite (moins de 100 ns). Les formes d\u2019onde du courant absorb\u00e9 peuvent \u00e9galement \u00eatre clairement captur\u00e9es \u00e0 tout moment, que le dispositif soit en mode veille \/ pause ou actif. En \u00e9tant en mesure de voir clairement la mani\u00e8re dont un dispositif absorbe la puissance, les ing\u00e9nieurs sont plus \u00e0 m\u00eame d\u2019\u00e9valuer quantitativement et de r\u00e9duire la puissance \/ le courant absorb\u00e9s par un dispositif.<\/p>\n
Outre la mesure de courants dynamiques, cet instrument peut \u00e9galement \u00eatre utilis\u00e9 comme outil de d\u00e9bogage, autorisant une \u00e9valuation approfondie et pr\u00e9cise au cours de la phase de R&D. Ainsi utilis\u00e9, il accro\u00eet l\u2019efficacit\u00e9 de la R&D et acc\u00e9l\u00e8re le processus de d\u00e9veloppement gr\u00e2ce \u00e0 des d\u00e9lais d\u2019ex\u00e9cution plus courts. Enfin, gr\u00e2ce \u00e0 lui, les ing\u00e9nieurs peuvent r\u00e9diger des sp\u00e9cifications plus agressives pour l\u2019absorption de puissance et ainsi, r\u00e9duire cette derni\u00e8re en toute confiance.<\/p>\n