{"id":214538,"date":"2016-04-11T15:59:00","date_gmt":"2016-04-11T15:59:00","guid":{"rendered":"https:\/\/eenewseurope.artwhere.co\/analyseurs-pour-caracterisation-de-dispositifs-semi-conducteurs-de-faible-puissance\/"},"modified":"2016-04-11T15:59:00","modified_gmt":"2016-04-11T15:59:00","slug":"analyseurs-pour-caracterisation-de-dispositifs-semi-conducteurs-de-faible-puissance","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/analyseurs-pour-caracterisation-de-dispositifs-semi-conducteurs-de-faible-puissance\/","title":{"rendered":"Analyseurs pour caract\u00e9risation de dispositifs semi-conducteurs de faible puissance"},"content":{"rendered":"<p>La caract\u00e9risation de composants semi-conducteurs avanc\u00e9s et l\u2019\u00e9valuation de dispositifs faible puissance sont des t\u00e2ches complexes n\u00e9cessitant la mesure des courants dynamiques \u00e0 haut d\u00e9bit (plus de 1 MHz) et de faible niveau (moins de 1 \u03bcA). Toutefois, la m\u00e9thodologie existante pour cette mesure souffre de nombreuses difficult\u00e9s: un bruit important, des chutes de tension, une dynamique limit\u00e9e et des probl\u00e8mes de bande passante. De ce fait, il est fr\u00e9quent que le courant dynamique de faible niveau ne soit pas d\u00e9tect\u00e9 et donc pas mesur\u00e9.<\/p>\n<p>Le nouvel analyseur CX3300 de Keysight permet de surmonter ces contraintes en rendant possible la mesure simultan\u00e9e de signaux de courant \u00e0 la fois large bande et de faible niveau. En offrant une dynamique de 14 ou 16 bits, il est possible de r\u00e9pondre \u00e0 de multiples exigences de mesure \u00e0 l\u2019aide d\u2019un seul et m\u00eame instrument, sans recourir \u00e0 plusieurs appareils. Avec l&rsquo;interface utilisateur graphique, l&rsquo;\u00e9cran tactile multipoint WXGA de 14,1 pouces et le logiciel de mesure et d\u2019analyse avanc\u00e9es, cet analyseur permet de mesurer et d\u2019analyser facilement et efficacement les courants de faible niveau, auparavant difficiles \u00e0 d\u00e9tecter.<\/p>\n<p>Pour Masaki Yamamoto, directeur g\u00e9n\u00e9ral de la Division Wafer Test Solutions de Keysight: \u00ab&nbsp;Le nouvel analyseur CX3300 de Keysight est le fruit d\u2019ann\u00e9es de recherche et constitue la r\u00e9ponse directe aux besoins de nos clients cherchant \u00e0 mesurer des courants dynamiques de faible niveau sans pour autant modifier la largeur de la bande passante&nbsp;\u00bb. \u00ab&nbsp;Gr\u00e2ce au CX3300, qui permet de mesurer des courants dynamiques \u00e0 large bande et de faible niveau, nous faisons un grand bond en avant dans notre capacit\u00e9 \u00e0 r\u00e9pondre aux besoins de nos clients. En plus de compl\u00e9ter le portefeuille d\u2019instruments Keysight, ce nouvel analyseur offre \u00e0 nos clients une solution plus compl\u00e8te pour l\u2019analyse de composants semi-conducteurs de faible puissance.&nbsp;\u00bb.<\/p>\n<p>Pour Masaki Yamamoto, directeur g\u00e9n\u00e9ral de la Division Wafer Test Solutions de Keysight: \u00ab&nbsp;Le nouvel analyseur CX3300 de Keysight est le fruit d\u2019ann\u00e9es de recherche et constitue la r\u00e9ponse directe aux besoins de nos clients cherchant \u00e0 mesurer des courants dynamiques de faible niveau sans pour autant modifier la largeur de la bande passante&nbsp;\u00bb. \u00ab&nbsp;Gr\u00e2ce au CX3300, qui permet de mesurer des courants dynamiques \u00e0 large bande et de faible niveau, nous faisons un grand bond en avant dans notre capacit\u00e9 \u00e0 r\u00e9pondre aux besoins de nos clients. En plus de compl\u00e9ter le portefeuille d\u2019instruments Keysight, ce nouvel analyseur offre \u00e0 nos clients une solution plus compl\u00e8te pour l\u2019analyse de composants semi-conducteurs de faible puissance.&nbsp;\u00bb<\/p>\n<p>Pour Masaki Yamamoto, directeur g\u00e9n\u00e9ral de la Division Wafer Test Solutions de Keysight: \u00ab&nbsp;Le nouvel analyseur CX3300 de Keysight est le fruit d\u2019ann\u00e9es de recherche et constitue la r\u00e9ponse directe aux besoins de nos clients cherchant \u00e0 mesurer des courants dynamiques de faible niveau sans pour autant modifier la largeur de la bande passante&nbsp;\u00bb. \u00ab&nbsp;Gr\u00e2ce au CX3300, qui permet de mesurer des courants dynamiques \u00e0 large bande et de faible niveau, nous faisons un grand bond en avant dans notre capacit\u00e9 \u00e0 r\u00e9pondre aux besoins de nos clients. En plus de compl\u00e9ter le portefeuille d\u2019instruments Keysight, ce nouvel analyseur offre \u00e0 nos clients une solution plus compl\u00e8te pour l\u2019analyse de composants semi-conducteurs de faible puissance.&nbsp;\u00bb<\/p>\n<p><strong>Points forts de l&rsquo;<\/strong><strong>analyseur CX3300 de Keysight<\/strong> <strong>:<\/strong><\/p>\n<ul>\n<li>Visualisation de courants avec une bande passante maximale de 200 MHz et une dynamique de 14 ou 16 bits<\/li>\n<li>Possibilit\u00e9 de mesurer des courants dynamiques de 100 pA<\/li>\n<li>Possibilit\u00e9 pour les ing\u00e9nieurs d\u2019\u00e9valuer de fa\u00e7on quantitative la mani\u00e8re dont la puissance est absorb\u00e9e par les dispositifs faible puissance<\/li>\n<\/ul>\n<p>&nbsp;<a href=\"http:\/\/www.keysight.com\/find\/cx3300\"> <\/a><span style=\"font-size:12.0pt\"><a href=\"http:\/\/www.keysight.com\/find\/cx3300\"><span style=\"font-size:10.5pt;color:windowtext;text-decoration:none\">www.keysight.com\/find\/cx3300<\/span><\/a><\/span><\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Premier analyseur capable de mesurer des courants dynamiques de 100 pA dans une bande passante maximale de 200 MHz, avec une fr\u00e9quence d\u2019\u00e9chantillonnage de 1 G\u00e9ch\/s et une dynamique de 14 ou 16 bits, l\u2019analyseur de courant CX3300 de Keysight inaugure une nouvelle cat\u00e9gorie d\u2019instruments qui devrait satisfaire les ing\u00e9nieurs et chercheurs confront\u00e9s \u00e0 des mesures de courants transitoires \u00e0 haut d\u00e9bit pendant les phases de caract\u00e9risation de dispositifs avanc\u00e9s. Cet analyseur est \u00e9galement parfait pour les ing\u00e9nieurs cherchant \u00e0 r\u00e9duire la puissance \/ le courant absorb\u00e9s par les dispositifs \u00e0 faible puissance. <\/p>\n","protected":false},"author":11,"featured_media":214539,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[881],"tags":[911],"domains":[47],"ppma_author":[1143],"class_list":["post-214538","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-nouveaux-produits","tag-testandmeasurement-fr","domains-electronique-eci"],"acf":[],"yoast_head":"<title>Analyseurs pour caract\u00e9risation de dispositifs semi-conducteur...<\/title>\n<meta name=\"description\" content=\"Premier analyseur capable de mesurer des courants dynamiques de 100 pA dans une bande passante maximale de 200 MHz, avec une fr\u00e9quence d\u2019\u00e9chantillonnage...\" \/>\n<meta name=\"robots\" content=\"index, follow, max-snippet:-1, max-image-preview:large, max-video-preview:-1\" \/>\n<link rel=\"canonical\" href=\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/214538\/\" \/>\n<meta property=\"og:locale\" content=\"fr_FR\" \/>\n<meta property=\"og:type\" content=\"article\" \/>\n<meta property=\"og:title\" content=\"Analyseurs pour caract\u00e9risation de dispositifs semi-conducteurs de faible puissance\" \/>\n<meta property=\"og:description\" content=\"Premier analyseur capable de mesurer des courants dynamiques de 100 pA dans une bande passante maximale de 200 MHz, avec une fr\u00e9quence d\u2019\u00e9chantillonnage de 1 G\u00e9ch\/s et une dynamique de 14 ou 16 bits, l\u2019analyseur de courant CX3300 de Keysight inaugure une nouvelle cat\u00e9gorie d\u2019instruments qui devrait satisfaire les ing\u00e9nieurs et chercheurs confront\u00e9s \u00e0 des mesures de courants transitoires \u00e0 haut d\u00e9bit pendant les phases de caract\u00e9risation de dispositifs avanc\u00e9s. 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