{"id":202458,"date":"2016-08-03T00:23:30","date_gmt":"2016-08-03T00:23:30","guid":{"rendered":"https:\/\/eenewseurope.artwhere.co\/un-nouvel-analyseur-de-parametres-reduit-la-complexite-de-la-caracterisation-et-accelere-lapprentissage\/"},"modified":"2016-08-03T00:23:30","modified_gmt":"2016-08-03T00:23:30","slug":"un-nouvel-analyseur-de-parametres-reduit-la-complexite-de-la-caracterisation-et-accelere-lapprentissage","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/un-nouvel-analyseur-de-parametres-reduit-la-complexite-de-la-caracterisation-et-accelere-lapprentissage\/","title":{"rendered":"Un nouvel analyseur de param\u00e8tres r\u00e9duit la complexit\u00e9 de la caract\u00e9risation et acc\u00e9l\u00e8re l’apprentissage"},"content":{"rendered":"

Fort du succ\u00e8s de l’analyseur de param\u00e8tres Keithley 4200-SCS, le nouvel instrument 4200A-SCS pr\u00e9sente un design industriel moderne, une nouvelle interface utilisateur et une gamme d’outils extr\u00eamement utiles tels que des vid\u00e9os p\u00e9dagogiques d’experts int\u00e9gr\u00e9es dans l’instrument. Le r\u00e9sultat imm\u00e9diat est la r\u00e9duction des temps de configuration de l\u2019instrument de l\u2019ordre de 50% et un fonctionnement nettement plus facile et plus intuitif. La facilit\u00e9 d’utilisation est particuli\u00e8rement importante pour les applications telles que la recherche dans le domaine du semiconducteur, l’analyse de d\u00e9faillance des composants ou les tests de fiabilit\u00e9 lorsque les instruments sont une ressource partag\u00e9e entre plusieurs utilisateurs.<\/span><\/p>\n

\u00ab L’analyse des param\u00e8tres est essentielle pour caract\u00e9riser les nouveaux composants semiconducteurs et les mat\u00e9riaux, ou encore pour tester la fiabilit\u00e9 des dispositifs avant leur utilisation commerciale. Toutefois, les chercheurs peuvent n’avoir besoin d’effectuer ces tests que de mani\u00e8re non r\u00e9guli\u00e8re, ce qui fait qu’ils peuvent avoir des difficult\u00e9s \u00e0 ma\u00eetriser l’utilisation des instruments de tests param\u00e9triques, \u00bb a d\u00e9clar\u00e9 Mike Flaherty, directeur g\u00e9n\u00e9ral de  la gamme de produits Keithley chez Tektronix. \u00ab Voil\u00e0 pourquoi nous nous sommes donn\u00e9 tant de mal pour rendre le 4200A-SCS exceptionnellement facile \u00e0 param\u00e9trer et \u00e0 prendre en mains, m\u00eame pour des utilisateurs sans exp\u00e9rience. \u00bb<\/span><\/p>\n

Un nouveau module de commutation<\/span><\/span><\/p>\n

Sachant que la diversit\u00e9 des mesures ajoute un niveau de complexit\u00e9 suppl\u00e9mentaire \u00e0 la recherche sur  les semiconducteurs, Tektronix pr\u00e9sente \u00e9galement un module Keithley de commutation \u00e0 quatre voies IV\/CV 4200A-CVIV. Ce module, con\u00e7u pour \u00eatre utilis\u00e9 avec le ch\u00e2ssis 4200A-SCS, permet  de passer automatiquement des mesures I-V (effectu\u00e9es avec des cartes SMUs)  aux mesures C-V (r\u00e9alis\u00e9es avec une carte CVU) par commutation sans d\u00e9connexion de c\u00e2bles. Les utilisateurs peuvent ainsi d\u00e9placer les mesures C-V vers n’importe quel terminal de dispositif sans soulever les pointes ni connecter \/d\u00e9connecter les c\u00e2bles.<\/span><\/p>\n

Avec un nouvel \u00e9cran haute d\u00e9finition, le 4200A-SCS offre plus d’espace pour les tests interactifs et l’exp\u00e9rimentation. Cet \u00e9cran est coupl\u00e9 avec une toute nouvelle interface utilisateur qui offre un fonctionnement intuitif dont ont besoin les utilisateurs occasionnels, tout en proposant en m\u00eame temps les fonctionnalit\u00e9s avanc\u00e9es exig\u00e9es par les utilisateurs experts. La nouvelle interface utilisateur comprend des vid\u00e9os d’experts qui transmettent la connaissance et l’exp\u00e9rience des ing\u00e9nieurs d’application Keithley du monde entier. Ces vid\u00e9os r\u00e9duisent la courbe d’apprentissage de l’utilisateur et l’aident \u00e0 r\u00e9soudre les probl\u00e8mes lorsque surviennent des r\u00e9sultats inattendus, tout en renfor\u00e7ant sa confiance dans les r\u00e9sultats qu’il observe.<\/span><\/p>\n

Comme l’instrument qu’il remplace, le 4200A-SCS est un analyseur de param\u00e8tres modulaire et enti\u00e8rement int\u00e9gr\u00e9 qui effectue la caract\u00e9risation \u00e9lectrique de mat\u00e9riaux, de composants semi-conducteurs et des process. Compos\u00e9 d’unit\u00e9s de source et mesure (SMU) pour la caract\u00e9risation I-V, d’un module de capacit\u00e9-tension pour les mesures d’imp\u00e9dance AC et d’une unit\u00e9 de mesure d’impulsion ultra-rapide pour les mesures I-V en mode puls\u00e9, la capture de signaux et les mesures d’I-V en mode transitoire, le 4200A-SCS mesure les param\u00e8tres critiques dont les chercheurs ou les ing\u00e9nieurs ont besoin pour l’\u00e9tudes des mat\u00e9riaux, la conception, le d\u00e9veloppement et la production de dispositifs \u00e0 semiconducteurs.<\/span><\/p>\n

www.tek.com\/parameter-analyzer.<\/span><\/a><\/span><\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

Tektronix a pr\u00e9sent\u00e9 l’analyseur de param\u00e8tres personnalisable et totalement int\u00e9gr\u00e9 Keithley 4200A-SCS, qui acc\u00e9l\u00e8re l’analyse dans le domaine des semiconducteurs, des mat\u00e9riaux et des process en r\u00e9duisant la complexit\u00e9 de la caract\u00e9risation pour les utilisateurs n\u00e9ophytes ou occasionnels. 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