La plupart des syst\u00e8mes ATE traditionnels ne permet plus d\u2019assurer la couverture des tests n\u00e9cessaires \u00e0 la validation des semi-conducteurs actuels. En appliquant \u00e0 la plate-forme PXI ouverte du Semiconductor Test System (STS) les mod\u00e8les th\u00e9oriques propres au test num\u00e9rique mis en pratique dans l\u2019industrie du semi-conducteur \u2013 et en fournissant aux utilisateurs un utilitaire d\u2019\u00e9dition et de mise au point de patterns facile \u00e0 prendre en main \u2013, NI parvient \u00e0 fournir des instruments PXI sophistiqu\u00e9s capables d\u2019augmenter le volume de production de circuits int\u00e9gr\u00e9s analogiques et sans fil, tout en r\u00e9duisant le co\u00fbt des tests.<\/p>\n
\u00ab L\u2019instrument de patterns num\u00e9riques au format PXI apporte une r\u00e9elle valeur ajout\u00e9e au STS car il pr\u00e9sente des capacit\u00e9s num\u00e9riques \u00e9quivalentes \u00e0 celles de plates-formes de test num\u00e9rique haut de gamme \u00bb, explique Ron Wolfe, Vice-pr\u00e9sident du test de semi-conducteurs chez NI. \u00ab En production, ces nouvelles capacit\u00e9s PXI permettent de respecter les contraintes de prix et les exigences de test de dispositifs de pointe, mais aussi de s’adapter rapidement aux autres produits en fabrication. \u00bb<\/p>\n
L\u2019instrument de patterns num\u00e9riques PXIe-6570 fournit les capacit\u00e9s n\u00e9cessaires au test de circuits int\u00e9gr\u00e9s que l’on retrouve g\u00e9n\u00e9ralement dans les appareils sans fil et les \u00e9quipements de l\u2019Internet des objets, \u00e0 un prix par pin abordable. Il ex\u00e9cute des patterns num\u00e9riques jusqu’\u00e0 100 MVecteur\/s avec des moteurs de g\u00e9n\u00e9ration et d’acquisition ind\u00e9pendants et des fonctions param\u00e9triques de tension\/courant pouvant atteindre 256 pins num\u00e9riques synchronis\u00e9es au sein d’un seul et m\u00eame sous-syst\u00e8me. Les utilisateurs peuvent profiter de l’ouverture du PXI et du STS pour ajouter ou supprimer des ressources \u00e0 leur syst\u00e8me selon leurs besoins sp\u00e9cifiques en termes de nombre de pins et de sites de test.<\/p>\n
Le nouveau logiciel Digital Pattern Editor int\u00e8gre des environnements d\u00e9di\u00e9s au mappage de broches, \u00e0 la sp\u00e9cification des instruments et \u00e0 la g\u00e9n\u00e9ration de patterns pour d\u00e9velopper plus rapidement les protocoles de test. Il int\u00e8gre \u00e9galement des outils natifs comme la g\u00e9n\u00e9ration en burst de patterns multi-sites et multi-instruments pour passer ais\u00e9ment du d\u00e9veloppement \u00e0 la production, ainsi que des outils comme le diagramme de Shmoo et un aper\u00e7u interactif des pins pour mettre au point et optimiser les tests plus efficacement.<\/p>\n
Le fait de recourir au mat\u00e9riel PXI, aux logiciels TestStand, LabVIEW et Digital Pattern Editor pour effectuer les tests en phase de caract\u00e9risation et de production r\u00e9duit les efforts de corr\u00e9lation des donn\u00e9es, et donc les d\u00e9lais de mise sur le march\u00e9 des produits. Int\u00e9gr\u00e9 ou non au STS, le mat\u00e9riel PXI, est peu encombrant sur les sites de production et peut \u00eatre install\u00e9 sur une paillasse de laboratoire de caract\u00e9risation en \u00e9tant connect\u00e9 \u00e0 une prise murale standard.<\/p>\n
\u00ab Le PXI est l\u2019une des seules technologies mat\u00e9rielles et logicielles pouvant \u00eatre exploit\u00e9e aussi bien sur site de production qu\u2019en laboratoire de caract\u00e9risation \u00bb, poursuit Ron Wolfe. \u00ab L\u2019instrument de patterns num\u00e9riques de NI et le Digital Pattern Editor constituent une innovation majeure pour aider les fabricants de dispositifs \u00e0 semi-conducteurs et les laboratoires d’essai \u00e0 diminuer le co\u00fbt des tests et \u00e0 am\u00e9liorer le d\u00e9veloppement des programmes de test. \u00bb<\/p>\n
Les soci\u00e9t\u00e9s de semi-conducteurs ont adopt\u00e9 la plate-forme et l’\u00e9cosyst\u00e8me NI pour concevoir des syst\u00e8mes de test plus intelligents compatibles avec plus de 600 produits PXI allant du continu aux ondes millim\u00e9triques (dont la gamme STS pr\u00eate \u00e0 l\u2019emploi, des transcepteurs de signaux vectoriels \u00e0 bande passante1 GHz, des unit\u00e9s de source et mesure dot\u00e9es d’une sensibilit\u00e9 de l’ordre des fA et le module TestStand Semiconductor). Tous ces produits garantissent des d\u00e9bits de donn\u00e9es \u00e9lev\u00e9s par le biais d\u2019interfaces de bus Gen 3 PCI Express et de capacit\u00e9s de synchronisation inf\u00e9rieure \u00e0 la nanoseconde avec cadencement et d\u00e9clenchement int\u00e9gr\u00e9s. Les utilisateurs peuvent tirer parti de la productivit\u00e9 des environnements logiciels LabVIEW et TestStand, ainsi que d\u2019un \u00e9cosyst\u00e8me dynamique de partenaires, d\u2019ing\u00e9nieurs et d\u2019IP compl\u00e9mentaires, pour diminuer le co\u00fbt des tests, r\u00e9duire les d\u00e9lais de mise sur le march\u00e9 et assurer la p\u00e9rennit\u00e9 des testeurs pour satisfaire aux exigences de demain, aussi complexes soient-elles.<\/p>\n