{"id":131062,"date":"2018-02-13T23:25:19","date_gmt":"2018-02-13T23:25:19","guid":{"rendered":"https:\/\/\/tektronix-accelere-les-tests-de-conformite-iem-cem\/"},"modified":"2018-02-13T23:25:19","modified_gmt":"2018-02-13T23:25:19","slug":"tektronix-accelere-les-tests-de-conformite-iem-cem","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/tektronix-accelere-les-tests-de-conformite-iem-cem\/","title":{"rendered":"Tektronix acc\u00e9l\u00e8re les tests de conformit\u00e9 IEM\/CEM"},"content":{"rendered":"

Avec l’arriv\u00e9e de l’Internet des Objets (IdO) et la prolif\u00e9ration de dispositifs \u00e9lectroniques pouvant interf\u00e9rer entre eux, la conception de produits r\u00e9pondant aux exigences d’\u00e9mission CEM est essentielle. Pour de nombreux ing\u00e9nieurs qui commencent \u00e0 travailler sur de nouveaux appareils IdO, les tests IEM\/CEM peuvent \u00eatre intimidants, et les tests de conformit\u00e9 qui \u00e9chouent entra\u00eenent des d\u00e9passements de co\u00fbts et des retards de programmation importants. Les tests de pr\u00e9-conformit\u00e9 r\u00e9duisent les taux de d\u00e9faillance, mais introduisent \u00e9galement des d\u00e9fis tels que la mise en place difficile et on\u00e9reuse d’\u00e9quipement, la pr\u00e9cision des tests, le d\u00e9bogage p\u00e9nible et l’absence d’outils de reporting.<\/p>\n

Solution IEM\/CEM de Tektronix<\/b>
\nLes analyseurs de spectre USB en temps r\u00e9el de Tektronix, notamment le RSA306B<\/a>, extr\u00eamement abordable, offrent les performances des instruments de bureau traditionnels moyennant une fraction du co\u00fbt de ces derniers. Aliment\u00e9s par une connexion USB, les analyseurs de spectre USB en temps r\u00e9el de Tektronix, de tr\u00e8s petite taille, facilitent les tests IEM\/CEM en dehors de l’environnement de laboratoire dans des milieux relativement peu bruyants, tels que les sous-sols ou des garages de stationnement.
\nLes instruments sont contr\u00f4l\u00e9s par un logiciel SignalVu-PC qui fonctionne sur ordinateur portable ou sur tablette. Pour cette application, SignalVu-PC a \u00e9t\u00e9 am\u00e9lior\u00e9 avec le logiciel EMCVu en option pour fournir une capacit\u00e9 de pr\u00e9-conformit\u00e9 et de d\u00e9pannage dans la m\u00eame interface utilisateur. EMCVu comporte un assistant facile \u00e0 apprendre avec prise en charge int\u00e9gr\u00e9e des normes, comme CISPR (Comit\u00e9 International Sp\u00e9cial sur les Interf\u00e9rences Radio), et la s\u00e9lection et la configuration des accessoires par simple pression d’un bouton. Il facilite \u00e9galement le d\u00e9bogage gr\u00e2ce \u00e0 la capture automatique du bruit ambiant, \u00e0 la remesure des d\u00e9faillances multiples et aux marqueurs d’harmoniques pour une analyse approfondie. Les utilisateurs peuvent facilement enregistrer les r\u00e9sultats de l’exp\u00e9rience avec des notes et des images dans un rapport configurable au format PDF ou RTF.
\nL’analyseur de spectre et le logiciel sont accompagn\u00e9s d’un ensemble complet d’accessoires qui ont tous \u00e9t\u00e9 soigneusement s\u00e9lectionn\u00e9s et \u00e9valu\u00e9s pour maximiser l’efficacit\u00e9 des tests. Pour garantir des r\u00e9sultats pr\u00e9cis et permettre aux utilisateurs de gagner du temps, la perte ou le gain des diff\u00e9rents accessoires a d\u00e9j\u00e0 \u00e9t\u00e9 captur\u00e9(e) dans le logiciel et est pris(e) en compte lors des mesures.<\/p>\n

\u00ab La conformit\u00e9 \u00e0 la norme CEM commence par une conception, un routage de carte et une s\u00e9lection des composants optimales, mais m\u00eame dans les meilleures circonstances, le test de conformit\u00e9 peut \u00eatre un pari s’il n’y a pas eu test de conformit\u00e9, \u00bb a d\u00e9clar\u00e9 Kenneth Wyatt, consultant principal chez Wyatt Technical Services.<\/a> et expert en conformit\u00e9 CEM. \u00ab J’applaudis ce que Tektronix fait avec EMCVu pour rendre les tests de pr\u00e9-conformit\u00e9 plus accessibles \u00e0 davantage d’ing\u00e9nieurs, m\u00eame ceux qui ne poss\u00e8dent pas une expertise CEM approfondie. \u00bb<\/p>\n

\u00ab Les tests de conformit\u00e9 CEM peuvent repr\u00e9senter un d\u00e9fi m\u00eame pour la meilleure \u00e9quipe de conception. Soit vous r\u00e9ussissez vos tests CEM, soit vous ne pouvez pas livrer votre produit. C’est aussi simple que cela, \u00bb a expliqu\u00e9 Jon Baldwin, vice-pr\u00e9sident et directeur g\u00e9n\u00e9ral de la division Wideband Solutions de Tektronix. \u00ab Chez Tek, nous nous concentrons sur la fa\u00e7on d’aider nos clients \u00e0 acc\u00e9l\u00e9rer leur d\u00e9lai de mise sur le march\u00e9. Nous leur avons mis entre les mains une solution qui transforme les tests de conformit\u00e9 CEM. Autrefois un obstacle majeur potentiel, ils sont d\u00e9sormais r\u00e9duits \u00e0 une simple case \u00e0 cocher pour l’ing\u00e9nieur. \u00bb<\/p>\n

https:\/\/www.tek.com\/application\/electromagnetic-interference-emi-and-electromagnetic-compatibility-emc<\/a><\/p>\n

 <\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

D\u2019apr\u00e8s le livre blanc Intertek \u00ab\u00a0Pourquoi 50% des produits \u00e9chouent aux premiers tests CEM\u00a0\u00bb, environ 50% des produits ne r\u00e9pondraient pas aux tests de compatibilit\u00e9 \u00e9lectromagn\u00e9tique dans l’environnement de conception \u00e9lectronique d’aujourd’hui. C\u2019est pourquoi la solution EMCVu propos\u00e9e par Tektronix offre aux ing\u00e9nieurs une approche pr\u00e9cise, pratique et rentable pour d\u00e9terminer si leurs conceptions de produits passeront les tests de conformit\u00e9 en mati\u00e8re d’\u00e9missions CEM avec succ\u00e8s d\u00e8s le premier essai.<\/p>\n","protected":false},"author":9,"featured_media":131063,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[881],"tags":[],"domains":[47],"ppma_author":[1141],"class_list":["post-131062","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-nouveaux-produits","domains-electronique-eci"],"acf":[],"yoast_head":"Tektronix acc\u00e9l\u00e8re les tests de conformit\u00e9 IEM\/CEM ...<\/title>\n<meta name=\"description\" content=\"D\u2019apr\u00e8s le livre blanc Intertek \u00ab\u00a0Pourquoi 50% des produits \u00e9chouent aux premiers tests CEM\u00a0\u00bb, environ 50% des produits ne r\u00e9pondraient pas aux...\" \/>\n<meta name=\"robots\" content=\"index, follow, max-snippet:-1, max-image-preview:large, max-video-preview:-1\" \/>\n<link rel=\"canonical\" href=\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/131062\/\" \/>\n<meta property=\"og:locale\" content=\"fr_FR\" \/>\n<meta property=\"og:type\" content=\"article\" \/>\n<meta property=\"og:title\" content=\"Tektronix acc\u00e9l\u00e8re les tests de conformit\u00e9 IEM\/CEM\" \/>\n<meta property=\"og:description\" content=\"D\u2019apr\u00e8s le livre blanc Intertek \u00ab\u00a0Pourquoi 50% des produits \u00e9chouent aux premiers tests CEM\u00a0\u00bb, environ 50% des produits ne r\u00e9pondraient pas aux tests de compatibilit\u00e9 \u00e9lectromagn\u00e9tique dans l'environnement de conception \u00e9lectronique d'aujourd'hui. 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