{"id":101452,"date":"2018-12-04T23:31:44","date_gmt":"2018-12-04T23:31:44","guid":{"rendered":"https:\/\/\/pour-un-developpement-plus-intelligent-et-plus-rapide-des-tests-jtag\/"},"modified":"2018-12-04T23:31:44","modified_gmt":"2018-12-04T23:31:44","slug":"pour-un-developpement-plus-intelligent-et-plus-rapide-des-tests-jtag","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/pour-un-developpement-plus-intelligent-et-plus-rapide-des-tests-jtag\/","title":{"rendered":"Pour un d\u00e9veloppement plus intelligent et plus rapide des tests JTAG"},"content":{"rendered":"

Cette derni\u00e8re version offre un d\u00e9bogage plus intelligent, une programmation plus fluide et une meilleure analyse de la couverture de test. La mani\u00e8re dont les donn\u00e9es sont visualis\u00e9es est mieux contr\u00f4l\u00e9e, car les d\u00e9tails relatifs au fonctionnement des blocs logiques et les donn\u00e9es enregistr\u00e9es sur les broches sont plus facilement visibles.<\/p>\n

Les principales am\u00e9liorations de XJTAG v3.8 sont donc les suivantes :<\/u><\/p>\n

1. D\u00e9bogage visuel avec Waveform Viewer<\/p>\n

Bien que le \u00ab Waveform Viewer \u00bb ait d\u00e9j\u00e0 fourni des informations sur le comportement des circuits dans XJAnalyser (outil d\u2019analyse visuelle et de debogage de circuit), il est d\u00e9sormais disponible avec XJDeveloper, l\u2019environnement de d\u00e9veloppement des tests pour faciliter le d\u00e9bogage.<\/p>\n

Les valeurs des broches lues ou contr\u00f4l\u00e9es dans XJEase (langage haut niveau de description de test) peuvent \u00eatre affich\u00e9es dans le \u00ab Waveform Viewer \u00bb d\u2019XJTAG. Cela offre une nouvelle fa\u00e7on de visualiser ce que fait le syst\u00e8me de test et comment il enregistre les erreurs d\u00e9tect\u00e9es. La forme d’onde d\u00e9taill\u00e9e des valeurs des broches affich\u00e9es dans le \u00ab Waveform Viewer \u00bb facilite non seulement le d\u00e9bogage du code de d\u00e9veloppement des tests, mais peut \u00e9galement \u00eatre compar\u00e9e aux diagrammes temporels de la fiche technique. En cons\u00e9quence, il est facile de diagnostiquer les d\u00e9fauts et de localiser les erreurs. Cette analyse cibl\u00e9e des signaux permet un examen d\u00e9taill\u00e9 de tout comportement inattendu de mani\u00e8re claire et visuelle.<\/p>\n

2. Fonctionnement du \u00ab Layout viewer \u00bb plus fluide<\/p>\n

Le \u00ab Layout viewer \u00bb (module de visualisation du layout disposnible sur tous les outils XJTAG) a maintenant des temps de chargement plus rapides : les fichiers de projet peuvent \u00eatre ouverts plus rapidement et la navigation est plus fluide. La r\u00e9solution visuelle est plus nette, ce qui aide les ing\u00e9nieurs \u00e0 cibler rapidement les d\u00e9fauts potentiels. Un bonus suppl\u00e9mentaire concerne le gain d\u2019efficacit\u00e9 li\u00e9 \u00e0 la taille du fichier. en effeet, la taille des fichiers XJPack (qui contiennent des informations sur le Layout Viewer) a \u00e9t\u00e9 r\u00e9duite, mais il est bien sur toujours possible d’ouvrir des fichiers XJPack plus anciens.<\/p>\n

3. Meilleure compr\u00e9hension de la couverture du test<\/p>\n

La couverture de test peut \u00eatre mieux comprise car elle est retrac\u00e9e plus pr\u00e9cis\u00e9ment \u00e0 sa source. XJDeveloper montre maintenant l’impact direct d’activer ou de d\u00e9sactiver un ou plusieurs tests.<\/p>\n

La couverture de test actuelle d’un projet particulier peut \u00eatre compar\u00e9e \u00e0 sa couverture de test potentielle. Par cons\u00e9quent, il est possible de savoir o\u00f9 la couverture doit \u00eatre \u00e9tendue, ce qui est une information essentielle pour obtenir la meilleure couverture de test possible. XJTAG 3.8 permet aussi d\u00e9sormais d\u2019\u00e9valuer la couverture de d\u00e9fauts en utilisant l\u2019approche standard de reporting PCOLA \/ SOQ.<\/p>\n

L’impact de XJTAG v3.8<\/u><\/p>\n

Avec XJTAG v3.8, non seulement les programmeurs, mais aussi les ing\u00e9nieurs Hardware peuvent facilement visualiser le comportement des circuits \u00e0 l’aide du \u00ab Waveform Viewer \u00bb. Ils peuvent gagner du temps en rep\u00e9rant les d\u00e9fauts avec plus de d\u00e9tails, en naviguant de mani\u00e8re intuitive dans le \u00ab Layout Viewer \u00bb et en \u00e9valuant la couverture de test avec pr\u00e9cision. <\/p>\n

XJTAG v3.8 offre \u00e0 pr\u00e9sent une approche de d\u00e9veloppement de test plus intelligente et plus rapide, gr\u00e2ce \u00e0 un contr\u00f4le accru de la manipulation et de la pr\u00e9sentation des donn\u00e9es de test.<\/p>\n

www.xjtag.com<\/a><\/p>\n

www.isit.fr<\/a><\/p>\n

ISIT compl\u00e8te son offre de programmateurs In Situ <\/a><\/h3>\n

SMH Technologies supporte la famille Infineon Tricore AURIX sur les programmateurs FlashRunners<\/a><\/h3>\n

ISIT propose une formation inter-entreprise d\u00e9di\u00e9e au \u00ab Noyau Temps R\u00e9el Multit\u00e2ches – FreeRTOS \u00bb<\/a><\/h3>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

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