{"version":"1.0","provider_name":"EENewsEurope","provider_url":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/","author_name":"Alain Dieul","author_url":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/author\/alaindieul\/","title":"Tektronix simplifie les tests d'efficacit\u00e9 \u00e9nerg\u00e9tique","type":"rich","width":600,"height":338,"html":"<blockquote class=\"wp-embedded-content\" data-secret=\"xePrSMpZHl\"><a href=\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/tektronix-simplifie-les-tests-defficacite-energetique\/\">Tektronix simplifie les tests d&rsquo;efficacit\u00e9 \u00e9nerg\u00e9tique<\/a><\/blockquote><iframe sandbox=\"allow-scripts\" security=\"restricted\" src=\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/tektronix-simplifie-les-tests-defficacite-energetique\/embed\/#?secret=xePrSMpZHl\" width=\"600\" height=\"338\" title=\"\u00ab\u00a0Tektronix simplifie les tests d&rsquo;efficacit\u00e9 \u00e9nerg\u00e9tique\u00a0\u00bb &#8212; EENewsEurope\" data-secret=\"xePrSMpZHl\" frameborder=\"0\" marginwidth=\"0\" marginheight=\"0\" scrolling=\"no\" class=\"wp-embedded-content\"><\/iframe><script type=\"text\/javascript\">\n\/* <![CDATA[ *\/\n\/*! This file is auto-generated *\/\n!function(d,l){\"use strict\";l.querySelector&&d.addEventListener&&\"undefined\"!=typeof URL&&(d.wp=d.wp||{},d.wp.receiveEmbedMessage||(d.wp.receiveEmbedMessage=function(e){var t=e.data;if((t||t.secret||t.message||t.value)&&!\/[^a-zA-Z0-9]\/.test(t.secret)){for(var s,r,n,a=l.querySelectorAll('iframe[data-secret=\"'+t.secret+'\"]'),o=l.querySelectorAll('blockquote[data-secret=\"'+t.secret+'\"]'),c=new RegExp(\"^https?:$\",\"i\"),i=0;i<o.length;i++)o[i].style.display=\"none\";for(i=0;i<a.length;i++)s=a[i],e.source===s.contentWindow&&(s.removeAttribute(\"style\"),\"height\"===t.message?(1e3<(r=parseInt(t.value,10))?r=1e3:~~r<200&&(r=200),s.height=r):\"link\"===t.message&&(r=new URL(s.getAttribute(\"src\")),n=new URL(t.value),c.test(n.protocol))&&n.host===r.host&&l.activeElement===s&&(d.top.location.href=t.value))}},d.addEventListener(\"message\",d.wp.receiveEmbedMessage,!1),l.addEventListener(\"DOMContentLoaded\",function(){for(var e,t,s=l.querySelectorAll(\"iframe.wp-embedded-content\"),r=0;r<s.length;r++)(t=(e=s[r]).getAttribute(\"data-secret\"))||(t=Math.random().toString(36).substring(2,12),e.src+=\"#?secret=\"+t,e.setAttribute(\"data-secret\",t)),e.contentWindow.postMessage({message:\"ready\",secret:t},\"*\")},!1)))}(window,document);\n\/* ]]> *\/\n<\/script>\n","thumbnail_url":"https:\/\/www.ecinews.fr\/wp-content\/uploads\/import\/default\/files\/sites\/default\/files\/images\/eci8217_tektronix-scaled.jpg","thumbnail_width":2560,"thumbnail_height":1807,"description":"Tektronix, Inc. a annonc\u00e9 la disponibilit\u00e9 d'un nouveau plug-in logiciel pour son g\u00e9n\u00e9rateur de fonction arbitraire AFG31000, qui permet d'effectuer des tests cruciaux \u00e0 double impulsion en moins d'une minute, ce qui permet un gain de temps significatif par rapport aux autres m\u00e9thodes. Avec le nouveau logiciel de test \u00e0 double impulsion, les ing\u00e9nieurs peuvent rapidement d\u00e9finir les param\u00e8tres d'impulsion \u00e0 partir d'une seule fen\u00eatre sur le grand \u00e9cran tactile de l'AFG31000, puis g\u00e9n\u00e9rer les impulsions n\u00e9cessaires \u00e0 l'ex\u00e9cution des tests, le tout en moins d'une minute. L'application offre un ajustement d'imp\u00e9dance de la largeur d'impulsion et de l'intervalle de temps entre chaque impulsion, jusqu'\u00e0 30 impulsions. La largeur des impulsions peut aller de 20 ns \u00e0 150 \u00b5s."}