{"version":"1.0","provider_name":"EENewsEurope","provider_url":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/","author_name":"eeNews Europe","author_url":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/author\/eenews-europe\/","title":"SourceMeter orient\u00e9 sur le test des semi-conducteurs de puissance","type":"rich","width":600,"height":338,"html":"<blockquote class=\"wp-embedded-content\" data-secret=\"7ObnRv6kxn\"><a href=\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/sourcemeter-oriente-sur-le-test-des-semi-conducteurs-de-puissance\/\">SourceMeter orient\u00e9 sur le test des semi-conducteurs de puissance<\/a><\/blockquote><iframe sandbox=\"allow-scripts\" security=\"restricted\" src=\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/sourcemeter-oriente-sur-le-test-des-semi-conducteurs-de-puissance\/embed\/#?secret=7ObnRv6kxn\" width=\"600\" height=\"338\" title=\"\u00ab\u00a0SourceMeter orient\u00e9 sur le test des semi-conducteurs de puissance\u00a0\u00bb &#8212; EENewsEurope\" data-secret=\"7ObnRv6kxn\" frameborder=\"0\" marginwidth=\"0\" marginheight=\"0\" scrolling=\"no\" class=\"wp-embedded-content\"><\/iframe><script type=\"text\/javascript\">\n\/* <![CDATA[ *\/\n\/*! This file is auto-generated *\/\n!function(d,l){\"use strict\";l.querySelector&&d.addEventListener&&\"undefined\"!=typeof URL&&(d.wp=d.wp||{},d.wp.receiveEmbedMessage||(d.wp.receiveEmbedMessage=function(e){var t=e.data;if((t||t.secret||t.message||t.value)&&!\/[^a-zA-Z0-9]\/.test(t.secret)){for(var s,r,n,a=l.querySelectorAll('iframe[data-secret=\"'+t.secret+'\"]'),o=l.querySelectorAll('blockquote[data-secret=\"'+t.secret+'\"]'),c=new RegExp(\"^https?:$\",\"i\"),i=0;i<o.length;i++)o[i].style.display=\"none\";for(i=0;i<a.length;i++)s=a[i],e.source===s.contentWindow&&(s.removeAttribute(\"style\"),\"height\"===t.message?(1e3<(r=parseInt(t.value,10))?r=1e3:~~r<200&&(r=200),s.height=r):\"link\"===t.message&&(r=new URL(s.getAttribute(\"src\")),n=new URL(t.value),c.test(n.protocol))&&n.host===r.host&&l.activeElement===s&&(d.top.location.href=t.value))}},d.addEventListener(\"message\",d.wp.receiveEmbedMessage,!1),l.addEventListener(\"DOMContentLoaded\",function(){for(var e,t,s=l.querySelectorAll(\"iframe.wp-embedded-content\"),r=0;r<s.length;r++)(t=(e=s[r]).getAttribute(\"data-secret\"))||(t=Math.random().toString(36).substring(2,12),e.src+=\"#?secret=\"+t,e.setAttribute(\"data-secret\",t)),e.contentWindow.postMessage({message:\"ready\",secret:t},\"*\")},!1)))}(window,document);\n\/* ]]> *\/\n<\/script>\n","thumbnail_url":"https:\/\/www.ecinews.fr\/wp-content\/uploads\/import\/default\/files\/import\/eci2039_keithley-couv--1024x1024.jpg","thumbnail_width":1024,"thumbnail_height":1024,"description":"Sp\u00e9cialement \u00e9tudi\u00e9 pour la caract\u00e9risation des composants \u00e9lectroniques de puissance, le mod\u00e8le 2651A de Keithley Instruments offre la gamme de courants la plus \u00e9tendue que l'on puisse trouver actuellement dans l'industrie. Cette large gamme est en effet tr\u00e8s critique pour une grande vari\u00e9t\u00e9 d'applications en R&amp;D, fiabilit\u00e9 et tests en production, comme par exemple le test de high brightness LEDs (HBLELED), le test des semi-conducteurs de puissance, des convertisseurs DC-DC, des batteries et autres \u00e9l\u00e9ments de puissance, les composants \u00e9lectroniques, les modules et sous ensembles."}