{"version":"1.0","provider_name":"EENewsEurope","provider_url":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/","author_name":"Alain Dieul","author_url":"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/author\/alaindieul\/","title":"Solution PCI Express compatible avec les tests Gen5","type":"rich","width":600,"height":338,"html":"<blockquote class=\"wp-embedded-content\" data-secret=\"sgUGIdgYe5\"><a href=\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/solution-pci-express-compatible-avec-les-tests-gen5\/\">Solution PCI Express compatible avec les tests Gen5<\/a><\/blockquote><iframe sandbox=\"allow-scripts\" security=\"restricted\" src=\"https:\/\/www.ecinews.fr\/fr\/solution-pci-express-compatible-avec-les-tests-gen5\/embed\/#?secret=sgUGIdgYe5\" width=\"600\" height=\"338\" title=\"\u00ab\u00a0Solution PCI Express compatible avec les tests Gen5\u00a0\u00bb &#8212; EENewsEurope\" data-secret=\"sgUGIdgYe5\" frameborder=\"0\" marginwidth=\"0\" marginheight=\"0\" scrolling=\"no\" class=\"wp-embedded-content\"><\/iframe><script type=\"text\/javascript\">\n\/* <![CDATA[ *\/\n\/*! This file is auto-generated *\/\n!function(d,l){\"use strict\";l.querySelector&&d.addEventListener&&\"undefined\"!=typeof URL&&(d.wp=d.wp||{},d.wp.receiveEmbedMessage||(d.wp.receiveEmbedMessage=function(e){var t=e.data;if((t||t.secret||t.message||t.value)&&!\/[^a-zA-Z0-9]\/.test(t.secret)){for(var s,r,n,a=l.querySelectorAll('iframe[data-secret=\"'+t.secret+'\"]'),o=l.querySelectorAll('blockquote[data-secret=\"'+t.secret+'\"]'),c=new RegExp(\"^https?:$\",\"i\"),i=0;i<o.length;i++)o[i].style.display=\"none\";for(i=0;i<a.length;i++)s=a[i],e.source===s.contentWindow&&(s.removeAttribute(\"style\"),\"height\"===t.message?(1e3<(r=parseInt(t.value,10))?r=1e3:~~r<200&&(r=200),s.height=r):\"link\"===t.message&&(r=new URL(s.getAttribute(\"src\")),n=new URL(t.value),c.test(n.protocol))&&n.host===r.host&&l.activeElement===s&&(d.top.location.href=t.value))}},d.addEventListener(\"message\",d.wp.receiveEmbedMessage,!1),l.addEventListener(\"DOMContentLoaded\",function(){for(var e,t,s=l.querySelectorAll(\"iframe.wp-embedded-content\"),r=0;r<s.length;r++)(t=(e=s[r]).getAttribute(\"data-secret\"))||(t=Math.random().toString(36).substring(2,12),e.src+=\"#?secret=\"+t,e.setAttribute(\"data-secret\",t)),e.contentWindow.postMessage({message:\"ready\",secret:t},\"*\")},!1)))}(window,document);\n\/* ]]> *\/\n<\/script>\n","thumbnail_url":"https:\/\/www.ecinews.fr\/wp-content\/uploads\/import\/default\/files\/sites\/default\/files\/images\/eci8334_anritsu.jpg","thumbnail_width":420,"thumbnail_height":277,"description":"Compatible avec la sp\u00e9cification de cinqui\u00e8me g\u00e9n\u00e9ration Gen5, la solution de test PCI Express d\u2019Anritsu s\u2019appuie sur l\u2019analyseur de qualit\u00e9 du signal s\u00e9rie MP1900A combin\u00e9 avec un logiciel d\u2019automatisation pour la calibration et un logiciel de mesure BER compatible avec le filtre SKP. Il est d\u00e9sormais bien plus facile de configurer un environnement de mesure appropri\u00e9 au standard PCI Express 5.0, acc\u00e9l\u00e9rant ainsi les \u00e9tapes de d\u00e9veloppement des composants et modules conformes \u00e0 cette nouvelle version de la sp\u00e9cification."}